一种用于半导体动态参数测试的工装夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及检测装置技术领域，具体为一种用于半导体动态参数测试的工装夹具，底座上表面的居中位置转动安装有中间基块，中间基块侧面的底端固定连接有连接板，检测台沿连接板的轴向滑动卡接在连接板的上表面，中间基块内腔设置的第一电机的动力是输出端连接有螺纹杆，螺纹杆与检测台侧面开设的螺纹通孔螺纹套接，底座上表面的一端位置固定连接有基架，基架顶部的水平延伸端固定连接有伸缩杆，伸缩杆的伸出端竖直向下设置，且检测探头固定连接在伸缩杆伸出端的底端，底座的内腔设置有驱动中间基块转动的动力装置，检测台的上表面固定连接有吸盘；解决了目前夹具不具备将半导体触点自动调整至与测试端子相对应位置的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于半导体动态参数测试的工装夹具
本技术涉及检测装置
，具体为一种用于半导体动态参数测试的工装夹具。
技术介绍
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。半导体在实际应用时，往往需要对其动态参数进行测试。传统的半导体测试装置一般兼备夹持和测试的功能。为测试半导体内部的元件功能，传统的半导体测试夹具上通常布置有测试线路，待半导体产品被夹具夹持固定后，该测试线路与半导体上的导电触点接触，此时半导体在夹具上则可通过测试仪器的端子(如金属探针)接触从而作模拟试验或测试，继而该测试仪器则能获取半导体产品的相关测试数据。但是，将半导体安装在夹具上时，必须使其触点与测试端子正好接触，操作不便。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于半导体动态参数测试的工装夹具，用于解决目前夹具不具备将半导体触点自动调整至与测试端子相对应位置的问题。为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于半导体动态参数测试的工装夹具，包括底座(1)和检测探头(2)，所述底座(1)的上表面设置有检测台(3)，其特征在于：所述底座(1)上表面的居中位置转动安装有中间基块(4)，所述中间基块(4)侧面的底端固定连接有连接板(41)，所述检测台(3)沿所述连接板(41)的轴向滑动卡接在所述连接板(41)的上表面，所述中间基块(4)的内腔设置有第一电机(5)，所述第一电机(5)的动力是输出端连接有螺纹杆(7)，所述螺纹杆(7)与所述检测台(3)侧面开设的螺纹通孔螺纹套接，所述底座(1)上表面的一端位置固定连接有基架(11)，所述基架(11)呈倒L形，且基架(11)顶部的水平延伸端固定连接有伸...

【技术特征摘要】
1.一种用于半导体动态参数测试的工装夹具，包括底座(1)和检测探头(2)，所述底座(1)的上表面设置有检测台(3)，其特征在于：所述底座(1)上表面的居中位置转动安装有中间基块(4)，所述中间基块(4)侧面的底端固定连接有连接板(41)，所述检测台(3)沿所述连接板(41)的轴向滑动卡接在所述连接板(41)的上表面，所述中间基块(4)的内腔设置有第一电机(5)，所述第一电机(5)的动力是输出端连接有螺纹杆(7)，所述螺纹杆(7)与所述检测台(3)侧面开设的螺纹通孔螺纹套接，所述底座(1)上表面的一端位置固定连接有基架(11)，所述基架(11)呈倒L形，且基架(11)顶部的水平延伸端固定连接有伸缩杆(8)，所述伸缩杆(8)的伸出端竖直向下设置，且检测探头(2)固定连接在所述伸缩杆(8)伸出端的底端，所述底座(1)的内腔设置有驱动所述中间基块(4)转动的动力装置，所述检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱岩枫，
申请(专利权)人：安徽中凌电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：安徽;34