【技术实现步骤摘要】
一种电子芯片辐照试验专用箱
本技术涉及辐照试验专用箱，尤其涉及一种电子芯片辐照试验专用箱。
技术介绍
由于，在电子芯片尤其航天芯片的生产工艺，需要钴-60辐照试验，来测试其可靠性，但是，由于钴-60具有辐射性，需要在做实验时，将要辐照的芯片放入其中，然后置于钴-60辐照场中进行辐照试验，在现有技术中，只是利用了钴-60进行辐照，但是还没有对于航天芯片收到钴-60的受辐照的剂量进行控制。
技术实现思路
本技术的目的是根据上述现有技术的不足之处，本技术实现了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；所述的支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在所述的支撑架的上方固定所述的物料板；在所述的物料板的两侧设置所述的角铁架；在所述的角铁架与下方的所述的支撑架之间固定一斜撑；在所述的角铁架的上方设置所述的铅板。进一步，所述的铅板的材料为纯铅，所述铅板的厚度为20mm-500mm。进一步，所述的物料板呈L形；所述的物料板的两侧侧依靠在所述的角铁架的一侧固定。进一步，所述的支柱材料为方管。进一步，所述的物料板的材料为304不锈钢。本技术的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴-60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴-60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。附图说明图1是本技术的立体示意图。图2是本技术的主视图。图3是本技术的左视图。具...
【技术保护点】
1.一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；所述的支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在所述的支撑架的上方固定所述的物料板；在所述的物料板的两侧设置所述的角铁架；在所述的角铁架与下方的所述支撑架之间固定一斜撑；在所述的角铁架的上方设置所述的铅板。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；所述的支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在所述的支撑架的上方固定所述的物料板；在所述的物料板的两侧设置所述的角铁架；在所述的角铁架与下方的所述支撑架之间固定一斜撑；在所述的角铁架的上方设置所述的铅板。
2.如权利要求1所述的一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，所述的铅板的材料为纯铅，所述铅板的厚度为...
【专利技术属性】
技术研发人员：秦贤军，顾家明，蔡锡明，
申请(专利权)人：上海世龙科技有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
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