电路测试系统及电路测试方法技术方案

本公开内容涉及一种电路测试系统及电路测试方法。电路测试系统包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且用以接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。在扫描控制信号处于第一电平时，控制电路用以控制接口电路将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路；同时，将扫描链电路内寄存器采集到的信号位移输出给测试机台判读。在扫描控制信号处于第二电平时，控制电路用以控制接口电路将待测电路产生的响应信号传递至测试机台，并经由扫描链上的寄存器采集组合逻辑电路的运算结果。

【技术实现步骤摘要】
电路测试系统及电路测试方法
本公开内容关于一种电路测试系统，特别是能从测试机台接收测试信号，以判断待测电路是否异常的技术。
技术介绍
扫描链(Scanchain)是一种可测试性设计(DesignforTestability，DFT)的实现方式，通过在集成电路中配置多个寄存器，以对集成电路的各个区域进行检测，判断是否出现异常。然而，扫描链之技术并无法测试到集成电路上的所有区域，因此仍有改良的空间。
技术实现思路
本公开内容之一实施方式为一种电路测试系统，包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。扫描控制信号处于第一电平时，控制电路控制接口电路将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路。扫描控制信号处于第二电平时，控制电路控制接口电路将待测电路产生的响应信号传递至测试机台。附图说明图1为本公开内容所应用之微芯片示意图。图2为本公开内容部分实施例的电路测试系统示意图。图3为本公开本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路测试系统，包含：/n一控制电路，电性连接于一测试机台，且用以接收一扫描控制信号；以及/n一接口电路，电性连接于该控制电路、该测试机台、一扫描链电路及一待测电路；其中在该扫描控制信号处于一第一电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该测试机台传来的一扫描测试信号传送给该扫描链电路；/n在该扫描控制信号处于一第二电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该待测电路产生的一响应信号传递至该测试机台。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路测试系统，包含：
一控制电路，电性连接于一测试机台，且用以接收一扫描控制信号；以及
一接口电路，电性连接于该控制电路、该测试机台、一扫描链电路及一待测电路；其中在该扫描控制信号处于一第一电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该测试机台传来的一扫描测试信号传送给该扫描链电路；
在该扫描控制信号处于一第二电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该待测电路产生的一响应信号传递至该测试机台。


2.如权利要求1所述的电路测试系统，其中，该接口电路还包含：
一第一输入输出单元，在该扫描控制信号处于该第一电平时，该第一输入输出单元用以接收该扫描测试信号；以及
一第二输入输出单元，在该扫描控制信号处于该第一电平时，该第二输入输出单元用以将该扫描链电路产生的一扫描响应信号传递至该测试机台。


3.如权利要求2所述的电路测试系统，其中，在该扫描控制信号处于该第二电平时，该第二输入输出单元接口电路将该待测电路产生的该响应信号传递至该测试机台。


4.如权利要求2所述的电路测试系统，其中在该扫描控制信号处于该第二电平时，该第一输入输出单元接口电路将该待测电路产生的该响应信号传递至该测试机台。


5.如权利要求2所述的电路测试系统，其中该第一输入输出单元包含一第一控制端、一第一测试端及一第一输出端；该第一控制端电性连接于该控制电路，该第一测试端电性连接于该测试机台，该第一输出端电性连接于该扫描链电路；
其中该第二输入输出单元包含一第二控制端、一第二测试端及一第二输入端；该第二控制端电性连接于该控制电路，该第二测试端电性连接于该测试机台，该第二输入端电性连接于该扫描链电路。


6.如权利要求5所述的电路测试系统，其中该控制电路包含一开关电路及一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈莹晏，许烱发，杨嘉瑞，陈柏霖，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71