激光器bar条测试方法及设备技术

本发明专利技术提供了一种激光器bar条测试方法，包括：将bar条上料至供料装置；将bar条移动放置在测试平台，并将bar条固定在测试平台；利用测试平台将所述bar条运送到测试区域，使需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；对激光器芯片加电，人工判断bar条位置是否正确，激光器芯片加电是否成功；对激光器芯片进行liv测试和光谱测试；判断是否为bar条上的最后一颗激光器芯片；将bar条吸取放回至所述供料装置。本发明专利技术测试过程设计合理，测试精确度高，测试过程自动化程度高，降低了对操作人员的操作要求及劳动强度，有效提升了测试效率，实现了高效、高质、安全的激光器bar条测试。

【技术实现步骤摘要】
激光器bar条测试方法及设备
本专利技术涉及激光器bar条检测
，特别涉及一种激光器bar条测试方法及设备。
技术介绍
激光器bar条是由多个半导体单管并排形成的激光器单条，具有功率转换效率高、体积小等诸多优点，在泵浦固体激光器、光纤放大器、工业、激光医学、光存储、军事等领域呈现出良好的应用前景。在激光器bar条的生产工艺中，激光器bar条在生产后需要模拟工作状态(一定温度和导电状态)来测试其参数，以往的测试过程中通常采用人工利用器件夹持激光器bar条，并手动对激光器bar条加电以模拟实际工作情况，并借助测试设备，如光谱测试仪器、电流测试仪器对其进行测试，但这种人工测试方式测试精度通常不高，同时由于激光器bar条体积较小，长度18mm，其宽度仅0.3mm左右，因此操作人员工作难度较高，工作量和劳动强度较大，同时由于测试流程较为复杂繁琐，人工操作极易出现误差从而导致测试偏差大，甚至由于人工操作错误造成元器件损坏进而影响bar条生产成品率从而提高生产成本。
技术实现思路
本专利技术提供了一种激光器bar条测试方法及设备，其目的是为了提高测试过程的自动化程度和检测精度，提升测试可靠性，减少原件损坏提高成品率，降低操作人员工作强度。为了达到上述目的，本专利技术的实施例提供了一种激光器bar条测试方法，包括：步骤一，将bar条上料至供料装置；步骤二，从所述供料装置吸取一根所述bar条移动放置在测试平台，同时将所述bar条固定在所述测试平台；步骤三，通过视觉识别利用所述测试平台将所述bar条从上料区域精确运送到测试区域，使所述bar条上需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；步骤四，对所述bar条上需要测试的所述激光器芯片加电，人工判断所述bar条位置是否正确，所述激光器芯片加电是否成功，若不成功则返回步骤三；步骤五，对所述激光器芯片进行liv测试，liv测试完成后对所述激光器芯片进行光谱测试；步骤六，判断所述激光器芯片是否为所述bar条上的最后一颗激光器芯片，若不是最后一颗激光器芯片，则返回步骤三；步骤七，通过所述测试平台将所述bar条从测试区域移动到上料区域，并将所述bar条吸取放回至所述供料装置。其中，步骤三中通过视觉识别能够确认所述bar条上的首颗所述激光器芯片，后续未测试的所述激光器芯片的测试过程自动完成。其中，步骤五中liv测试需要测试所述激光器芯片的光功率、电流和电压，光谱测试需要测试所述激光器芯片的光谱，所述激光器芯片通过积分球和光电探头测试光功率，通过电流表和电压表测试电流和电压，通过光谱仪测试光谱。其中，所述积分球顶部设置有收光透镜，所述收光透镜连接有一光纤，所述光纤连通所述光谱仪，步骤五中将所述积分球竖直向下位移，进行光谱测试。其中，在步骤四中对所述激光器芯片加电的同时，所述电流表和电压表被接入到了所述激光器芯片的加电回路中。本专利技术的实施例还提供了一种激光器bar条测试设备，包括：底板、安装板、横梁架、bar条供给座、基板座、输送装置、加电装置、测试装置和识别装置；所述bar条供给座固定安装在所述安装板的一侧，所述bar条供给座的顶部活动地安装有bar条料盒，所述bar条料盒均匀设置有多个限位颗，相邻的所述限位颗之间的纵向间隙用于放置所述bar条用于放置bar条；所述基板座底部设置有一基板Y轴滑轨，所述基板座通过所述基板Y轴滑轨具有Y轴方向自由度，所述基板座安装在所述安装板的另一侧，所述基板座的顶部设置有基板，所述基板用于放置所述bar条，所述基板的底部设置有多个气孔，所述气孔通有负压用于吸附固定所述bar条；所述输送装置滑动地安装在所述横梁架上，所述输送装置具有吸附功能，所述输送装置用于将所述bar条在所述基板座和bar条供给座之间运输；所述加电装置用于向所述bar条上的激光器芯片供电；所述基板座用于为所述bar条提供测试场地；所述识别装置用于识别所述bar条的位置。其中，所述输送装置包括吸附装置、吸嘴X轴驱动器和吸嘴Z轴驱动器，所述吸附装置的底部设置有吸嘴，所述吸嘴通设负压，所述吸附装置通过所述吸嘴X轴驱动器和吸嘴Z轴驱动器具有X轴方向和Z轴方向自由度，所述吸嘴X轴驱动器通过一吸嘴X电机驱动，所述吸嘴Z轴驱动器通过一吸嘴Z电机驱动，所述吸嘴X轴驱动器固定安装在所述横梁架上，所述吸嘴Z轴驱动器沿竖直于水平面方向固定安装在所述吸嘴X轴驱动器的滑板上，所述吸附装置固定安装在所述吸嘴Y轴滑轨的滑板侧方底部。其中，所述加电装置包括加电高度滑台和探针夹具，所述探针夹具设置有一个或两个，所述探针夹具用于装夹探针，所述加电高度滑台固定安装在所述横梁架靠近所述基板座一侧的支柱上，在所述探针夹具通过探针手动调整平台安装在所述加电高度滑台上。其中，所述测试机构包括背光测试探头、第一发散光探头、第二发散光探头和积分球，所述背光测试探头通过两个叠加设置的背光手动位移台固定安装在所述横梁架的靠近所述基板座一侧支柱上，所述背光测试探头的设置在所述基板座的后方；所述第一发散光探头和第二发散光探头分别设置在所述基板座的前方和所述基板座的一侧，所述第一发散光探头和第二发散光探头分别通过第一旋转电机和第二旋转电机驱动旋转；所述积分球通过积分球X轴驱动器和积分球Z轴驱动器固定安装在所述bar条供给座的一侧，所述积分球X轴驱动器和积分球Z轴驱动器分别由积分球X电机和积分球Z电机驱动；所述积分球X轴驱动器固定安装在所述bar条供给座的一侧，所述积分球Z轴驱动器固定安装在所述积分球X轴驱动器的滑板上，所述积分球设置在所述积分球Z轴驱动器的滑板上，所述积分球的测试口朝向所述基板座设置，所述积分球的顶面安装有收光透镜，所述收光透镜后方连接有光纤，所述光纤连通一光谱仪。其中，所述识别装置包括识别相机、镜筒和手动调整装置，所述镜筒通过所述手动调整装置安装在所述横梁架上，所述镜筒的镜头朝下设置，所述识别相机安装在所述镜筒的顶部。本专利技术的上述方案有如下的有益效果：本专利技术的激光器bar条测试方法通过视觉识别确认激光器芯片的位置，分别通过liv测试和光谱测试在测试平台上鉴定激光器芯片是否合格从而提高了测试精准程度，在加电的关键步骤中通过简单的人工肉眼识别判断提升了测试过程整体的可靠性，同时人工参与程度较低；另外在测试过程中会逐一对bar条上的每颗激光器芯片进行测试，若发现测试完成的激光器芯片不是bar条上的最后一颗，则会将bar条再次移动对下一颗激光器芯片进行加电并测试，从而进一步提升了测试过程的自动化程度以及可靠性。本专利技术的激光器bar条测试装置，设置有bar条供给座、基板座、输送装置、加电装置、测试装置和识别装置；其中bar条供给座通过设置多个限位颗均匀放置bar条物料，基板座通过气孔牢固吸附bar条物料并通过基板Y轴滑轨将bar条进行Y轴方向搬运，输送装置通过吸嘴X轴驱动器和吸嘴Z轴驱动器对吸附装置进行X轴方向和Z轴方向位移从而将bar条运输于bar条供给座和基板座之间，加电装置通过加电高度滑台调节探针夹具本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光器bar条测试方法，其特征在于，包括：/n步骤一，将bar条上料至供料装置；/n步骤二，从所述供料装置吸取一根所述bar条移动放置在测试平台，同时将所述bar条固定在所述测试平台；/n步骤三，通过视觉识别利用所述测试平台将所述bar条从上料区域精确运送到测试区域，使所述bar条上需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；/n步骤四，对所述bar条上需要测试的所述激光器芯片加电，人工判断所述bar条位置是否正确，所述激光器芯片加电是否成功，若不成功则返回步骤三；/n步骤五，对所述激光器芯片进行liv测试，liv测试完成后对所述激光器芯片进行光谱测试；/n步骤六，判断所述激光器芯片是否为所述bar条上的最后一颗激光器芯片，若不是最后一颗激光器芯片，则返回步骤三；/n步骤七，通过所述测试平台将所述bar条从测试区域移动到上料区域，并将所述bar条吸取放回至所述供料装置。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光器bar条测试方法，其特征在于，包括：
步骤一，将bar条上料至供料装置；
步骤二，从所述供料装置吸取一根所述bar条移动放置在测试平台，同时将所述bar条固定在所述测试平台；
步骤三，通过视觉识别利用所述测试平台将所述bar条从上料区域精确运送到测试区域，使所述bar条上需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；
步骤四，对所述bar条上需要测试的所述激光器芯片加电，人工判断所述bar条位置是否正确，所述激光器芯片加电是否成功，若不成功则返回步骤三；
步骤五，对所述激光器芯片进行liv测试，liv测试完成后对所述激光器芯片进行光谱测试；
步骤六，判断所述激光器芯片是否为所述bar条上的最后一颗激光器芯片，若不是最后一颗激光器芯片，则返回步骤三；
步骤七，通过所述测试平台将所述bar条从测试区域移动到上料区域，并将所述bar条吸取放回至所述供料装置。


2.根据权利要求1所述的激光器bar条测试方法，其特征在于，步骤三中通过视觉识别能够确认所述bar条上的首颗所述激光器芯片，后续未测试的所述激光器芯片的测试过程自动完成。


3.根据权利要求1所述的激光器bar条测试方法，其特征在于，步骤五中liv测试需要测试所述激光器芯片的光功率、电流和电压，光谱测试需要测试所述激光器芯片的光谱，所述激光器芯片通过积分球和光电探头测试光功率，通过电流表和电压表测试电流和电压，通过光谱仪测试光谱。


4.根据权利要求3所述的激光器bar条测试方法，其特征在于，所述积分球顶部可设置收光透镜，所述收光透镜用于连接光纤，所述光纤连通所述光谱仪，步骤五中将所述积分球竖直向下位移，进行光谱测试。


5.根据权利要求3所述的激光器bar条测试方法，其特征在于，在步骤四中对所述激光器芯片加电的同时，所述电流表和电压表被接入到了所述激光器芯片的加电回路中。


6.一种激光器bar条测试设备，应用于权利要求1-5中任一一项所述的激光器bar条测试方法，其特征在于，包括：底板、安装板、横梁架、bar条供给座、基板座、输送装置、加电装置、测试装置和识别装置；所述bar条供给座固定安装在所述安装板的一侧，所述bar条供给座的顶部活动地安装有bar条料盒，所述bar条料盒均匀设置有多个限位颗，相邻的所述限位颗之间的纵向间隙用于放置所述bar条用于放置bar条；所述基板座底部设置有一基板Y轴滑轨，所述基板座通过所述基板Y轴滑轨具有Y轴方向自由度，所述基板座安装在所述安装板的另一侧，所述基板座的顶部设置有基板，所述基板用于放置所述bar条，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：段吉安，卢胜强，唐佳，徐聪，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：湖南;43