一种透射光相位信息表征装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种透射光相位信息表征装置及其测量方法，该装置由两部分组成光路1与光路2，包括：光源、起偏器、第一1/4波片、第一偏振分束器、第一样品台、第二偏振分束器、第一反射镜、第二样品台、第二反射镜、第二1/4波片、检偏器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路1与光路2，汇聚于第二偏振分束器。本装置可以同时测量样品透射光的强度和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。

【技术实现步骤摘要】
一种透射光相位信息表征装置及其测量方法
本专利技术涉及，电磁波相位信息探测
，尤其是涉及一种紫外、可见-红外等波段光谱型透射光强度与相位信息表征系统的研制及测试方法。
技术介绍
相位是描述电磁波重要的基本物理量之一。对透射波来说，当电磁波入射到由两种不同介质组成的界面上时，其一般不会发生相位变化，但当电磁波在具有一定厚度的介质中传播时，随着光程的增加会带来相位的积累；当电磁波入射到由周期性空间结构组成的光栅时，透射波的相位会受到很大的调制，并由此而产生有趣的衍射现象。近年来，由亚波长人工微结构单元组成的超构材料(超构表面)吸引了人们的广泛关注，这种材料具有自然材料所不具有的奇特性质，并带来了新的物理现象和有趣的应用。例如，当光束由常规材料(折射率为正)入射到具有负折射率的超构材料的交界面上时，会发生“负折射”现象，即折射光线与入射光线位于界面法线的同侧；当电磁波在负折射率超构材料中传播时，随着光程的增加，相位积累为负值。由此可见，要想全面准确地掌握电磁波的传播行为，清楚知晓其相位信息十分重要。然而，现有技术对于相位信息的检测方法并不多见，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透射光相位信息表征装置，包括：光源(1)、起偏器(2)、第一1/4波片(3)、第一偏振分束器(4)、第一样品台(5)、第二偏振分束器(6)、第一反射镜(7)、第二样品台(8)、第二反射镜(9)、第二1/4波片(10)、检偏器(11)、探测器(12)，其特征在于：/n从光源(1)出来的光首先经过起偏器(2)、第一1/4波片(3)，其次经过第一偏振分束器(4)将光路分为光路1与光路2，光路1的光经过第一样品台(5)上被测样件后进入第二偏振分束器(6)，光路2的光经过第一反射镜(7)、第二样品台(8)上标准样件、第二反射镜(9)后进入第二偏振分束器(6)，汇合后的两束光同时出射依次经过第二1...

【技术特征摘要】
1.一种透射光相位信息表征装置，包括：光源(1)、起偏器(2)、第一1/4波片(3)、第一偏振分束器(4)、第一样品台(5)、第二偏振分束器(6)、第一反射镜(7)、第二样品台(8)、第二反射镜(9)、第二1/4波片(10)、检偏器(11)、探测器(12)，其特征在于：
从光源(1)出来的光首先经过起偏器(2)、第一1/4波片(3)，其次经过第一偏振分束器(4)将光路分为光路1与光路2，光路1的光经过第一样品台(5)上被测样件后进入第二偏振分束器(6)，光路2的光经过第一反射镜(7)、第二样品台(8)上标准样件、第二反射镜(9)后进入第二偏振分束器(6)，汇合后的两束光同时出射依次经过第二1/4波片(10)、检偏器(11)，最后进入探测器(12)。


2.根据权利要求1所述的一种透射光相位信息表征装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝加明，李晓温，俞伟伟，文政绩，周子骥，刘锋，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31