监控和/或测量运行中的丝状或线状测试材料参数的装置及其操作方法制造方法及图纸

本装置具有测量缝２，它是被测试材料Ｆ的通道，其两壁上有组成电容器的两个极板１３、１４。除了电容测量元件之外还有一个光学测量元件，它包括在测量缝２一个壁上的光源６和光电元件７，两种测量元件共同组成一种通用的测量头。因此，减低了先有技术中只有一种测量元件的测量头的精度的波动，并能自动校验测量头，此外还可以测定和监控早先的测量头无法测量的物理量。（*该技术在2010年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于监控和/或测量运行中的丝状或线状测试材料参数的装置，该装置有一个让测量材料通过的测量缝，在其两壁上各有一个测量极板构成电容式测量元件的一部分。目前有许多种基于电容测量原理的这类测量装置，更具体地说，一方面，有如所谓的电子清纱器，另一方面，有如匀细度测定仪。电子清纱器(对此可举出由ZellwegerUster公司制造的UsterAutomatic型)用于检测出能引起麻烦的有缺陷的纱，例如，加粗不足的，变细了的，粗细不匀的加工疵(frequentthickeningsandthinnings)。匀细度测量仪(例如ZellwegerUster公司制造的Uster测试仪，Uster是ZellwegerUster公司的注册商标)用于检测和分析细条、粗纱和纱的单位长度重量的变化。多年来由于其高测量精度和其恒定的灵敏度，电容测量原理已得到广泛应用。除了这种基于电容原理的装置之外，也可使用测出被测材料的直径的光学测量头，特别是在不能应用电容测量头的时候要使用这类的光学测量头，例如测量可导电的线材。不论是使用哪种测量原理，由于它们的工作原理和结构的原因，其测量头在一定程度上本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于监控和／或测量正在运行中的丝状或线状测试材料参数的装置，该装置有一个让测试材料通过的测量缝，在其两边的壁上各有一个测量电极板构成电容式测量元件的一部分，其特征在于，除了电容式测量元件之外，还设有一种光学测量元件，它包括设置在测量缝（２）的一个壁面上的光源（６）和一个光学元件（７），而这两个测量元件共同组成一个通用的测量头的一部分。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：汉斯彼得劳舍，
申请(专利权)人：泽韦格格路瓦有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]