【技术实现步骤摘要】
一种光刻版表面损伤修复溶液及其应用
本专利技术涉及光刻板的清洗领域,具体涉及一种光刻版表面损伤修复溶液及其应用。
技术介绍
在半导体器件生产工艺中,由于受基体材料本身外延表面的质量以及工艺制程能力、作业环境净化能力的影响,容易在基体材料表面产生颗粒物(落点、尘埃、金属镀膜过程中金属源崩溅产生的金属颗粒)、污点(残留胶点、油污),进而在光刻过程中对光刻板产生表面污染、硌伤等,影响正常图形制作,直接导致产品质量的下降,如区域性图形异常、不规则等。因此需要定期对光刻版进行清洁和表面修复,确保在使用过程中不产生图形复制异常。常规表面清洁方法相对报导较多,技术也较为成熟,但针对表面硬物硌伤或颗粒物嵌入铬镀层的修复却无相关报导,所以如何高效的清洁和修复光刻板表面硬物硌伤或颗粒物,延长光刻板的使用寿命,是目前急需解决的问题。目前常用的清洗方法是通过物理抛光、有机物清洗和强氧化剂混合溶液加热清洗。通过物理抛光的方式进行改善,但抛光本身对于光刻版表现也存在一定的损伤,导致光刻版的透光性下降,影响光刻质量;有机物清洗和强氧化剂虽 ...
【技术保护点】
1.一种光刻版表面损伤修复溶液,其特征在于,包括重铬酸钾、水溶性铬盐、浓硫酸和水。/n
【技术特征摘要】
1.一种光刻版表面损伤修复溶液,其特征在于,包括重铬酸钾、水溶性铬盐、浓硫酸和水。
2.根据权利要求1所述的一种光刻版表面损伤修复溶液,其特征在于,所述修复溶液中各组分的质量比例如下:重铬酸钾11wt.%-21wt.%、水溶性铬盐1wt.%-10wt.%、浓硫酸50wt.%-69wt.%、水15wt.%-25wt.%;
进一步优选的,所述修复溶液中各组分的质量比例如下:重铬酸钾11wt.%-15wt.%、水溶性铬盐3wt.%-7wt.%、浓硫酸60wt.%-69wt.%、水20wt.%-25wt.%;
最优选的,所述修复溶液中各组分的质量比例如下:重铬酸钾12wt.%、水溶性铬盐4wt.%、浓硫酸63wt.%、水21wt.%。
3.根据权利要求1所述的一种光刻版表面损伤修复溶液,其特征在于,所述水溶性铬盐为硝酸铬、硫酸铬、氯化铬中的一种或一种以上。
4.一种如权利要求1-3任一项所述的光刻版表面损伤修复溶液的修复方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)将所述修复溶液加热并同时搅拌后,静置;
(2)将光刻版放入所述修复溶液中浸泡并超声;
(3)冲洗光刻板;
(4)干燥光刻板;
(5)吹干光刻板。<...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡夕伦,吴向龙,闫宝华,肖成峰,
申请(专利权)人:山东浪潮华光光电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:山东;37
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