一种电缆绝缘层厚度Ｘ光检测方法，其特征在于：通过测量穿过绝缘层的Ｘ光通量变化即可获得绝缘层偏心度变化量，Ｘ光发射头和接受头分列电缆两侧，Ｘ光线垂直于电缆。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种X光检测方法。尤其是电缆生产的绝缘层厚度在线检测。它的工作方法还可以是这样的X光线对电缆绝缘层进行拍摄，利用接受头每一个像素为一个探测点横向覆盖绝缘层一边进行断层拍摄，通过机架整体高速横移至绝缘层另一边进行同样断层拍摄。它的工作方法还可以附加输出信号经模拟放大，12位A/D变换，送至计算机进行数据处理。它的工作方法还可以附加程序每完成一个位置的检测，X光线的方向可以按照设定作0-360度的变化进行其他位置的绝缘层检测。使用上述检测方法，不仅解决了可以对电缆生产进行某一方向的在线无损测厚的问题，而且测厚的点几乎是全圆周的，能够及时测得绝缘层的偏心度。结合附图说明图1至图4所示，X光发射头4通过固定装置与接收头1成一固定的X光检测付，发射头4发出的X光线通过电缆的绝缘层，X光线在空气中的衰减和在电缆绝缘层中的衰减是不同的，当电缆绝缘层的厚度发生变化时，接受头所接收的X光强度也就发生变化，测量这种变化，就可以相应的计算出绝缘层的厚度。接收头接收的X光可以是扫描细束X光，接收的X光束逐渐从电缆6最外缘向内止于最内缘，完成一个位置的绝缘层厚度的检测，X光接收头动态地接收强度变化的X光线，根据既定换算法，就可以检测出绝缘层的厚度。也可以是有一定宽度的X光，其宽度与绝缘层8的厚度接近，接收头接受其一定时间的X光辐射(相当于照相机的暴光)，完成绝缘层一个位置的测厚，根据辐射强度，就可以计算出，绝缘层的厚度。在X光接受头1输出信号经模拟放大，12位A/D变换，送至计算机进行数据处理，就可以实时检测在线生产的电缆6绝缘层8的厚度。还可以根据需要，完成一次扫描或者完成一次拍摄后，检测装置立即绕电缆轴线转动，进行第二个位置的同样程序，这样就可以测量任意位置的绝缘层厚度。下面说明一个典型的以扫描检测一个循环程序，如图4所示，X光从电缆的最外缘向电缆芯的最外缘，移动切割过一个绝缘层厚度A，然后停止X光的发射，机架快速越过电缆芯B，X光开始发射，X光从电缆芯的最外缘向电缆的最外缘扫描C，到电缆的最外缘部分，停止X光线发射，转动90度，开始上述检测程序D-E-F过程，一般来说，经过互相成90度的两个直径方向的绝缘层扫描，基本可以实时动态测得电缆的直径，如果需要更加精密，则可以均匀圆周等份选择多个方向的绝缘层检测，可以更好地测出绝缘层的厚度。权利要求1.一种电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于通过测量穿过绝缘层的X光通量变化即可获得绝缘层偏心度变化量，X光发射头和接受头分列电缆两侧，X光线垂直于电缆。2.如权利要求1所述的电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于X光发射头沿垂直于电缆的方向进行移动扫描，完成横向绝缘层一侧断层扫描运动，通过机架整体高速横移至绝缘层另一边，再进行同样横向绝缘层另一侧断层扫描。3.如权利要求1所述的电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于X光线对电缆绝缘层进行拍摄，利用接受头每一个像素为一个探测点横向覆盖绝缘层一边进行断层拍摄，通过机架整体高速横移至绝缘层另一边进行同样断层拍摄。4.如权利要求2或者3所述的电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于X光接受头输出信号经模拟放大，12位A/D变换，送至计算机进行数据处理。5.如权利要求4所述的电缆绝缘层厚度X光检测方法，其特征在于每完成一个位置的检测，X光线的方向可以按照设定作0-360度的变化进行其他位置的绝缘层检测。全文摘要本专利技术提供了一种电缆绝缘层厚度的方法，其关键在于X光发射和接收头分列电缆的两侧，利用测量接受头上X光线强度的大小，即可以测得电缆绝缘层的厚度，其改进X光发射和接收头组成的检测付可以沿着垂直于电缆轴线的方向运动，作为另一种改进X光发射和接收头组成的检测付还可以绕电缆轴线的方向转动，采用本专利技术后，提供了电缆生产的在线检测方法，大大提高了电缆生产率，减少了电缆废品率。文档编号G01B15/02GK1469102SQ0314650公开日2004年1月21日 申请日期2003年7月3日 优先权日2003年7月3日专利技术者周俊, 周 俊 申请人:周俊, 周 俊 本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：周俊，
申请(专利权)人：周俊，
类型：发明
国别省市：
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