检测辅助装置以及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种检测辅助装置以及检测装置，其中检测辅助装置包括：待测试元件；安装板；测试探针，嵌入式安装于所述安装板上；转接组件，安装于所述安装板底部，且一端与所述测试探针连接另一端与所述待测试元件的引脚连接。本发明专利技术通过转接组件能够将测试探针上的驱动力减弱，进而减少测试探针对待测试元件上引脚的磨损，从而保证测试探针和待测试元件电性导通，且保证了待测试元件的使用寿命。

【技术实现步骤摘要】
检测辅助装置以及检测装置
本专利技术涉及检测
，尤其是涉及一种检测辅助装置以及检测装置。
技术介绍
目前，芯片或PCBA板制备成功后，需要对芯片或PCBA板的性能进行检测，因此，芯片和PCBA板作为待测试元件需要进行检测。随着待测试元件微型化的发展，大部分的待测试元件采用自动检测装置进行检测。自动检测装置需要连接微型的待测试元件引脚后，根据预先存储的测试程序进行检测。但是，目前自动检测装置上的测试探针在驱动力作用下直接连接芯片或待测试元件的引脚，由于测试探针与待测试元件上的引脚存在一定的间隙，因此上述情形下待测试元件上的引脚会产生轻微的滑动，多次测试后引脚会被磨损，一方面导致测试探针和芯片、PCBA板不导通，影响测试结果的准确性下降，另一方面降低了芯片或PCBA板的使用寿命。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种辅助检测装置，能够减少测试探针对芯片或PCBA板的磨损，保证测试结果的准确性，且保障芯片或PCBA板的使用寿命。本专利技术还提出一种检测装置。第一方面，本专利技术的一个实施例提供了检测辅助装置，包括：待测试元件；安装板；测试探针，嵌入式安装于所述安装板上；转接组件，设置于所述安装板底部，且一端与所述测试探针连接，另一端与所述待测试元件的引脚连接。本专利技术实施例的检测辅助装置至少具有如下有益效果：测试探针通过转接组件连接待测试元件的引脚，因此，转接组件能够将测试探针受到的作用力力减弱部分，因此转接组件连接待测试元件时的作用力减少，从而减少对待测试元件上引脚的磨损，从而保证了待测试元件和测试探针稳定地电性导通，且保证了待测试元件的使用寿命。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述转接组件包括：转接板，设置于所述安装板和所述待测试元件之间；转接针，安装于所述转接板内，且一端连接所述测试探针，另一端连接所述待测试元件的引脚。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述转接板包括：转接模具，设置于所述安装板底部，且所述转接针安装于所述转接模具内；转接PCB板，安装于所述转接模具和所述待测试元件之间。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述安装板上开设有连接槽，且所述安装板上开设有若干连通所述连接槽的第一连接孔，所述转接模具上开设有与所述第一连接孔对应的第二连接孔，所述转接针位于所述第二连接孔内且部分伸出所述第二连接孔，所述测试探针穿过所述第一连接孔与所述第二连接孔内的转接针连接。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述转接PCB板上开设有第三连接孔，所述转接针包括：第一转接部和第二转接部，所述第二转接部伸出所述第三连接孔，并与所述待测试元件的引脚连接。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述第一转接部的横截面积大于所述第三连接孔的横截面积。根据本专利技术的另一些实施例的检测辅助装置，所述第一转接部和所述第二转接部的形状为圆柱形，且所述第一转接部的直径大于所述第二转接部和所述第三连接孔的直径。第二方面，本专利技术的另一个实施例提供了检测装置，包括：如第一方面所述的检测辅助装置和检测装置本体。本专利技术实施例的检测装置至少具有如下有益效果：通过检测辅助装置，能够减少测试探针对待测试元件的磨损，且能够保证待测试元件和测试探针稳定连接。本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明图1是本专利技术实施例中检测辅助装置的一具体实施例结构示意图；图2是本专利技术实施例中检测辅助装置的一具体实施例俯视图；图3是图2中沿A-A线的剖视图。附图标记：100、安装板；110、连接槽；120、第一连接孔；200、测试探针；300、转接组件；310、转接模具；311、第二连接孔；320、转接针；321、第一转接部；322、第二转接部；330、转接PCB板；331、第三连接孔；340、转接板。具体实施方式以下将结合实施例对本专利技术的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本专利技术的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本专利技术的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本专利技术的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本专利技术保护的范围。在本专利技术的描述中，如果涉及到方位描述，例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。如果某一特征被称为“设置”、“固定”、“连接”、“安装”在另一个特征，它可以直接设置、固定、连接在另一个特征上，也可以间接地设置、固定、连接、安装在另一个特征上。在本专利技术实施例的描述中，如果涉及到“若干”，其含义是一个以上，如果涉及到“多个”，其含义是两个以上，如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”，均应理解为不包括本数，如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”，均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”，应当理解为用于区分技术特征，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。第一方面，本专利技术主要用于对待测试元件进行测试，其中待测试元件(图中未示出)包括：射频天线、芯片、元器件以及PCBA等，主要涉及连接引脚后进行电性测试的器件都可以采用本专利技术公开的检测辅助装置来辅助检测。参照图1和图3，本专利技术实施例公开了一种检测辅助装置，包括：待测试元件(图中未示出)，待测试元件(图中未示出)上方设置安装板100，且安装板100上嵌入式安装有测试探针200，且测试探针200可在安装板100上伸缩。安装板100靠近待测试元件(图中未示出)一侧设有转接组件300，转接组件300一端连接测试探针200，另一端连接待测试元件(图中未示出)上的引脚。当测试探针200插入安装板100后，测试探针200连接待测试元件(图中未示出)上的引脚，测试探针200通过转接组件300后再连接待测试元件(图中未示出)上的引脚。通过转接组件300能够将测试探针200向下的驱动力转接，且转接组件300将驱动力部分减弱，从而减弱转接组件300连接待测试元件(图中未示出)上引脚的力，使得待测试元件(图中未示出)上磨损程度降低，从而提高待测试元件(图中未示出)和测试探针200的连接稳定，既能够提高待测试元件(图中未示出)的测试准确性，又能够保证待测试元件(图中未示出)的寿命。参照图2和图3，在一些实施例中，转接组件300包括：转接板340和转接针320，且转接板340位于安装板100底部，转接针320位于转接板340内。...

【技术保护点】
1.一种检测辅助装置，包括：待测试元件；其特征在于，所述检测辅助装置包括：/n安装板；/n测试探针，嵌入式安装于所述安装板上；/n转接组件，设置于所述安装板底部，且一端与所述测试探针连接，另一端与所述待测试元件的引脚连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测辅助装置，包括：待测试元件；其特征在于，所述检测辅助装置包括：
安装板；
测试探针，嵌入式安装于所述安装板上；
转接组件，设置于所述安装板底部，且一端与所述测试探针连接，另一端与所述待测试元件的引脚连接。


2.根据权利要求1所述的检测辅助装置，其特征在于，所述转接组件包括：
转接板，设置于所述安装板和所述待测试元件之间；
转接针，安装于所述转接板内，且一端连接所述测试探针，另一端连接所述待测试元件的引脚。


3.根据权利要求2所述的检测辅助装置，其特征在于，所述转接板包括：转接模具，设置于所述安装板底部，且所述转接针安装于所述转接模具内；转接PCB板，安装于所述转接模具和所述待测试元件之间。


4.根据权利要求3所述的检测辅助装置，其特征在于，所述安装板上开设有连接槽，且所述安装板上开设有若干连通所述连接槽的第一连...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆小珊，温子豪，
申请(专利权)人：深圳市沃特邦检测仪器设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44