寿命评价装置及寿命评价方法制造方法及图纸

本发明专利技术的目的在于提高解析性寿命评价的精度。寿命评价装置(1)具有：第一寿命评价部(32)，使用对象构件的多个评价部位的实际检查数据进行寿命评价，得到第一寿命评价结果；第二寿命评价部(33)，使用对象构件的标准材料强度数据，对于多个评价部位进行解析性寿命评价，得到第二寿命评价结果；及等价强度数据制成部(34)，对于每个评价部位，运算能得到与第一寿命评价结果的差值处于规定的允许范围内那样的第二寿命评价结果的强度数据作为固有强度数据，使用运算出的各评价部位的固有强度数据制成对象构件的等价强度数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】寿命评价装置及寿命评价方法
本专利技术涉及寿命评价装置及寿命评价方法。
技术介绍
作为对于机械设备产生的蠕变或疲劳等时效老化的概率论方面的风险评价，已知有使用了评价模型的解析性寿命评价、使用了检查结果的寿命评价等。解析性寿命评价例如是以设计/制造信息等为基础来评价载荷-应力-强度的偏差而解析性地评价寿命、破损概率的评价方法。使用了检查结果的寿命评价是对于利用破坏/非破坏检查得到的裂纹长度或孔隙个数密度等的劣化/损伤的状态，使用劣化/损伤状态与剩余寿命的对应关系来预测将来的损伤的评价方法。在解析性寿命评价中，强度的偏差评价中使用的强度数据通常通过使用国内的主要材料制造商提供的多个试验体进行疲劳/蠕变试验并对其结果进行统计处理而得到。例如，如果为焊接部，则使用主要材料制造商提供的具有多种多样的坡口形状的多个试验体进行疲劳/蠕变试验，根据作为其试验结果而得到的多个值来得到近似式，从而制成强度数据。这样的强度数据通常利用例如由专门的研究机关或各制造商等制成的数据。例如，图11示出蠕变断裂寿命数据作为强度数据的一例。在图11中，横轴为断裂时间(对数)，纵轴为应力(对数)，表现出温度越低则对于相同应力的断裂时间变长的特性。在先技术文献专利文献专利文献1：日本专利第4745366号公报专利文献2：日本专利第4699344号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题如上所述，以往，解析性寿命评价使用的强度数据是包含有以材料制造商、坡口形状、焊接材料、施工法等的差异为起因的强度/寿命的偏差的强度数据，因此与进行寿命评价的评价部位的实际的强度数据产生误差，寿命评价的精度可能会下降。本专利技术是鉴于这样的情况而作出的专利技术，其目的在于提供一种能够提高解析性寿命评价的精度的寿命评价装置及寿命评价方法。用于解决课题的方案本专利技术的若干的实施方式的寿命评价装置的一实施方式具有：第一寿命评价部，使用对象构件的多个评价部位的实际检查数据进行寿命评价，得到第一寿命评价结果；第二寿命评价部，使用所述对象构件的标准材料强度数据，对于多个所述评价部位进行解析性寿命评价，得到第二寿命评价结果；及等价强度数据制成部，对于每个所述评价部位，运算能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于规定的允许范围内那样的所述第二寿命评价结果的强度数据作为固有强度数据，使用运算出的各所述评价部位的固有强度数据制成所述对象构件的等价强度数据，所述标准材料强度数据是包含偏差的强度数据，该偏差通过对基于由与所述对象构件不同的制造商制造的试验体或具有不同的特征形状的试验体而取得的数据统计性地进行处理而得到，所述第二寿命评价部使用由所述等价强度数据制成部制成的所述等价强度数据来对于所述对象构件的未评价部位进行解析性寿命评价。根据上述结构，使用通过利用实际检查数据进行寿命评价而得到的第一寿命评价结果和通过进行解析性寿命评价而得到的第二寿命评价，识别(同定)每个评价部位的固有强度数据。具体而言，将对于各评价部位得到的第一寿命评价结果看作为正确的结果，求出能得到与该第一寿命评价结果一致或近似的第二寿命评价那样的强度数据作为固有强度数据。并且，使用对于每个评价部位得到的固有强度数据，制成该对象构件中使用的材料的等价强度数据。由此，能够得到减少了以厂家或特征形状等的差异为起因的误差的该对象构件固有的等价强度数据。并且，使用等价强度数据对于其他的未评价部位进行解析性寿命评价，从而与使用标准材料强度数据的情况相比能够提高评价精度。对于其他的未评价部位，不需要取得实际数据，因此能够实现劳力的减少、时间缩短。在上述寿命评价装置中，也可以是，所述等价强度数据制成部具有所述标准材料强度数据和表示该标准材料强度数据的源数据的偏差的分布的信息，通过扫描所述分布的百分位数来识别能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于所述允许范围内的所述第二寿命评价结果那样的百分位数，得到所述固有强度数据。这样，通过使用表示标准材料强度的源数据的偏差的分布的百分位数，能够比较容易地得到固有强度数据。在上述寿命评价装置中，也可以是，所述等价强度数据制成部通过统计性地处理各所述评价部位的固有强度数据来制成所述等价强度数据。上述寿命评价装置也可以具备损伤概率评价部，该损伤概率评价部使用所述等价强度数据来评价至下次检查时为止的损伤概率。本专利技术的若干的实施方式的寿命评价方法的一实施方式包括如下工序：使用对象构件的多个评价部位的实际检查数据进行寿命评价，得到第一寿命评价结果；使用所述对象构件的标准材料强度数据，对于多个所述评价部位进行解析性寿命评价，得到第二寿命评价结果；对于每个所述评价部位，运算能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于规定的允许范围内那样的所述第二寿命评价结果的强度数据作为固有强度数据；使用运算出的各所述评价部位的固有强度数据，制成所述对象构件的等价强度数据；及使用所述等价强度数据对于所述对象构件的未评价部位进行解析性寿命评价，所述标准材料强度数据是包含偏差的强度数据，该偏差通过对基于由不同的制造商制造的试验体或具有不同的特征形状的试验体而取得的数据统计性地进行处理而得到。专利技术效果根据本专利技术的若干的实施方式，起到能够提高解析性寿命评价的精度这样的效果。附图说明图1是表示本专利技术的若干的实施方式的寿命评价装置的一实施方式的硬件结构的图。图2是表示本专利技术的若干的实施方式的寿命评价装置具备的功能的一实施方式的功能框图。图3是表示材料损伤的主曲线的一例的图。图4是表示利用本专利技术的若干的实施方式的寿命评价装置评价的评价部位的一例的图。图5是表示某温度下的标准强度数据的一例的图。图6是表示利用第二寿命评价部得到的寿命评价结果等的一例的图。图7是在图5所示的标准强度数据中，表示百分位数为25％时的强度数据的图。图8是表示等价强度数据的一例的图。图9是在等价强度数据上表示破损概率的图。图10是表示本专利技术的若干的实施方式的寿命评价方法的一实施方式的处理次序的流程图。图11是表示一般的强度数据的一例的图。具体实施方式以下，关于本专利技术的若干的实施方式的寿命评价装置及寿命评价方法的一实施方式，参照附图进行说明。图1是表示本专利技术的一实施方式的寿命评价装置1的硬件结构的图。如图1所示，寿命评价装置1例如具备CPU11、用于存储CPU11执行的程序等的ROM(ReadOnlyMemory)12、作为各程序执行时的工作区域发挥作用的RAM(RandomAccessMemory)13、作为大容量存储装置的硬盘驱动器(HDD)14、由键盘或鼠标等构成的输入部15、由液晶显示装置等构成的显示部16、用于与网络进行连接的通信接口17、及装配外部存储装置18的存取部19等。上述各部经由总线20而连接。图2是表示寿命评价装置1具备的功能的功能框图。以下说明的用于实现各种功能的一连串的处理作为一例，以程序的形式存本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种寿命评价装置，具有：/n第一寿命评价部，使用对象构件的多个评价部位的实际检查数据进行寿命评价，得到第一寿命评价结果；/n第二寿命评价部，使用所述对象构件的标准材料强度数据，对于多个所述评价部位进行解析性寿命评价，得到第二寿命评价结果；及/n等价强度数据制成部，对于每个所述评价部位，运算能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于规定的允许范围内那样的所述第二寿命评价结果的强度数据作为固有强度数据，使用运算出的各所述评价部位的固有强度数据制成所述对象构件的等价强度数据，/n所述标准材料强度数据是包含偏差的强度数据，该偏差通过对基于由与所述对象构件不同的制造商制造的试验体或具有不同的特征形状的试验体而取得的数据统计性地进行处理而得到，/n所述第二寿命评价部使用由所述等价强度数据制成部制成的所述等价强度数据来对于所述对象构件的未评价部位进行解析性寿命评价。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171221 JP 2017-2451971.一种寿命评价装置，具有：
第一寿命评价部，使用对象构件的多个评价部位的实际检查数据进行寿命评价，得到第一寿命评价结果；
第二寿命评价部，使用所述对象构件的标准材料强度数据，对于多个所述评价部位进行解析性寿命评价，得到第二寿命评价结果；及
等价强度数据制成部，对于每个所述评价部位，运算能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于规定的允许范围内那样的所述第二寿命评价结果的强度数据作为固有强度数据，使用运算出的各所述评价部位的固有强度数据制成所述对象构件的等价强度数据，
所述标准材料强度数据是包含偏差的强度数据，该偏差通过对基于由与所述对象构件不同的制造商制造的试验体或具有不同的特征形状的试验体而取得的数据统计性地进行处理而得到，
所述第二寿命评价部使用由所述等价强度数据制成部制成的所述等价强度数据来对于所述对象构件的未评价部位进行解析性寿命评价。


2.根据权利要求1所述的寿命评价装置，其中，
所述等价强度数据制成部具有所述标准材料强度数据和表示该标准材料强度数据的源数据的偏差的分布的信息，通过扫描所述分布的百分位数来识别能得到与所述第一寿命评价结果的差值处于所述允许范围...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本俊作，时吉巧，加藤千香子，宫本大树，
申请(专利权)人：三菱日立电力系统株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP