连接器件以及电子设备制造技术

本发明专利技术提供了一种连接器件以及电子设备，涉及电气元件检测工具技术领域，包括：固定主体和测试探针；固定主体内设置有多个容置通道，测试探针插设于容置通道；固定主体配置为能够屏蔽各测试探针之间的干扰信号。通过在固定主体上开设能够容纳测试探针的容置通道，每个容置通道均设置有测试探针，且固定主体能够屏蔽各个测试探针之间的信号干扰，保证信号质量，缓解了现有技术中存在的连接器件信号隔离度差，信号容易相互干扰，影响最终测试结果的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
连接器件以及电子设备
本专利技术涉及电气元件检测工具
，尤其是涉及一种连接器件以及电子设备。
技术介绍
随着自动控制技术的发展，各种控制芯片、板对板连接器等电气元件在市场中都占有着巨大的份额。为了确保芯片的准确性和性能的达标可靠，在电气元件导入市场之前，需要进行详细的测试。现有的电气元件测试装置均为塑胶材料的插座，在塑胶材质的插座中装配多根金属探针。但是，塑料材料的插座存在信号隔离度较差，信号在多通道之间容易相互耦合，相互干扰。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种连接器件以及电子设备，以缓解了现有技术中存在的连接器件信号隔离度差，信号容易相互干扰，影响最终测试结果精确性的技术问题。第一方面，本专利技术提供的连接器件，包括：固定主体和测试探针；所述固定主体内设置有多个容置通道，所述测试探针插设于所述容置通道；所述固定主体配置为能够屏蔽各所述测试探针之间的干扰信号。在可选的实施方式中，所述固定主体设置有多个贯穿孔；所述贯穿孔内形成所述容置通道，任意相邻的两个所述贯穿孔之间由金属材料隔离。在可选的实施方式中，所述连接器件还包括隔离构件；所述隔离构件设置于所述容置通道内，且套设于所述测试探针外，所述隔离构件配置为能够隔离所述测试探针与所述固定主体之间的电性接触。在可选的实施方式中，所述隔离构件由塑料材质制成。在可选的实施方式中，以所述连接器件的用于接触待测物的一端为第一端；所述贯穿孔的靠近所述第一端的内壁设置有第一台阶结构；所述隔离构件靠近所述第一端的设置有与所述第一台阶结构相配合的第一缺口结构。在可选的实施方式中，所述隔离构件靠近所述第一端的端部设置有第二台阶结构；所述测试探针靠近所述第一端的端部设置有第二缺口结构；所述测试探针的所述第二缺口结构搭接于所述隔离构件的所述第二台阶结构。在可选的实施方式中，以所述连接器件背离待测物的一端为第二端；所述连接器件的第二端连接有转接构件，各个所述测试探针均与所述转接构件连接。在可选的实施方式中，所述转接构件设置为转接板；所述转接板上设置有多个信号馈入结构，多个所述测试探针与多个所述信号馈入结构一一对应连接。在可选的实施方式中，所述转接构件包括多个转接线；多个所述转接线与多个所述测试探针一一对应连接。在可选的实施方式中，所述固定主体的第一端设置有用于容纳待测物的容置槽，所述测试探针相对应的端部在所述待测物装配于所述容置槽的状态下与所述待测物接触。第二方面，本专利技术提供的电子设备，包括所述连接器件。本专利技术提供的一种连接器件，包括：固定主体和测试探针；固定主体内设置有多个容置通道，测试探针插设于容置通道；固定主体配置为能够屏蔽各测试探针之间的干扰信号。通过在固定主体上开设能够容纳测试探针的容置通道，每个容置通道均设置有测试探针，且固定主体能够屏蔽各个测试探针之间的信号干扰，保证信号质量，缓解了现有技术中存在的连接器件信号隔离度差，信号容易相互干扰，影响最终测试结果精确性的技术问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的连接器件带有转接板的整体结构剖视图；图2为本专利技术实施例提供的连接器件带有转接板的整体结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的连接器件带有转接线的整体结构剖视图；图4为本专利技术实施例提供的连接器件带有转接线的整体结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的连接器件第一视角下的结构示意图。图标：100-固定主体；110-贯穿孔；120-第一台阶结构；200-测试探针；210-第二缺口结构；300-隔离构件；310-第二台阶结构；410-转接板；420-转接线；500-待测物。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面结合附图，对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。如图1-4所示，本实施例提供的连接器件，包括：固定主体100和测试探针200；固定主体100内设置有多个容置通道，测试探针200插设于容置通道；固定主体100配置为能够屏蔽各测试探针200之间的干扰信号。具体的，每个容置通道中均设置有一个测试探针200，容置通道和测试探针200的数量一一对应设置，每个容置通道内的测试探针200被固定主体100包裹，固定主体100选用能够屏蔽信号的材料，以使固定主体100能够屏蔽各个测试探针200之间的干扰信号，提高测试探针200的测试信号质量，降低测试误差。在上述实施例的基础上，如图5所示，其中，第一视本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种连接器件，其特征在于，包括：固定主体(100)和测试探针(200)；/n所述固定主体(100)内设置有多个容置通道，所述测试探针(200)插设于所述容置通道；/n所述固定主体(100)配置为能够屏蔽各所述测试探针(200)之间的干扰信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种连接器件，其特征在于，包括：固定主体(100)和测试探针(200)；
所述固定主体(100)内设置有多个容置通道，所述测试探针(200)插设于所述容置通道；
所述固定主体(100)配置为能够屏蔽各所述测试探针(200)之间的干扰信号。


2.根据权利要求1所述的连接器件，其特征在于，
所述固定主体(100)设置有多个贯穿孔(110)；
所述贯穿孔(110)内形成所述容置通道，任意相邻的两个所述贯穿孔(110)之间由金属材料隔离。


3.根据权利要求2所述的连接器件，其特征在于，
所述连接器件还包括隔离构件(300)；
所述隔离构件(300)设置于所述容置通道内，且套设于所述测试探针(200)外，所述隔离构件(300)配置为能够隔离所述测试探针(200)与所述固定主体(100)之间的电性接触。


4.根据权利要求3所述的连接器件，其特征在于，
所述隔离构件(300)由塑料材质制成。


5.根据权利要求3所述的连接器件，其特征在于，
以所述连接器件的用于接触待测物(500)的一端为第一端；
所述贯穿孔(110)的靠近所述第一端的内壁设置有第一台阶结构(120)；
所述隔离构件(300)靠近所述第一端的设置有与所述第一台阶结构(120)相配合的第一缺口结构。


6.根据权利要求5所述的连接器件，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：盘龙，戴路，许维全，
申请(专利权)人：上海电连旭晟通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31