电路测试系统及电路测试方法技术方案

本公开内容涉及一种电路测试系统及电路测试方法。电路测试系统包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且用以接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。在扫描控制信号处于第一电平时，控制电路用以控制接口电路将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路；同时，将扫描链电路内寄存器采集到的信号位移输出给测试机台判读。在扫描控制信号处于第二电平时，控制电路用以控制接口电路将待测电路产生的响应信号传递至测试机台，并经由扫描链上的寄存器采集组合逻辑电路的运算结果。

【技术实现步骤摘要】
电路测试系统及电路测试方法
本公开内容关于一种电路测试系统，特别是能从测试机台接收测试信号，以判断待测电路是否异常的技术。
技术介绍
扫描链(Scanchain)是一种可测试性设计(DesignforTestability，DFT)的实现方式，通过在集成电路中配置多个寄存器，以对集成电路的各个区域进行检测，判断是否出现异常。然而，扫描链之技术并无法测试到集成电路上的所有区域，因此仍有改良的空间。
技术实现思路
本公开内容之一实施方式为一种电路测试系统，包含控制电路、接口电路、扫描链电路及待测电路。控制电路电性连接于测试机台，且接收扫描控制信号。接口电路电性连接于控制电路、测试机台、扫描链电路及待测电路。扫描控制信号处于第一电平时，控制电路控制接口电路将测试机台传来的扫描测试信号传送给扫描链电路。扫描控制信号处于第二电平时，控制电路控制接口电路将待测电路产生的响应信号传递至测试机台。附图说明图1为本公开内容所应用之微芯片示意图。图2为本公开内容部分实施例的电路测试系统示意图。图3为本公开内容部分实施例的电路测试系统波形图。图4A、图4B、图4C为本公开内容之实施例的开关电路示意图。图5为本公开内容部分实施例的电路测试方法流程图。图6为本公开内容部分实施例的电路测试系统示意图。图7、图8为本公开内容部分实施例的电路测试系统波形图。图9A、图9B、图9C为本公开内容部分实施例的开关电路示意图。图10为本公开内容部分实施例的电路测试方法流程图。具体实施方式请参阅图1所示，系本公开内容所应用之微芯片示意图。在部分实施例中，本公开内容的电路测试方法系用于检测微芯片中之电路。如图1所示，微芯片内包含多个待测电路C1～C3以及多个扫描单元R1～R3。扫描链技术可检测微芯片中的部分电路，而通过本公开内容之改良，则可提升检测的覆盖率(coverage)。在通过扫描链技术进行扫描测试(Scantest)时，检测过程包含位移模式(Shift)及采集模式(Capture)。在位移模式时，测试机台会根据扫描时钟(scanclock)产生的时钟信号，将扫描测试信号逐一输入至扫描单元R1～R3的寄存器中，此种将信号随着脉冲(pulse)输入的过程称为「位移(shift)」，如图中之虚线路径所示。而在采集模式时，扫描时钟会先停止输出时钟信号，等寄存器内的信号输出至待测电路C1～C3中(如图中之实线路径)，让待测电路C1～C3进行运算后；接着测试机台再继续发送时钟信号，使待测电路C1～C3将运算结果输出到扫描单元R1～R3中的寄存器中，此种运算后将结果输出到扫描单元R1～R3的过程称为采集。承上，在再次进入位移模式时，测试机台再次输出连续的时钟信号，同时，将新的扫描测试信号逐一输入至扫描单元R1～R3的寄存器中。此时，扫描单元R1～R3之寄存器内的运算结果会随着时钟信号输出至测试机台，判断是否与预期结果相符。然而，前述扫描测试并无法完全检测到所有的待测电路C1～C3。如图1所示，因为待测电路C1的输入端、待测电路C3的输出端皆未连接至扫描单元，因此，待测电路C1、C3将无法经由扫描链技术检测。传统扫描链测试技术若要提升待测电路C1、C3测试涵盖率，会在待测电路C1的输入端及待测电路C3的输出端上插入扫描包覆元件(SanWrapper)。扫描包覆元件的基本原理，是通过多工器在扫描模式时改变待测电路C1、C3与I/O接口电路真实工作模式(NormalMode)的电路接线，于是电器接线变成到一群可由扫描链控制的寄存器。故此改良方法并未涵盖到所有真实工作模式下的电器连线，而且也无法解决许多输入输出接口内部电路没被完整有效测试的问题。本公开内容能改善扫描链技术的覆盖率。请参阅图2所示，系本公开内容之部分实施例中的电路测试系统100示意图。电路测试系统100包含测试机台200、控制电路110、接口电路120、扫描链电路130及待测电路140。控制电路110通过接口电路120电性连接于测试机台200，以接收扫描控制信号SE、扫描辅助信号SF、时钟信号clk、扫描模式信号SM。图2所示仅为本公开内容之示意图，其中扫描链电路130可以包含多条扫描链(scanchains)及多个扫描时钟(scanclocks)。扫描控制信号SE是扫描测试中的一种控制信号，详情将于后文详述。接口电路120包含多个输入输出单元(input/outputcell)，电性连接于控制电路110、测试机台200、扫描链电路130及待测电路140。如图2所示，在部分实施例中，接口电路120至少包含第一输入输出单元120A、第二输入输出单元120B及第三输入输出单元120C。其中每一个输入输出单元皆可各自包含多个输入输出元件。待测电路140可视为图1中之待测电路C1、C3。在微芯片内的集成电路中，电路之间彼此互相关连，因此，虽然在图2中，将待测电路140示出为包含第一子电路140A及第二子电路140B，但此一示出方式仅是为了便于说明本案技术，并非限制第一子电路140A及第二子电路140为完全相互独立的电路。在部分实施例中，控制电路110系通过接口电路120接收扫描控制信号SE。接口电路120是作为微芯片与外部电路的传输接口。在部分实施例中，扫描链电路130即为前述微芯片中能通过扫描链技术进行检测的内部电路(可视为图1中之扫描单元R1、R2、R3和待测电路C2)。在此先说明电路测试系统100通过扫描链技术检测扫描链电路130的方式如后。在部分实施例中，扫描链电路130包含组合电路131及多个串联的扫描单元F1～F4。其中，组合电路131可包含多个检测区域，每个检测区域分别对应于一个扫描单元F1～F4。每个扫描单元F1～F4包含寄存器及多工器，多工器的控制端接收扫描控制信号SE，以让寄存器选择性地接收来自组合电路131或是前一个扫描单元的输出信号。在扫描控制信号SE处于第一电平时(如：致能电平)，扫描控制信号SE将扫描链电路130控制于位移模式。此时，测试机台200通过接口电路120中的第一输入输出单元120A及连续输出的时钟信号，随着时钟周期对扫描链电路130中的扫描单元F1～F4输入不同的扫描测试信号Sc1(如：0或1)。扫描单元F1～F4中的多工器将扫描测试信号Sc1输入至寄存器，且扫描单元F1～F4中的多工器选择接收前一个扫描单元的输出信号，因此扫描链单元F1～F4内的寄存器将形成为串联的结构连线。在扫描控制信号SE处于第二电平时(如：禁能电平)，扫描控制信号SE将扫描链电路130控制于采集模式(Capturemode)。此时，测试机台200停止输出时钟信号，使得扫描单元F1～F4内的多工器不接收扫描测试信号Sc1，而是将先前接收到的扫描测试信号Sc1传递至组合电路131中进行运算。接着，测试机台200恢复输出时钟信号，由于此时扫描单元F1～F4中的多工器会根据扫描控制信号SE，改为选择接收组合电路131及第二子电路140B的运算结果(如本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电路测试系统，包含：/n一控制电路，电性连接于一测试机台，且用以接收一扫描控制信号；以及/n一接口电路，电性连接于该控制电路、该测试机台、一扫描链电路及一待测电路；其中在该扫描控制信号处于一第一电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该测试机台传来的一扫描测试信号传送给该扫描链电路；/n在该扫描控制信号处于一第二电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该待测电路产生的一响应信号传递至该测试机台。/n

【技术特征摘要】
1.一种电路测试系统，包含：
一控制电路，电性连接于一测试机台，且用以接收一扫描控制信号；以及
一接口电路，电性连接于该控制电路、该测试机台、一扫描链电路及一待测电路；其中在该扫描控制信号处于一第一电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该测试机台传来的一扫描测试信号传送给该扫描链电路；
在该扫描控制信号处于一第二电平时，该控制电路用以控制该接口电路将该待测电路产生的一响应信号传递至该测试机台。


2.如权利要求1所述的电路测试系统，其中，该接口电路还包含：
一第一输入输出单元，在该扫描控制信号处于该第一电平时，该第一输入输出单元用以接收该扫描测试信号；以及
一第二输入输出单元，在该扫描控制信号处于该第一电平时，该第二输入输出单元用以将该扫描链电路产生的一扫描响应信号传递至该测试机台。


3.如权利要求2所述的电路测试系统，其中，在该扫描控制信号处于该第二电平时，该第二输入输出单元接口电路将该待测电路产生的该响应信号传递至该测试机台。


4.如权利要求2所述的电路测试系统，其中在该扫描控制信号处于该第二电平时，该第一输入输出单元接口电路将该待测电路产生的该响应信号传递至该测试机台。


5.如权利要求2所述的电路测试系统，其中该第一输入输出单元包含一第一控制端、一第一测试端及一第一输出端；该第一控制端电性连接于该控制电路，该第一测试端电性连接于该测试机台，该第一输出端电性连接于该扫描链电路；
其中该第二输入输出单元包含一第二控制端、一第二测试端及一第二输入端；该第二控制端电性连接于该控制电路，该第二测试端电性连接于该测试机台，该第二输入端电性连接于该扫描链电路。


6.如权利要求5所述的电路测试系统，其中该控制电路包含一开关电路及一...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈莹晏，许烱发，杨嘉瑞，陈柏霖，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71