测试探头及电子设备制造技术

本发明专利技术提供了一种测试探头及电子设备，涉及信号测试技术领域，本发明专利技术提供的测试探头，包括：插设有探针的绝缘件和安装于所述绝缘件的金属件，所述金属件与所述探针由所述绝缘件相隔离。本发明专利技术提供的测试探头，可以通过金属件屏蔽外部干扰，且可以通过金属件接地形成接地回路，以此保护探针的信号，缓解待测信号高频谐振的技术问题，使得测试探头适用于高频信号测试。

【技术实现步骤摘要】
测试探头及电子设备
本专利技术涉及信号测试
，尤其是涉及一种测试探头及电子设备。
技术介绍
在多通道信号测试时，采用绝缘插座安装多根金属探针，通过金属探针连接待测物，从而获取被测信号。测试过程中，插座缺乏稳定的接地，且无法屏蔽外部电磁环境对金属探针的影响。在高频信号通过探针时会产生谐振，进而使待测信号的高频性能发生误测。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种测试探头，以缓解现有技术中高频信号通过探针会产生谐振的技术问题。第一方面，本专利技术提供的测试探头，包括：插设有探针的绝缘件和安装于所述绝缘件的金属件；所述金属件与所述探针由所述绝缘件相隔离。结合第一方面，本专利技术提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述金属件被用于与所述待测物的接地端连接。结合第一方面的第一种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述金属件安装在所述绝缘件的接近所述待测物的端部；在所述探针的测试端接触所述待测物的状态下，所述金属件抵接所述待测物的接地端。结合第一方面，本专利技术提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述金属件被用于与所述转接件的接地端连接，所述转接件与所述探针的背离测试端的一端连接。结合第一方面的第三种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第四种可能的实施方式，其中，所述转接件设置为转接板。结合第一方面的第三种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第五种可能的实施方式，其中，所述转接件设置为转接线。结合第一方面，本专利技术提供了第一方面的第六种可能的实施方式，其中，所述金属件包括相互隔离的第一块体和第二块体，所述第一块体和所述第二块体之间形成待测物安装区。结合第一方面的第六种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第七种可能的实施方式，其中，所述绝缘件设有用于安装所述第一块体的第一缺口和用于安装所述第二块体的第二缺口；在所述第一块体安装于所述第一缺口，以及所述第二块体安装于所述第二缺口的状态下，所述第一块体、所述第二块体和所述绝缘件的端面齐平。结合第一方面的第七种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第八种可能的实施方式，其中，所述第一块体的内侧具有第一凹槽，所述第二块体的内侧具有第二凹槽；所述待测物的一端配合于所述第一凹槽，另一端配合于所述第二凹槽。结合第一方面，本专利技术提供了第一方面的第九种可能的实施方式，其中，所述金属件设置为环形结构，且所述环形结构的内部形成待测物安装区。结合第一方面，本专利技术提供了第一方面的第十种可能的实施方式，其中，所述探针可伸入所述待测物安装区或者自所述待测物安装区缩回。结合第一方面的第九种可能的实施方式，本专利技术提供了第一方面的第十一种可能的实施方式，其中，所述绝缘件设有用于安装所述金属件的镶嵌槽，在所述金属件安装于所述镶嵌槽的状态下，所述金属件的端面与所述绝缘件的端面齐平。第二方面，本专利技术提供的电子设备配置有第一方面提供的测试探头。本专利技术实施例带来了以下有益效果：通过在插设有探针的绝缘件上安装金属件，金属件可屏蔽外部干扰，且可以通过金属件接地形成接地回路，以此保护探针的信号，缓解高频待测信号通过探针产生谐振的技术问题，使得测试探头适用于高频信号测试。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或相关技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的测试探头和待测物的爆炸图一；图2为本专利技术实施例提供的测试探头和待测物的剖视图；图3为本专利技术实施例提供的测试探头和待测物的仰视图一；图4为本专利技术实施例提供的测试探头和待测物的爆炸图二；图5为本专利技术实施例提供的测试探头和待测物的仰视图二；图6为本专利技术实施例提供的测试探头的示意图。图标：100-绝缘件；200-金属件；210-第一块体；220-第二块体；300-探针；400-转接件；1`-待测物。具体实施方式下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。公式中的物理量，如无单独标注，应理解为国际单位制基本单位的基本量，或者，由基本量通过乘、除、微分或积分等数学运算导出的导出量。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。目前，测试探头的不同端子传输不同频率的信号时，信号易受到干扰，特别是在进行多通道高频信号测试时，高频信号通过探针产生谐振，使得待测信号高频性能发生误测。其中，高频信号包括3MHz到30MHz之间的无线电波信号，低频信号包括小于3MHz的无线电波信号。实施例一如图1所示，本专利技术实施例提供的测试探头，包括：插设有探针300的绝缘件100和安装于绝缘件100的金属件200；金属件200与探针300由绝缘件100相隔离。其中，绝缘件100内安装多根探针300，多根探针300平行且间隔设置，任意两根相邻的探针300由绝缘件100隔离，以实现相邻探针之间绝缘。探针300安装在绝缘件100中，在绝缘件100上嵌入金属件200。可以通过金属件200接地，形成一个完整的接地回路，接地的金属件200能够保护探针300传输的信号，进而确保信号传输质量稳定，使得测试探头适用于高频信号检测。关于通过金属件200接地而形成完整的接地回路的方案，具体而言：金属件200可以连接待测物1`的接地端，或者，金属件200与转接件400的接地端连接。方式一、金属件200与待测物1`的接地端连接：请参见图2和图3，金属件200设置于绝缘件100下方(方向z)的端部，且金属件200的中部具有用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试探头，其特征在于，包括：插设有探针(300)的绝缘件(100)和安装于所述绝缘件(100)的金属件(200)；/n所述金属件(200)与所述探针(300)由所述绝缘件(100)相隔离。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试探头，其特征在于，包括：插设有探针(300)的绝缘件(100)和安装于所述绝缘件(100)的金属件(200)；
所述金属件(200)与所述探针(300)由所述绝缘件(100)相隔离。


2.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述金属件(200)被用于与待测物(1`)的接地端连接。


3.根据权利要求2所述的测试探头，其特征在于，所述金属件(200)安装在所述绝缘件(100)的接近所述待测物(1`)的端部；
在所述探针(300)的测试端接触所述待测物(1`)的状态下，所述金属件(200)抵接所述待测物(1`)的接地端。


4.根据权利要求1或2所述的测试探头，其特征在于，所述金属件(200)被用于与转接件(400)的接地端连接，所述转接件(400)与所述探针(300)的背离测试端的一端连接。


5.根据权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述转接件(400)设置为转接板。


6.根据权利要求4所述的测试探头，其特征在于，所述转接件(400)设置为转接线。


7.根据权利要求1所述的测试探头，其特征在于，所述金属件(200)包括相互隔离的第一块体(210)和第二块体(220)，所述第一块体(210)和所述第二块体(220)之间形成待测物安装区。

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【专利技术属性】
技术研发人员：盘龙，戴路，许维全，
申请(专利权)人：上海电连旭晟通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31