用于检查或校准高精度试件的角相关对准的设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于检查或校准高精度试件（１）上的基准结构的角相关对准的设备。该设备包括：底座（２）；保持件（３），其安装成可围绕保持件轴线（４）转动，用于保持试件（１）；和测量件（５），具有测量件轴承单元（６），用于围绕测量件轴线（７）可转动地安装测量件（５）。光学单元（８）安装在测量件（５）上，用于接收至少一个试件光束（１０、１０ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０ｄ），该试件光束与试件（１）上的基准结构交互作用并主要在测量平面（１１）中行进。测量件轴承单元（６）设置在测量平面（１１）的一侧或设在测量平面（１１）内。测量件（５）包括大部分关于测量件轴线（７）轴向对称并包围或围绕测量件轴线（７）与保持件轴线（４）在测量平面（１１）上的交点、从而也包围或围绕试件（１）的基本形状。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种用于检查或校准高精度试件的角相关对准(angle-dependent alignment)的设备。
技术介绍
需要精度很高的检查或校准设备来检查或校准高精度部件，该高精度部件或者用于高精度测量，以低至小于0.5″或0.15mgon的精度检查或规定角度，或者通常需要高精度的角度定向，所述检查或校准设备的精度必须高于待检查或待校准的高精度试件的精度。在现有技术中公开了不同的设备和方法，特别是用于检查或校准经纬仪，在该经纬仪中通过(例如静态或动态)分度来确定水平角和垂直角。在已知时间相对较长的传统经纬仪分度测试方法中，将关于测量点周围分布的多个固定准直仪与自固定点的经纬仪望远镜手动瞄准。将在围绕试件圆周的不同点处测量的角度差的不变性用作角度测量的水平精度的量度标准。为了得到测量的垂直精度，将准直仪角度差与基准值比较。执行这种分度圆测试方法的分度圆检查仪是已知的(例如来自F.W.Breithaupt & Sohn的PRUTE和PRUFO设备)。这种方法大致符合根据ISO标准17123-3(光学和光学仪器.大地测量现场测量程序及测绘仪器)的测试方法，但是其本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检查或校准高精度试件（１）的基准结构的角相关对准的设备，包括：.底座（２、２ａ、２ｂ）.保持部分（３），用于保持所述试件（１），该保持部分（３）安装成可相对于所述底座（２、２ａ、２ｂ）围绕保持部分轴线（４）转动，并且 可以测量该保持部分围绕所述保持部分轴线（４）在所述底座（２、２ａ、２ｂ）与所述保持部分（３）之间的转动角，.测量部分（５、５ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄ），其具有测量部分轴承单元（６、６ａ），该轴承单元（６、６ａ）用于将所述测量部分（５、５ ａ、５ｂ、５ｃ、５ｄ）安装成可相对于所述底座（２、２ａ、２ｂ）围绕与所述保持部分轴线（４）成直角...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：海因茨利普纳，
申请(专利权)人：莱卡地球系统公开股份有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]