【技术实现步骤摘要】
光谱成像分析系统及光谱成像分析方法
本专利技术涉及光谱成像
，尤其涉及一种光谱成像分析系统及光谱成像分析方法。
技术介绍
光谱成像技术通常用于物质成分及组分分析，光谱成像技术可获得物质轮廓纹理信息，光谱分析和成像相结合的光谱成像分析系统可测得图像每个像素的对应物质的化学成分，可在复杂背景下检测和识别高价值目标。在相关技术中，基于液晶可调谐滤波器、声光调谐滤波器分光的凝视式光谱成像分析系统采用可编程调谐的滤光片进行光谱分光，一次采集一个窄带光谱图像，分时多次采集完成图像每像素的光谱拼接，且对各波段图像需要像素级的配准以获得光谱图像数据；基于光栅分光的推扫式光谱成像分析系统通过光栅的缝隙将目标切割成多条线目标，通过推扫的方式获取多条线目标的光谱数据，且同一线目标上各点的光谱信息是同时采集的，最后将多条线目标的光谱信息进行拼接以获得观察目标光谱图像数据；快照式光谱成像分析系统通常把多个像素分为一组，组合成一个“光谱像素”，在“光谱像素”的每个像素镀上特定波长的窄带滤光材料，获取多个波段的光谱信息。但凝...
【技术保护点】
1.一种光谱成像分析系统，其特征在于，其沿光入射方向依次包括：/n成像透镜阵列，所述成像透镜阵列获取待测目标的原始图像；/n光计算芯片，所述光计算芯片的焦面在所述成像透镜阵列的焦面上，所述光计算芯片包括沿所述光入射方向依次设置的起偏振器、液晶相位延迟器阵列和检偏振器，所述起偏振器位于所述液晶相位延迟器阵列靠近所述成像透镜阵列的一侧，所述检偏振器位于所述液晶相位延迟器阵列远离所述成像透镜阵列的一侧，所述光计算芯片接收所述原始图像，并通过所述起偏振器对所述原始图像进行偏振处理，再通过所述液晶相位延迟器阵列对偏振后的所述原始图像进行干涉处理以获得入射光谱且同时产生一组与所述入射光...
【技术特征摘要】
1.一种光谱成像分析系统，其特征在于，其沿光入射方向依次包括：
成像透镜阵列，所述成像透镜阵列获取待测目标的原始图像；
光计算芯片，所述光计算芯片的焦面在所述成像透镜阵列的焦面上，所述光计算芯片包括沿所述光入射方向依次设置的起偏振器、液晶相位延迟器阵列和检偏振器，所述起偏振器位于所述液晶相位延迟器阵列靠近所述成像透镜阵列的一侧，所述检偏振器位于所述液晶相位延迟器阵列远离所述成像透镜阵列的一侧，所述光计算芯片接收所述原始图像，并通过所述起偏振器对所述原始图像进行偏振处理，再通过所述液晶相位延迟器阵列对偏振后的所述原始图像进行干涉处理以获得入射光谱且同时产生一组与所述入射光谱对应的基频与谐波，所述液晶相位延迟器阵列根据所述基频和所述谐波构建该入射光谱的光谱回归函数，通过所述检偏振器检测所述入射光谱的偏振干涉态信息；以及，
图像传感器，所述图像传感器接收所述入射光谱，利用压缩光学传感算法生成一组含有空间信息和偏振干涉态信息的光谱图像序列，并根据所述光谱回归函数对所述入射光谱进行光谱分析处理以计算出与该光谱图像序列对应的物质物理化学量信息。
2.根据权利要求1所述的光谱成像分析系统，其特征在于，所述起偏振器的偏振方向与所述液晶相位延迟器阵列的光轴方向之间的夹角为45°。
3.根据权利要求1所述的光谱成像分析系统，其特征在于，所述检偏振器包括相互连接的第一区域和第二区域，所述第一区域的偏振方向与所述液晶相位延迟器的光轴方向之间的夹角为45°，所述第二区域的偏振方向与的所述液晶相位延迟器的光轴方向之间的夹角为135°。
4.根据权利要求1所述的光谱成像分析系统，其特征在于，所述光计算芯片还包括设置于所述液晶相位延迟器阵列与所述检偏振器之间的固定相位延迟片，所述固定相位延迟片用于对所述入射光谱进行相位延迟量为的干涉处理。
5.根据权利要求1所述的光谱成像分析系统，其特征在于，所述成像透镜阵列包括多个呈阵列分布的透镜单元，所述液晶相位延迟器阵列包括多个呈阵列分布的液晶单元，所述液晶单元与所述透镜单元一一对应设...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗飞，梁洪易，刘湘宇，梁朝阳，
申请(专利权)人：深圳市中达瑞和科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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