平台平面度测量方法技术

本发明专利技术涉及用光学仪器测量大型平台平面度的测量方法，将平面扫描仪架在被测平台上，目标Ⅰ、目标Ⅱ、目标Ⅲ围绕测微准直望远镜放置，且平行于支脚ＡＣ和ＢＣ的连线，把光学头转向目标Ⅰ，并把望远镜调焦到目标Ⅰ上，调整支脚Ｂ的调整螺钉，使望远镜十字线初步对准目标Ⅰ上条纹。再转向目标Ⅲ调整扫描仪的测微鼓轮，使目标Ⅲ接近望远镜十字线。光学头转向目标Ⅱ，调整支脚Ａ的调整螺钉，使望远镜十字线与目标Ⅱ对中，经反复调整支脚高度和测微鼓轮，使望远镜十字线与三目标精确对中，建立了基准面，将目标Ⅳ放在要测量位置，用平面扫描仪的光学测微器读出该位置对基准面的偏差。本发明专利技术适合大型平台的平面度测量，通用性强、速度快、测量精度高。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及平面度的测量方法，特别涉及用光学仪器测量大型平台平面度的测量方法。
技术介绍
平台是被加工件按图样尺寸划线，也是整机、部件装配时找正或焊装的基准面，尤其现代化船舶制作中这个基准面的建立非常重要，平台直接影响被加工件、装配精度和装焊质量，高质量的焊接结构件按工艺要求装焊后的部件平面度±0.25mm，作为基准面的平台平面度±0.15mm。以前，对此类平台平面度的检测采用水碗连通器测平法，由于水碗内空气不易排净，直观误差就可达2-3mm，又由于操作水平不等，检测的精度也各有差别，人为因素对测量精度的影响无法克服，以上的测量方法与高质量船舶制造要求相差甚远，因此急需一种先进的测量方法取而代之。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题，是提供一种适合工厂大型平台的光学测量平面度的方法。采用的技术方案是本专利技术是根据光学原理进行测量，通过平面扫描仪和下列测量方法实现的。平面扫描仪是沿所设光路依次设有测微准直望远镜、回转光学直角头、光学测微器及目标。回转光学直角头可使测微准直望远镜光学视线转折90°±1″经光学测微器至目标，以扫描出基准面。上述的平面扫描仪设有一个带有可调平的ABC本文档来自技高网...

【技术保护点】
平台平面度测量方法，其特征包括下列步骤：　　　　Ａ、将平面扫描仪架设在被测量的平台（６）上，目标Ⅰ、目标Ⅱ、目标Ⅲ围绕测微准直望远镜（２）放置，而且目标Ⅰ和目标Ⅲ平行于支脚ＡＣ的连线，目标Ⅱ平行于支脚ＢＣ的连线，将光学头（５）转向目标Ⅰ，并把测微准直望远镜（２）调焦到目标Ⅰ上，然后通过调整支脚Ｂ的调整螺钉，使测微准直望远镜（２）十字线初步地对准目标Ⅰ上目标带（９）的条纹图案；　　　　Ｂ、将光学头（５）转向目标Ⅲ，并检查目标Ⅲ是否相当接近于测微准直望远镜（２）的十字线，如果相差较远，则转动平面扫描仪的测微鼓轮（８），使目标Ⅲ接近于测微准直望远镜（２）的十字线，然后再把光学头（５）转向目标Ⅰ，重复...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙建利，徐艳秋，未丽秋，姜勇，李刚，张玉艳，
申请(专利权)人：渤海船舶重工有限责任公司，
类型：发明
国别省市：21[中国|辽宁]