一种直线检测方法及装置制造方法及图纸

本申请提供了一种直线检测方法，该方法包括：获取待检测图像；然后根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值；再将各个像素点的位置坐标映射到极坐标系中得到各个像素点对应的映射直线，并确定所述极坐标系中至少两条映射直线相交的特征点；最后，根据经过每个特征点的每条映射直线对应的像素点的梯度值，确定所述待检测图像中的直线。通过这种方法可以提高直线检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种直线检测方法及装置
本申请涉及图像处理
，尤其是涉及一种直线检测方法及装置。
技术介绍
图像中的物体很多都包含了直线的结构，通过检测图像中的直线，可以获取物体的特征信息。例如在对元器件进行检测时，可以通过检测元器件两个边缘的直线，并对直线之间的距离进行检测，便可以获得元器件的宽度。现有技术中对直线的检测主要通过霍夫变换进行检测，将二维图像中的每个像素点对应映射到极坐标系中，因为二维直角坐标系中的点对应极坐标系中的直线，因此通过在极坐标系中统计通过同一点的直线的个数，并将个数大于设定阈值的点确定为二维直角坐标系中所对应的直线。然而这种方法，统计的是在同一条直线上的点的个数，对于直线的检测准确率较低。
技术实现思路
有鉴于此，本申请的目的在于提供一种直线检测方法及装置，以提高直线检测的准确率。第一方面，本申请实施例提供了一种直线检测方法，包括：获取待检测图像；根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值；>将各个像素点的位置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种直线检测方法，其特征在于，包括：/n获取待检测图像；/n根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值；/n将各个像素点的位置坐标映射到极坐标系中得到各个像素点对应的映射直线，并确定所述极坐标系中至少两条映射直线相交的特征点；/n根据经过每个特征点的每条映射直线对应的像素点的梯度值，确定所述待检测图像中的直线。/n

【技术特征摘要】
1.一种直线检测方法，其特征在于，包括：
获取待检测图像；
根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值；
将各个像素点的位置坐标映射到极坐标系中得到各个像素点对应的映射直线，并确定所述极坐标系中至少两条映射直线相交的特征点；
根据经过每个特征点的每条映射直线对应的像素点的梯度值，确定所述待检测图像中的直线。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据经过每个特征点的每条映射直线对应的像素点的梯度值，确定所述待检测图像中的直线，包括：
计算经过每个特征点的每条映射直线对应的像素点的梯度值之间的梯度总和；
将梯度总和满足预设条件的特征点，确定为目标特征点；
将经过所述目标特征点的每条映射直线对应的像素点所组成的直线，确定为所述待检测图像中的直线。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，将梯度总和满足预设条件的特征点，确定为目标特征点，包括：
将梯度总和大于预设阈值的特征点，确定为目标特征点；或者，
将每个特征点对应的梯度总和由大到小排列，将排列在前N位的特征点，确定为目标特征点，N为正整数。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值，包括：
根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点分别对应的原始梯度值；
在对各个像素点中原始梯度值不在预设梯度范围内的像素点的原始梯度值进行调整后，得到各个像素点分别对应的梯度值。


5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对各个像素点中原始梯度值不在预设梯度范围内的像素点的原始梯度值进行调整，包括：
针对所述原始梯度值小于所述预设梯度范围的最小值的第一类像素点，将各个所述第一类像素点分别对应的原始梯度值调整为所述预设梯度范围的最小值；
针对所述原始梯度值大于所述预设梯度范围的最大值的第二类像素点，将各个所述第二类像素点分别对应的原始梯度值调整为所述预设梯度范围的最大值。


6.一种直线检测装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取待检测图像；
第一确定模块，用于根据所述待检测图像中各个像素点的水平方向的水平梯度和垂直方向的垂直梯度，确定各个像素点的梯度值；
映射模块，用于将各个像素点的位置坐标映射到极坐标系中得到各个像素点对应的映射直线，并确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永祯，于仕琪，徐栋，
申请(专利权)人：银河水滴科技北京有限公司，中科水滴科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11