一种获取电路连线拓扑信息的方法、装置及设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种获取电路连线拓扑信息的方法，其包括如下步骤：S1，获取电路版图图案；S2，根据所述电路版图图案获取所述版图图案的所有边；S3，在互相平行的边中，获取相互对应关系的边；其中相对应的边为两条线段互相之间有投影且两条线段的中心线在多边形内；S4，从不平行的边中，获取相互对应的边；S5，根据所述相互对应的边获取中心线段；S6，根据所述中心线段获取所述电路连线拓扑信息。本发明专利技术通过获取版图图案，并根据电路版图图案的边的信息，通过求解边的中心线段的方式，获取电路版图对应的电路连线的拓扑信息。

【技术实现步骤摘要】
一种获取电路连线拓扑信息的方法、装置及设备
本专利技术涉及集成电路制造领域，具体来说，涉及一种获取电路连线拓扑信息的方法。
技术介绍
给出集成电路版图，为了反推电路连线并进行分析，需要提取包括版图布线图案的中心线。参考图1，版图图案可看成由一系列多边形构成的图案，对其中每个版图多边形求中心线，可以代表该多边形的走向和形态。除了图1规则的直角多边形之外，有些版图进行光学邻近校正(OPC)后，图案会变得不那么规则，如图2所示。如果给出的版图掩模版，是OPC后的图案(图2(b))，则需要计算OPC之前版图图案(图2(a))的中心线。本文提供的背景描述用于总体上呈现本公开的上下文的目的。除非本文另外指示，在该章节中描述的资料不是该申请的权利要求的现有技术并且不要通过包括在该章节内来承认其成为现有技术。
技术实现思路
针对相关技术中的上述技术问题，本专利技术提出一种获取电路连线拓扑信息的方法，能够获取从电路版图中获取电路连线拓扑信息。为实现上述技术目的，本专利技术的实施例提供了一种获取电路连线拓扑信息的方法，其包括如下步骤：S1，获取电路版图图案；S2，根据所述电路版图图案获取所述版图图案的所有边；S3，在互相平行的边中，获取相互对应关系的边；其中相对对应的边为两条线段互相之间有投影且两条线段的中心线在多边形内；S4，从不平行的边中，获取相互对应的边；S5，根据所述相互对应的边获取中心线段；S6，根据所述中心线段获取所述电路连线的拓扑信息。进一步的，步骤S3具体包括：S31,判断两条边是否平行；不平行，则返回不相互对应；平行，则继续；S32,判断两条平行边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；S33，判断两条既平行又有重合区间的边的中心线是否在多边形内；不在，则返回；在，则返回两条边相互对应。进一步的，步骤S4具体包括：S41，判断这两条边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；S42，这两条边形成的中心线是否在多边形内；在，则返回两条边相互对应。进一步的，步骤S5具体包括：S51，当一条边只和另外一条边相互对应时，直接求中心线段；S52，当一条边和多条边相互对应时，则先把多条边合并成一条，再求中心线段。进一步的，步骤S6之后还包括如下一个或多个步骤：S7，删杂边：删除距离其他中心线段的距离大于自身长度的中心线段；或/和S8，合并平行线：合并平行有投影重合且距离小于一阈值的中心线段；或/和S9，交叉线：去掉线段有交点的两条线段的交叉部分；或/和S10，延长和拉伸中心线：延长和拉伸线段至相交；或/和S11，接连通子集，找距离最近的端点进行连接，使得连通子集两两合并，直到所有连通子集合为一个。为实现本专利技术的目的，本专利技术实施例还提供一种获取电路连线拓扑信息的装置，其包括如下单元：电路版图获取单元，用于获取电路版图图案；边获取单元，用于根据所述电路版图图案获取所述版图图案的所有边；第一对应边获取单元，用于在互相平行的边中，获取相互对应关系的边；其中相对对应的边为两条线段互相之间有投影且两条线段的中心线在多边形内；第二对应边获取单元，用于从不平行的边中，获取相互对应的边；中心线段获取单元用于根据所述相互对应的边获取中心线段；电路连线拓扑信息获取单元，用于根据所述中心线段获取所述电路连线的拓扑信息。进一步的，所述装置的第一对应边获取单元还包括：平行边判定单元，用于判断两条边是否平行；不平行，则返回不相互对应；平行，则继续；第一重合区间判定单元，用于判断两条平行边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；第一多边形判定单元，用于判断两条既平行又有重合区间的边的中心线是否在多边形内；不在，则返回；在，则返回两条边相互对应。进一步的，所述装置的第二对应边获取单元还包括：第二重合区间判定单元，用于判断两条边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；第二多边形判定单元用于判断两条边形成的中心线是否在多边形内；在，则返回两条边相互对应。进一步的，所述装置的中心线段获取单元还包括：第一获取单元，用于当一条边只和另外一条边相互对应时，直接求中心线段；第二获取单元，用于当一条边和多条边相互对应时，则先把多条边合并成一条，再求中心线段。进一步的，所述装置还包括如下单元中的一个或多个：删杂边单元，用于删除距离其他中心线段的距离大于自身长度的中心线段；或/和合并平行线单元，用于合并平行有投影重合且距离小于一阈值的中心线段；或/和交叉线处理单元，用于去掉线段有交点的两条线段的交叉部分；或/和延长和拉伸中心线处理单元，用于延长和拉伸线段至相交；或/和接连通子集处理单元，用于找距离最近的端点进行连接，使得连通子集两两合并，直到所有连通子集合为一个。为实现本专利技术的目的，本实施例还提供了一种获取电路连线拓扑信息的设备，该设备包括处理器，非易失性存储介质，所述非易失性存储介质上存储有代码，所述代码在被所述处理器执行时，用于实现所述步骤S1-S6的方法。本专利技术通过获取版图图案，并根据电路版图文件的边的信息，通过求解边的中心线段的方式，获取电路版图对应的电路连线拓扑信息，本专利技术对边中心线的求解分为平行线段和非平行线段，可以更准确的获取边的中心线段，从而更准确的获取电路连线的拓扑信息。进一步的，本专利技术的实施例还可以对获取的中心线段进行优化处理，例如删除边，合并，等等，从而更为准确的获取中心线段，特别是对于电路版图因光学临近矫正(OPC)处理后的掩模版图案，可以有效还原处理前的原始版图中心线，从而可以更为准确的获取电路连线的拓扑信息。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是电路版图多边形图案示例；图2是OPC之后的版图掩模版图案；图3是本专利技术实施例提供的一种获取电路连线拓扑信息的方法的流程示意图；图4是本专利技术实施例中的线段在直线上的投影示意图；图5是本专利技术实施例中的计算两线段间的投影示意图；图6是本专利技术实施例中平行线段求中心线段的示意图；图7是本专利技术实施例中不平行线段求中心线段示意图；图8是本专利技术实施例中优化处理中心线段示意图；图9是本专利技术实施例提供的一种获取电路连线的拓扑信息装置示意图；图10是本专利技术实施例提供的一种获取电路连线的拓扑信息设备示意图。具体实施方式下面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种获取电路连线拓扑信息的方法，其包括如下步骤：/nS1，获取电路版图图案；/nS2，根据所述电路版图图案获取所述版图图案的所有边；/nS3，在互相平行的边中，获取相互对应关系的边；其中相对对应的边为两条线段互相之间有投影且两条线段的中心线在多边形内；/nS4，从不平行的边中，获取相互对应的边；/nS5，根据所述相互对应的边获取中心线段；/nS6，根据所述中心线段获取所述电路连线的拓扑信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种获取电路连线拓扑信息的方法，其包括如下步骤：
S1，获取电路版图图案；
S2，根据所述电路版图图案获取所述版图图案的所有边；
S3，在互相平行的边中，获取相互对应关系的边；其中相对对应的边为两条线段互相之间有投影且两条线段的中心线在多边形内；
S4，从不平行的边中，获取相互对应的边；
S5，根据所述相互对应的边获取中心线段；
S6，根据所述中心线段获取所述电路连线的拓扑信息。


2.根据权利要求1所述的方法，其中步骤S3具体包括：
S31,判断两条边是否平行；不平行，则返回不相互对应；平行，则继续；
S32,判断两条平行边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；
S33，判断两条既平行又有重合区间的边的中心线是否在多边形内；不在，则返回；在，则返回两条边相互对应。


3.根据权利要求1所述的方法，步骤S4具体包括：
S41，判断这两条边是否有重合区间；没有，则返回不相互对应；有，则继续；
S42，这两条边形成的中心线是否在多边形内；在，则返回两条边相互对应。


4.根据权利要求1所述的方法，步骤S5具体包括：
S51，当一条边只和另外一条边相互对应时，直接求中心线段；
S52，当一条边和多条边相互对应时，则先把多条边合并成一条，再求中心线段。


5.根据权利要求1所述的方法，步骤S6之后还包括如下一个或多个步骤：
S7，删杂边：删除距离其他中心线段的距离大于自身长度的中心线段；
或/和
S8，合并平行线：合并平行有投影重合且距离小于一阈值的中心线段；
或/和
S9，交叉线：去掉线段有交点的两条线段的交叉部分；
或/和
S10，延长和拉伸中心线：延长和拉伸线段至相交；
或/和
S11，接连通子集，找距离最近的端点进行连接，使得连通子集两两合并，直到所有连通子集合为一个。


6.一种获取电路连线拓扑信息的装置，其包括如下单元：
电路版图获取单元，用于获取电路版图图案；<...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺旭，傅智勇，
申请(专利权)人：湖南大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43