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本发明提供了一种激光器bar条测试方法，包括：将bar条上料至供料装置；将bar条移动放置在测试平台，并将bar条固定在测试平台；利用测试平台将所述bar条运送到测试区域，使需要测试的激光器芯片处于测试区域的中心位置；对激光器芯片加电，人工...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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