【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，尤其涉及一种调试、测试类的工装型装置，特别是一种镀层厚度测量仪标定装置。
技术介绍
现有技术中，在生产镀层厚度测量仪时采用试片为中间介质对仪器进行调试，其中有许多缺点(1)试片的规格不全，在实际工作中不可能配齐多种规格的试片，比如小于20μm的试片。(2)试片的精度不高，测试用的试片一般采用PC薄膜或酚醛类的层压板。由于生产的局限，这类薄膜层压板的厚薄、均匀度不理想。在25×45mm大的试片中可用范围只有Φ15的面积。薄膜试片精度不高的原因是经多次测试后厚度变化。以上的不足给涂层测试仪的生产调试和标定带来极大的不便，产品调试的重复性不好，往往一台仪器要经过多次的标定才能符合技术标准。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种镀层厚度测量仪标定装置，所述的这种镀层厚度测量仪标定装置要解决现有技术中利用试片调试镀层厚度测量仪器效果不理想的技术问题。本技术的这种镀层厚度测量仪标定装置由底座、传感器、基块和数显千分表构成，其中，所述的数显千分表和所述的传感器分别设置在所述的底座的上部的两端，所述的传感器的前端设置有螺杆，所述的螺杆上设置有细牙螺纹，所述的基块一端与所述的传感器接触设置，所述的基块的另一端与所述的数显千分表接触设置，所述的基块的内侧设置有压簧。进一步的，所述的螺杆顶部设置有旋钮。进一步的，所述的数显千分表的轴向与所述的底座的平面平行。进一步的，所述的数显千分表轴向与所述的基块呈90度角。本技术与已有技术相对照，效果是积极且明显的。本技术以空气为介质，通过变更传感器与基块的距离来标定产品的刻度值，从根本上改变了用试片标定仪器的方法，本...
【技术保护点】
一种镀层厚度测量仪标定装置，由底座、传感器、基块和数显千分表构成，其特征在于：所述的数显千分表和所述的传感器分别设置在所述的底座的上部的两端，所述的传感器的前端设置有螺杆，所述的螺杆上设置有细牙螺纹，所述的基块一端与所述的传感器接触设置，所述的基块的另一端与所述的数显千分表接触设置，所述的基块的内侧设置有压簧。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：庄琴芳，
申请(专利权)人：上海华阳检测仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]
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