厚度测量装置制造方法及图纸

技术编号:2516988 阅读:171 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及一种厚度测量装置,包括机架,机架上设有检测辊及正对靠近检测辊的测量探头,该测量探头包括固定支架、设于固定支架上的活动支架、设于固定支架及活动支架之间的弹性元件、设于活动支架上并正对检测辊的滚轮、设于固定支架上的测厚传感器,该测厚传感器连接一可编程序逻辑控制器,且可编程序逻辑控制器与输出设备相连。机架上还设有驱动测量探头沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动的驱动装置。该驱动装置包括线性模组及伺服电机。利用滚轮弹性压在待测物上,可实时无间隙地测量厚度,且由可编程序逻辑控制器运算、比较数据并输出结果,测量精度高;此外,测量探头可垂直于待测物运动方向往复运动,而能测量待测物各处厚度。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种厚度测量装置,尤其涉及一种能进行实时厚度测量的厚度测量装置。
技术介绍
在线测厚技术被广泛应用于橡胶、塑料、纺织、造纸、金属板材等生产领域,随着科技的发展、产品的更新换代,元件的精度对产品性能的影响越来越大,因此对厚度测量装置的要求愈来愈高。在锂电池制造领域,其电池极片的厚度、厚度的一致性对电池的综合性能有很大影响,因此,在电池制造过程中,极片的厚度控制显得尤为重要。目前,极片厚度测量方法主要有两种1、操作员用千分尺在流水线上对运动的极片进行间断测量,这种测量方法不能连续测量,另外由于测量是在运动过程中完成,所以测量精确度不理想;2、在极片制造流水线上设置样本裁切机,然后对裁切的样本进行测量,此方法虽能一定周期地对极片厚度进行测量,但仍然不能实时测量,更重要的,如果裁切周期过短,即导致裁切的样本较多,对极片的破坏非常严重。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种厚度测量装置,其能实时测量待测物厚度,并且精度高。为解决上述技术问题,本技术采用如下技术方案提供一种厚度测量装置,包括机架,机架上设有检测辊及正对靠近检测辊的测量探头,测量探头上设有测厚传感器;该测厚传感器连接于一进行运算、比较数据的可编程序逻辑控制器上,且可编程序逻辑控制器又与输出设备相连。上述技术方案的进一步改进是所述测量探头包括固定支架、可活动地装设于固定支架上的活动支架、设于固定支架及活动支架之间的弹性元件、滚轮、设于固定支架上的测厚传感器,其中,滚轮设于活动支架上并正对检测辊。上述技术方案的进一步改进是所述测量探头装置还设有推动活动支架上下运动的气缸。上述技术方案的进一步改进是机架上还设有驱动测量探头沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动的驱动装置。上述技术方案的进一步改进是所述驱动装置包括线性模组及伺服电机。上述技术方案的进一步改进是该驱动装置还包括一控制伺服电机运动的伺服电机驱动器。上述技术方案的进一步改进是自该测厚传感器至可编程序逻辑控制器之间还依次串接有一测厚控制器及一进行数据转换的模拟量模块。上述技术方案的进一步改进是该弹性元件是一压缩弹簧。上述技术方案的进一步改进是所述输出设备是计算机或人机界面。由于采用上述技术方案,本技术具有如下有益效果本技术采用了滚轮弹性压在待测物上,测量精度高,且其由可编程序逻辑控制器进行数据的运算、比较,并输出结果,不仅能实现厚度的实时无间隙测量,而且进行智能化比较并输出结果,自动化程度高;此外,装置中的线性模组可使测量探头沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动,因此能测量待测物整个表面的厚度。附图说明图1是本技术厚度测量装置的原理图。图2是本技术厚度测量装置的测量探头示意图。具体实施方式如图1所示,本技术提供一种厚度测量装置,包括一机架18,在该机架18上设有检测辊1及正对靠近该检测辊1的测量探头12。其中,该测量探头12包括固定支架17、活动支架15、滚轮16、测厚传感器13及弹性元件14。该活动支架15设于固定支架17的下方,且该弹性元件14设置在固定支架17与活动支架15之间,其两端分别抵接在固定支架17及活动支架15上;而滚轮16设置在活动支架15的底部。该测厚传感器13设置在固定支架17上,其提供感应测量待测物厚度的功能,且该测厚传感器13还能通过一测厚控制器6与一模拟量模块7相连,该模拟量模块7主要提供数据转换功能,而该模拟量模块7还与一用来运算、比较数据的可编程序逻辑控制器(Programmable Logic Controller,PLC)10相连,且可编程序逻辑控制器10又可与计算机11或人机界面GOT 8等输出设备相连。所述测量探头12还设有推动活动支架15上下运动的气缸12;在机架18上还设有驱动测量探头12沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动的驱动装置,该驱动装置包括线性模组2及伺服电机5,伺服电机5的运动通过一伺服电机驱动器9控制。在进行厚度测量时,首先,通过计算机11或人机界面GOT 8设定一标准值与测量范围,该测量范围是在标准值的基础上增加合理的上下偏差值而得;再将待测极片穿过检测辊1与滚轮16之间,同时气缸12推动活动支架15下移,使滚轮16触及与检测辊1一起运动的待测极片,并且弹簧14有一定的弹性变形,以保证滚轮16始终弹性压紧待测极片上;同时伺服电机5驱动线性模组2沿待测极片运动的垂直方向往复运动,以测量待测极片整个截面的厚度。待测极片的厚度变化会导致固定支架17与活动支架15距离产生实时变化,测厚传感器13就是实时测量两者之间的距离而实现待测极片厚度的实时测量,并将测量值传送到测厚控制器6,由测厚控制器6相应输出一4~20mA电流至模拟量模块7,通过模拟量模块7将4~20mA电流转换成数字量,然后将转换后的数据传送到可编程序逻辑控制器10进行运算、比较,从而得出待测极片的厚度测量值是否处于前面所设定的测量范围之内,如果不在则属于不合格产品,若处于该测量范围内,则再将测量值与标准值相比,得出是偏厚、偏薄还是标准;比较完成后,将测量值以及比较的结果信息传输给计算机11或者人机界面GOT 8显示出来。权利要求1.一种厚度测量装置,包括机架,其特征在于所述机架上设有检测辊及正对靠近检测辊的测量探头,测量探头上设有测厚传感器;该测厚传感器连接于一进行运算、比较数据的可编程序逻辑控制器上,且可编程序逻辑控制器又与输出设备相连。2.如权利要求1所述的厚度测量装置,其特征在于所述测量探头包括固定支架、可活动地装设于固定支架上的活动支架、设于固定支架及活动支架之间的弹性元件、滚轮、设于固定支架上的测厚传感器,其中,滚轮设于活动支架上并正对检测辊。3.如权利要求2所述的厚度测量装置,其特征在于所述测量探头装置还设有推动活动支架上下运动的气缸。4.如权利要求1或2所述的厚度测量装置,其特征在于机架上还设有驱动测量探头沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动的驱动装置。5.如权利要求4所述的厚度测量装置,其特征在于所述驱动装置包括线性模组及伺服电机。6.如权利要求5所述的厚度测量装置,其特征在于该驱动装置还包括一控制伺服电机运动的伺服电机驱动器。7.如权利要求1或2所述的厚度测量装置,其特征在于自该测厚传感器至可编程序逻辑控制器之间还依次串接有一测厚控制器及一进行数据转换的模拟量模块。8.如权利要求2所述的厚度测量装置,其特征在于该弹性元件是一压缩弹簧。9.如权利要求1或2所述的厚度测量装置,其特征在于所述输出设备是计算机或人机界面。专利摘要本技术涉及一种厚度测量装置,包括机架,机架上设有检测辊及正对靠近检测辊的测量探头,该测量探头包括固定支架、设于固定支架上的活动支架、设于固定支架及活动支架之间的弹性元件、设于活动支架上并正对检测辊的滚轮、设于固定支架上的测厚传感器,该测厚传感器连接一可编程序逻辑控制器,且可编程序逻辑控制器与输出设备相连。机架上还设有驱动测量探头沿与待测物运动方向垂直的方向往复运动的驱动装置。该驱动装置包括线性模组及伺服电机。利用滚轮弹性压在待测物上,可实时无间隙地测量厚度,且由可编程序逻辑控制器运算、比较数据并输出结果,测量精度高;此外,测量探头可垂直于待测物运动方向往复运动,而能测量待测物各本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种厚度测量装置,包括机架,其特征在于:所述机架上设有检测辊及正对靠近检测辊的测量探头,测量探头上设有测厚传感器;该测厚传感器连接于一进行运算、比较数据的可编程序逻辑控制器上,且可编程序逻辑控制器又与输出设备相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:武员
申请(专利权)人:深圳市比克电池有限公司
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

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