平台平面度测量方法技术

本发明专利技术涉及用光学仪器测量大型平台平面度的测量方法，将平面扫描仪架在被测平台上，目标Ⅰ、目标Ⅱ、目标Ⅲ围绕测微准直望远镜放置，且平行于支脚ＡＣ和ＢＣ的连线，把光学头转向目标Ⅰ，并把望远镜调焦到目标Ⅰ上，调整支脚Ｂ的调整螺钉，使望远镜十字线初步对准目标Ⅰ上条纹。再转向目标Ⅲ调整扫描仪的测微鼓轮，使目标Ⅲ接近望远镜十字线。光学头转向目标Ⅱ，调整支脚Ａ的调整螺钉，使望远镜十字线与目标Ⅱ对中，经反复调整支脚高度和测微鼓轮，使望远镜十字线与三目标精确对中，建立了基准面，将目标Ⅳ放在要测量位置，用平面扫描仪的光学测微器读出该位置对基准面的偏差。本发明专利技术适合大型平台的平面度测量，通用性强、速度快、测量精度高。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及平面度的测量方法，特别涉及用光学仪器测量大型平台平面度的测量方法。
技术介绍
平台是被加工件按图样尺寸划线，也是整机、部件装配时找正或焊装的基准面，尤其现代化船舶制作中这个基准面的建立非常重要，平台直接影响被加工件、装配精度和装焊质量，高质量的焊接结构件按工艺要求装焊后的部件平面度±0.25mm，作为基准面的平台平面度±0.15mm。以前，对此类平台平面度的检测采用水碗连通器测平法，由于水碗内空气不易排净，直观误差就可达2-3mm，又由于操作水平不等，检测的精度也各有差别，人为因素对测量精度的影响无法克服，以上的测量方法与高质量船舶制造要求相差甚远，因此急需一种先进的测量方法取而代之。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题，是提供一种适合工厂大型平台的光学测量平面度的方法。采用的技术方案是本专利技术是根据光学原理进行测量，通过平面扫描仪和下列测量方法实现的。平面扫描仪是沿所设光路依次设有测微准直望远镜、回转光学直角头、光学测微器及目标。回转光学直角头可使测微准直望远镜光学视线转折90°±1″经光学测微器至目标，以扫描出基准面。上述的平面扫描仪设有一个带有可调平的ABC三个支脚的平面扫描仪安装架，测微准直望远镜安装在平面扫描仪安装架上部筒内，由回转光学直角头和光学测微器组成一个光学头，光学头安装在平面扫描仪安装架下部的轴承上可作360°转动，光学测微器可使测微平板玻璃绕自身的中心轴线转动，从而可以进行微小位移的测量，用以读出被测点目标对基准视线的偏差。平面扫描仪设有四个相同的目标，目标图案上有一条宽度不同的台阶式条纹的目标带，根据测量距离选择条纹宽度，目标条纹均平行于目标底座，且高度相同。，包括下列步骤1、将平面扫描仪架设在被测量的平台上，目标I、目标II、目标III围绕测微准直望远镜放置，而且目标I和目标III平行于支脚AC的连线，目标II平行于支脚BC的连线，将光学头转向目标I，并把测微准直望远镜调焦到目标I上，然后通过调整支脚B的调整螺钉，使测微准直望远镜十字线初步地对准目标I上目标带的条纹图案。2、将光学头转向目标III，并检查目标III是否相当接近于测微准直望远镜的十字线，如果相差较远，则转动平面扫描仪的测微鼓轮，使目标III接近于测微准直望远镜的十字线。然后重复进行对目标I的第1项调整。3、将光学头转向目标II，把测微准直望远镜调焦到目标II上，通过调整支脚A的调整螺钉，使测微准直望远镜十字线与目标II对中。4、转动光学头，重新瞄准目标I，然后精调支脚B的调整螺钉，使所选定宽度的目标带与测微准直望远镜十字线对中。5、再把光学头转向目标III，把测微准直望远镜调焦到目标III上，然后转动平面扫描仪的测微鼓轮。使所选定宽度的目标带与测微准直望远镜的十字线对中，得出光学测微器这次变化量，然后把测微鼓轮又调回它所转过刻度值的一半，最后重新调整支脚B的调整螺钉，使目标III精确地与测微准直望远镜的十字线对中，这里特别要指出的是在转动测微鼓轮前应注意光学测微器原来读数。6、反复瞄准目标I和III，调整平面扫描仪的测微鼓轮和支脚B的调整螺钉，直到二目标都与测微准直望远镜的十字线精确对中为止。然后锁紧支脚B的调整螺钉。7、瞄准并调焦于目标II上，通过调整支脚A的调整螺钉使测微准直望远镜的十字线与目标II精确对中，并锁紧支脚A的调整螺钉。8、重新瞄准观察三目标，检查三者是否均与测微准直望远镜的十字线对中，如果均对中，则基准面也就建立好了。9、当基准面建立后，就可进行平台平面度的测量了，此时把目标IV放在要测量的位置上，然后用平面扫描仪的光学测微器读出该位置对基准平面的偏差。10、按步骤9在需要测量的位置上逐点进行测量，这样平台的平面度就可以被测量出，所测对基准面的偏差数据标注在测点分布图上，由分布图上找出最大偏差值和最小偏差值，经计算得出平面度，即Δ＝最大偏差值-最小偏差值。上述的目标带为一条宽度不同的台阶式条纹，台阶式条纹宽度依次为3.05mm、1.25mm、0.64mm、0.31mm、0.13mm、0.05mm，根据测量距离远近选用不同宽度，当测量距离大于30m时选用3.05mm宽，当测量距离小于5m时选用0.05mm宽。上述的光学测微器的刻度范围为±1.4mm，当测量时超出光学测微器测量范围时，可用目标带上的台阶条纹已知宽度尺寸进行比较测量。上述的目标图案上标注有垂直于从标轴的箭头10，便于判别所测偏差高于或低于基准面，防止对测量结果作错误解释。上述的目标的底座中装有磁脚，防止测量过程中串动。本专利技术适合工厂的大型平台的平面度测量，通用性强，测量速度快，测量精度高，有利于产品质量的提高。附图说明图1为平面扫描仪和目标的布置图。图2为平面扫描仪测量示意图。图3为平面扫描仪光路示意图。图4为平台平面度实测数据图。具体实施方式平台平面度测量，将平面扫描仪和目标如图1和图2布置，平面扫描仪安装架1架设在所测16×6米的平台6上，平面扫描仪安装架1由ABC三个支脚支撑，其中A和B支脚是高低可调的，可调支脚位于直角位置的两个方向上，三个支脚分别放在三个带磁性的垫块7上。测微准直望远镜2插入平面扫描仪安装架1上部筒内，光学头5安装在平面扫描仪安装架1下部的轴承上，可作360°转动，光学头5内装回转光学直角头3和光学测微器4，调整光学架回转轴线和测微准直望远镜光学视线的重合性，调整后在测量过程中，测微准直望远镜2在平面扫描仪安装架1内的位置和测微准直望远镜2的测微鼓轮不再变动。目标I、目标II、目标III围绕测微准直望远镜2放置，而且目标I和目标III的条纹图案平行于支脚AC的连线，目标II的条纹图案平行于支脚BC的连线，平面扫描仪和目标布置好后，按下列步骤进行测量1、将光学头5转向目标I，并把测微准直望远镜2调焦到目标I上，然后通过调整支脚B的调整螺钉，使测微准直望远镜2十字线初步地对准目标I上的宽度为0.64mm的目标带9图案上。2、将光学头5转向目标III，并检查目标III是否相当接近于测微准直望远镜2的十字线，如果相差较远，则转动平面扫描仪的测微鼓轮8，使目标III接近于测微准直望远镜2的十字线。然后重复进行对目标I的第1项调整。3、将光学头5转向目标II，把测微准直望远镜2调焦到目标II上，通过调整支脚A的调整螺钉，使测微准直望远镜2十字线与目标II对中。4、转动光学头5，重新瞄准目标I，然后精调支脚B的调整螺钉，使所选定的0.64mm宽度的目标带9与测微准直望远镜2十字线对中。5、再把光学头转向目标III，把测微准直望远镜2调焦到目标III上，然后转动平面扫描仪的测微鼓轮8。使所选定的0.64mm宽度的目标带9与测微准直望远镜2的十字线对中，得出光学测微器4这次变化量，然后把测微鼓轮8又调回它所转过刻度值的一半，最后重新调整支脚B的调整螺钉，使目标III精确地与测微准直望远镜的十字线对中，这里特别要指出的是在转动测微鼓轮8前应注意光学测微器4原来读数。6、反复瞄准目标I和III，调整平面扫描仪的测微转轮8和支脚B的调整螺钉，直到二目标都与测微准直望远镜2的十字线精确对中为止。然后锁紧支脚B的调整螺钉。7、瞄准并调焦于目标II上，通过调整支脚A的调整螺钉使测微准直望远镜2的十字线与目标II精确本文档来自技高网...

【技术保护点】
平台平面度测量方法，其特征包括下列步骤：　　　　Ａ、将平面扫描仪架设在被测量的平台（６）上，目标Ⅰ、目标Ⅱ、目标Ⅲ围绕测微准直望远镜（２）放置，而且目标Ⅰ和目标Ⅲ平行于支脚ＡＣ的连线，目标Ⅱ平行于支脚ＢＣ的连线，将光学头（５）转向目标Ⅰ，并把测微准直望远镜（２）调焦到目标Ⅰ上，然后通过调整支脚Ｂ的调整螺钉，使测微准直望远镜（２）十字线初步地对准目标Ⅰ上目标带（９）的条纹图案；　　　　Ｂ、将光学头（５）转向目标Ⅲ，并检查目标Ⅲ是否相当接近于测微准直望远镜（２）的十字线，如果相差较远，则转动平面扫描仪的测微鼓轮（８），使目标Ⅲ接近于测微准直望远镜（２）的十字线，然后再把光学头（５）转向目标Ⅰ，重复进行对目标Ⅰ的Ａ步骤所述调整；　　　　Ｃ、将光学头（５）转向目标Ⅱ，把测微准直望远镜（２）调焦到目标Ⅱ上，通过调整支脚Ａ的调整螺钉，使测微准直望远镜（２）十字线与目标Ⅱ对中；　　　　Ｄ、转动光学头（５），重新瞄准目标Ⅰ，然后精调支脚Ｂ的调整螺钉，使所选定宽度的目标带（９）与测微准直望远镜（２）十字线对中；　　　　Ｅ、再把光学头（５）转向目标Ⅲ，把测微准直望远镜（２）调焦到目标Ⅲ上，然后转动平面扫描仪的测微鼓轮（８），使所选定宽度的目标带（９）与测微准直望远镜（２）的十字线对中，得出光学测微器（４）这次变化量，然后把测微鼓轮（８）又调回它所转过刻度值的一半，最后重新调整支脚Ｂ的调整螺钉，使目标Ⅲ精确地与测微准直望远镜的十字线对中；　　　　Ｆ、反复瞄准目标Ⅰ和Ⅲ，调整平面扫描仪的测微转轮（８）和支脚Ｂ的调整螺钉，直到二目标都与测微准直望远镜（２）的十字线精确对中为止。然后锁紧Ｂ支脚的调整螺钉；　　　　Ｇ、瞄准并调焦于目标Ⅱ上，通过调整支脚Ａ的调整螺钉使测微准直望远镜（２）的十字线与目标Ⅱ精确对中，并锁紧支脚Ａ的调整螺钉；　　　　Ｈ、重新瞄准观察三目标，检查三者是否均与测微准直望远镜（２）的十字线对中，如果均对中，则完成了基准面的建立。　　　　Ｉ、当基准面建立后，就可进行平台平面度的测量了，此时把目标Ⅳ放在要测量的位置上，然后用平面扫描仪的光学测微器（４）读出该位置对基准面的偏差；　　　　Ｊ、按步骤Ⅰ在需要测量的位置上逐点进行测量，这样平台（６）的平面度就可以被测量出，所测对基准面的偏差数据标注在测点分布图上，由分布图上找出最大偏差值和最小偏差值，经计算得出平面度，即：　　　　Δ＝最大偏差值－最小偏差值。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙建利，徐艳秋，未丽秋，姜勇，李刚，张玉艳，
申请(专利权)人：渤海船舶重工有限责任公司，
类型：发明
国别省市：21[中国|辽宁]