差动螺旋测微头制造技术

技术编号:2515516 阅读:388 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
差动螺旋测微头,属测量工具技术领域,特别是涉及一种螺纹千分尺用的差动螺旋测微头。它包括:通用测头3,支架2,其特征在于:在支架2的另一端装有一具有旋柄4,微分筒5,螺杆6,固定套筒7,活动测砧8,导向键9所组成的差动螺旋测微头1。它具有精度高;结构简单;使用方便等优点。可作为通用量具使用。(*该技术在2002年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
差动螺旋测微头,属测量工具
,特别是涉及一种螺旋千分尺用的差动螺旋测微头。目前,在机械加工中,螺旋千分尺是通常使用的精密量具,其测量的最小读数为0.01毫米,要想测出0.001毫米,只能凭人眼在0.01毫米中估算,这样误差很大,虽然杠杆千分尺和内径千分尺,其最小读数为0.001毫米,但适用范围受到限制,不能作为精度为千分之一毫米的通用量具。本技术的目的就是提供一种精度为千分之一毫米的,具有差头螺旋测微头的通用量具。本技术的技术方案结合附图说明如下,差动螺旋测微头,包括通用测头3和测头支架2,其特征在于在支架的另一端装有一具有旋柄4,微分筒5,螺杆6,固定套筒7,活动测砧8,导向键9所组成的差动螺旋测微头1。在螺杆6上有两段同向螺纹,其螺距之差为0.05毫米,将微分筒5分为50等分。以每旋转一圈微分筒5所前进或后退的距离为标准,在固定套筒7上刻出相应的刻度,在支架2上还装有导向键9。本技术的工作原理当转动旋柄4时,微分筒5,螺杆6同时转动,由于固定套筒7静止,活动测砧8只能轴向移动,而螺杆6上的两段螺纹的螺距差为0.05毫米,所以活动测砧8的实际位移量为0.05毫米,将此位本文档来自技高网...

【技术保护点】
差动螺旋测微头,包括通用测头3,支架2,其特征在于:在支架2的另一端装有一具有旋柄4,微分筒5,螺杆6,固定套筒7,活动测砧8,导向键9所组成的差动螺旋测微头1。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱来泉
申请(专利权)人:湖北省荆门市技工学校
类型:实用新型
国别省市:42[中国|湖北]

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