用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构制造技术

本实用新型专利技术涉及用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，包括被动微波探测设备、二维转台、信号源、测试计算机、喇叭天线，二维转台的活动端与微波探测设备连接，在二维转台的内部分别设置用于驱动二维转台活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台作周向运动的周向动力机构；本实用新型专利技术通过设置二维转台使其可以大幅度提高被动微波探测设备的测试效率，其只需要通过一次扫描测试即可完成传统一维转台系统数十次的测试工作，由于测试组数少了，存储数据的工作量也相对减小，且在测试过程中无需移动天线位置，避免频繁移动天线导致测试前后数据不一致的问题，从而减小误差。

【技术实现步骤摘要】
用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构
本技术涉及自动化测试设备领域，尤其涉及用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构。
技术介绍
导引头作为移动装置(例如飞机、导弹)中导航器件的关键部分，对导航质量的好坏起和决定性作用。部分引导头具备接收电磁波信号并计算信号方向的功能，在对这类导引头进行测试的时候需要对其最主要的性能指标——测角精度进行测试。目前传统的测试装置需要在测试过程中多次调整转台及导引头在转台上的安装状态，需要进行多数十次的测试才能完成整个测试工作，测试流程繁琐，费时费力。
技术实现思路
本申请人针对上述现有问题，进行了研究改进，提供一种用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其避免传统需要数十次的测试工作，不仅提高了被动微波探测设备的测试效率，减少了测试工作所需要的人力，省时省力。本技术所采用的技术方案如下：用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，包括被动微波探测设备、二维转台、信号源、测试计算机、喇叭天线，所述被动微波探测设备、二维转台、喇叭天线均位于微波暗室内，所述二维转台的活动端与被动微波探测设备连接，在所述二维转台的内部分别设置用于驱动二维转台活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台作周向运动的周向动力机构；所述测试计算机的信号输入端与被动微波探测设备的信号输出端连接，所述测试计算机的信号输出端分别与二维转台及信号源的信号输入端连接，所述信号源的信号输出端与喇叭天线的信号输入端连接。其进一步技术方案在于：所述二维转台包括底座、支撑台及顶板，所述顶板构成二维转台的活动端，在所述顶板上开设多个用于连接被动微波探测设备的安装孔；所述周向动力机构包括安装在支撑台内部的第一电机，所述第一电机的输出端通过联轴器连接外框轴，所述外框轴的一端通过轴承与支撑台配合，所述外框轴的另一端通过轴承与底座配合；所述俯仰动力机构包括贯穿支撑台左右两侧的支承轴，所述支承轴通过传动机构与第二电机的输出端连接，所述支承轴的两端还与顶板的两侧配合；所述传动机构包括与支承轴配合的第二齿轮及与第二电机输出端连接的第一齿轮，所述第一齿轮与第二齿轮啮合；于所述支撑台内部相对的侧壁上还分别安装第一零位传感器及第一编码器；在所述底座上还分别安装第二编码器及第二零位传感器；所述被动微波探测设备的中心与喇叭天线的中心等高。本技术的有益效果如下：本技术结构简单，使用方便，本技术通过设置二维转台使其可以大幅度提高被动微波探测设备的测试效率，其只需要通过一次扫描测试即可完成传统一维转台系统数十次的测试工作，由于测试组数少了，存储数据的工作量也相对减小，且在测试过程中无需移动天线位置，避免频繁移动天线导致测试前后数据不一致的问题，从而减小误差。附图说明图1为本技术的结构示意图。图2为本技术中二维转台的结构示意图。图3为本技术中二维转台、外框、底座的连接示意图。其中：1、被动微波探测设备；2、二维转台；201、顶板；202、安装孔；203、支撑台；204、底座；205、支承轴；206、第一零位传感器；207、第一编码器；208、外框轴；209、第二编码器；210、第二零位传感器；211、第一电机；212、第二电机；213、第一齿轮；214、第二齿轮；3、第一安装架；4、信号源；5、测试计算机；6、喇叭天线；7、微波暗室；8、第二安装架。具体实施方式下面说明本技术的具体实施方式。如图1、图2所示，用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构包括被动微波探测设备1、二维转台2、信号源4、测试计算机5、喇叭天线6，被动微波探测设备1、二维转台2、喇叭天线6均位于微波暗室7内，二维转台2安装在第一安装架3上，喇叭天线6通过支架安装在第二安装架8上。二维转台2的活动端与被动微波探测设备1连接，在二维转台2的内部分别设置用于驱动二维转台2活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台2作周向运动的周向动力机构；测试计算机5的信号输入端通过连接线与被动微波探测设备1的信号输出端连接，测试计算机5的信号输出端分别通过连接线与二维转台2及信号源4的信号输入端连接，信号源4的信号输出端通过连接线与喇叭天线6的信号输入端连接。被动微波探测设备1的中心与喇叭天线6的中心等高，当二维转台2的水平旋转角度与俯仰旋转角度为零时，被动微波探测设备1的导引头天线平面正对喇叭天线6。如图3所示，二维转台2包括底座204、支撑台203及顶板201，顶板201构成二维转台2的活动端，在顶板201上开设多个用于连接被动微波探测设备1的安装孔202。如图3所示，周向动力机构包括安装在支撑台203内部的第一电机211，第一电机211的输出端通过联轴器连接外框轴208，外框轴208的一端通过轴承与支撑台203配合，外框轴208的另一端通过轴承与底座204配合，通过第一电机211驱动外框轴208转动，使与外框轴208配合的支撑台203整体实现在周向上的转动如图3所示，俯仰动力机构包括贯穿支撑台203左右两侧的支承轴205，支承轴205通过传动机构与第二电机212的输出端连接，支承轴205的两端还与顶板201的两侧配合。传动机构包括与支承轴205配合的第二齿轮214及与第二电机212输出端连接的第一齿轮213，第一齿轮213与第二齿轮214啮合。于支撑台203内部相对的侧壁上还分别安装第一零位传感器206及第一编码器207；在底座204上还分别安装第二编码器209及第二零位传感器210。上述二维转台2在水平旋转的角度范围为±180°，在俯仰旋转的角度范围为±45°，角度精度0.2°，承重30kg。本技术的具体工作过程如下：如图1至图3所示，首先将被动微波探测设备固定在二维转台2的顶板201表面，二维转台2根据测试计算机5中二维转台软件设置值在二维空间内进行“Z”字形扫动以覆盖所有待测角度。在系统运行过程中，由各零位传感器及编码器采集被动微波探测设备1在不同角度上探测结构及二维转台2的姿态信息，测试计算机5在接收到该段数据的时候给该段数据添加时间戳(精度为1ms)并存储于本地供数据分析软件处理。测试结束后，调取测试计算机5中记录的被动微波探测设备1探测结果数据包与转台姿态数据包，根据转台姿态把需要的时间段截取，在根据时间信息从探测结过数据包中提取出和转台姿态对应的探测结构，作为微波探测设备理论值和实际测量值进行数据分析。以上描述是对本技术的解释，不是对技术的限定，本技术所限定的范围参见权利要求，在不违背本技术的基本结构的情况下，本技术可以作任何形式的修改。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：包括被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、信号源(4)、测试计算机(5)、喇叭天线(6)，所述被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、喇叭天线(6)均位于微波暗室(7)内，所述二维转台(2)的活动端与被动微波探测设备(1)连接，在所述二维转台(2)的内部分别设置用于驱动二维转台(2)活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台(2)作周向运动的周向动力机构；所述测试计算机(5)的信号输入端与被动微波探测设备(1)的信号输出端连接，所述测试计算机(5)的信号输出端分别与二维转台(2)及信号源(4)的信号输入端连接，所述信号源(4)的信号输出端与喇叭天线(6)的信号输入端连接。/n

【技术特征摘要】
1.用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：包括被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、信号源(4)、测试计算机(5)、喇叭天线(6)，所述被动微波探测设备(1)、二维转台(2)、喇叭天线(6)均位于微波暗室(7)内，所述二维转台(2)的活动端与被动微波探测设备(1)连接，在所述二维转台(2)的内部分别设置用于驱动二维转台(2)活动端作俯仰运动的俯仰动力机构及用于驱动二维转台(2)作周向运动的周向动力机构；所述测试计算机(5)的信号输入端与被动微波探测设备(1)的信号输出端连接，所述测试计算机(5)的信号输出端分别与二维转台(2)及信号源(4)的信号输入端连接，所述信号源(4)的信号输出端与喇叭天线(6)的信号输入端连接。


2.如权利要求1所述的用于被动微波探测的自动测试及数据分析结构，其特征在于：所述二维转台(2)包括底座(204)、支撑台(203)及顶板(201)，所述顶板(201)构成二维转台(2)的活动端，在所述顶板(201)上开设多个用于连接被动微波探测设备(1)的安装孔(202)；
所述周向动力机构包括安装在支撑台(203)内部的第一电机(211)，所述第一电机(211)的输...

【专利技术属性】
技术研发人员：王梓安，王基隆，郭晓华，王祥，
申请(专利权)人：无锡国芯微电子系统有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32