一种芯片检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片检测装置，用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。该芯片检测装置包括导电载具、第一导电部件、第二导电部件、和升降机构。导电载具用于支撑待测试的芯片和向芯片供电。第一导电部件包括第一接口，第一接口和导电载具电连接。第二导电部件包括第二接口，第二导电部件用于向第二接口提供获取的电能。第二导电部件和升降机构固定连接，升降机构用于控制第二导电部件沿垂直方向移动，以控制第二接口和第一接口抵接和分离。当第二接口和第一接口抵接时，第二接口和第一接口电连接。这样，通过升降机构可控制第二接口和第一接口的抵接和分离状态，方便地实现了对芯片的供电电路的开断操作。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测装置
本技术涉及检测设备领域，尤其涉及一种芯片检测装置。
技术介绍
芯片也称为集成电路(IntegratedCircuit，IC)，是一种高价值和高精度的零部件，需要对其进行严格的产品检测。在对芯片进行检测时，需要对芯片供电，以检测芯片的工作状态是否异常。现有的对待检测的芯片进行供电的方式为，将待检测的芯片放置在供电装置上，该供电装置与电源通过导线连接，以从电源获取电能。但是，这样的供电方式，不能方便地控制供电电路的开断，从而限制了对芯片的检测场景。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种芯片检测装置，用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种芯片检测装置，包括：导电载具，所述导电载具用于支撑待测试的芯片和向所述芯片供电；第一导电部件，所述第一导电部件包括第一接口，所述第一接口和所述导电载具电连接；第二导电部件，所述第二导电部件包括第二接口，所述第二接口位于所述第一接口的下方，所述第二导电部件用于向所述第二接口提供获取的电能；升降机构，所述第二导电部件和所述升降机构固定连接，所述升降机构用于控制所述第二导电部件沿垂直方向移动，以控制所述第二接口和所述第一接口抵接和分离；当所述第二接口和所述第一接口抵接时，所述第二接口和所述第一接口电连接。可选地，所述第一导电部件为PCB转接板，所述第一接口为触片结构的部件。可选地，所述第二导电部件为包括探针的PCB部件，所述第二接口为所述探针的端面。可选地，所述升降机构包括支撑座、滑动部件、丝杆和电机；所述滑动部件设有通孔，所述丝杆和所述滑动部件的通孔螺纹连接，所述丝杆和所述电机的输出轴固定连接，所述第二导电部件和所述滑动部件固定连接，所述滑动部件和所述支撑座沿垂直方向滑动连接。可选地，所述支撑座设有引导轨道，所述引导轨道沿垂直方向延伸；所述滑动部件设有滑槽，所述滑槽沿垂直方向延伸；所述滑槽和所述引导轨道滑动连接。可选地，所述引导轨道包括间隔设置的第一引导轨道和第二引导轨道；所述滑动部件在相背的两侧面分别设有一所述滑槽，一所述滑槽和所述第一引导轨道滑动连接，另一所述滑槽和所述第二引导轨道滑动连接。可选地，所述芯片检测装置还包括载具平台和容置部件，所述容置部件设置在所述载具平台上，所述导电载具设置在所述载具平台上；所述容置部件包括中空的容置腔，所述容置部件位于所述导电载具的上方，所述容置腔的底部为所述导电载具的表面；所述容置腔用于容置所述芯片。可选地，所述芯片检测装置还包括固定块和弹性件，所述固定块设置在所述载具平台上；所述容置部件包括第一压板和第二压板；所述第二压板和所述载具平台滑动连接，所述第二压板位于所述第一压板和所述固定块之间；所述弹性件的一端和所述第二压板连接，所述弹性件的另一端和所述固定块连接；所述第一压板的靠近所述第二压板的一侧设有第一安装位，所述第二压板的靠近所述第一压板的一侧设有第二安装位；当所述弹性件作用于所述第二压板以使所述第二压板靠近所述第一压板时，所述第一安装位和所述第二安装位形成所述容置腔。可选地，所述芯片检测装置还包括顶杆；所述顶杆和所述升降机构连接，所述升降机构还用于控制所述顶杆沿垂直方向移动；所述顶杆的顶部的横截面沿从上至下的方向逐渐增大，所述顶杆的顶部位于所述第一压板和所述第二压板之间，所述顶杆用于通过抵接所述第一压板和所述第二压板，以分离所述第一压板和所述第二压板。可选地，所述芯片检测装置还包括转盘和驱动电机，所述驱动电机的输出轴和所述转盘的中部固定连接；所述载具平台设置在所述转盘上。本技术的有益效果：本技术实施例的芯片检测装置包括导电载具、第一导电部件、第二导电部件、和升降机构。其中，导电载具用于支撑待测试的芯片和向芯片供电。第一导电部件包括第一接口，第一接口和导电载具电连接。第二导电部件包括第二接口，第二接口位于第一接口的下方，第二导电部件用于向第二接口提供获取的电能。第二导电部件和升降机构固定连接，升降机构用于控制第二导电部件沿垂直方向移动，以控制第二接口和第一接口抵接和分离。当第二接口和第一接口抵接时，第二接口和第一接口电连接。这样，通过升降机构可控制第二接口和第一接口的抵接和分离状态。当第二接口和第一接口抵接时，对芯片的供电电路执行开路，实现对芯片的供电；当第二接口和第一接口分离时，对芯片的供电电路执行断路，停止对该芯片供电。从而，方便地实现了对芯片的供电电路的开断操作。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本技术实施例提供的一种芯片检测装置的结构示意图；图2为图1所示的芯片检测装置的局部A的放大图；图3为图1所示的芯片检测装置的另一结构示意图；图4为图3所示的芯片检测装置的局部B的放大图；图5为图1所示的芯片检测装置的拆除部分结构后的结构示意图；图6为图5所示的芯片检测装置的局部C的放大图。图中：1、导电载具；2、第一导电部件；3、第二导电部件；31、第二接口；4、升降机构；41、支撑座；42、滑动部件；43、丝杆；44、电机；45、第一引导轨道；46、第二引导轨道；5、载具平台；6、容置部件；61、第一压板；62、第二压板；63、容置腔；7、固定块；8、弹性件；9、转盘。具体实施方式本专利技术实施例提供了一种芯片检测装置，用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本专利技术的技术方案。图1为本专利技术实施例提供的一种芯片检测装置的结构示意图，图2为图1所示的芯片检测装置的局部A的放大图。图3为图1所示的芯片检测装置的另一结构示意图，图4为图3所示的芯片检测装置的局部B的放大图。参阅图1、图2、图3和图4，本专利技术实施例的芯片检测装置包括导电载具1、第一导电部件2、第二导电部件3、和升降机构4。其中，导电载具1用于支撑待测试的芯片和向芯片供电。在对芯片进行检测时，将芯片放置到导电载具1上，以使导电载具1支撑芯片，以及使得导电载具1和芯片电连接。第一导电部件2包括第一接口，第一接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括：/n导电载具，所述导电载具用于支撑待测试的芯片和向所述芯片供电；/n第一导电部件，所述第一导电部件包括第一接口，所述第一接口和所述导电载具电连接；/n第二导电部件，所述第二导电部件包括第二接口，所述第二接口位于所述第一接口的下方，所述第二导电部件用于向所述第二接口提供获取的电能；/n升降机构，所述第二导电部件和所述升降机构固定连接，所述升降机构用于控制所述第二导电部件沿垂直方向移动，以控制所述第二接口和所述第一接口抵接和分离；/n当所述第二接口和所述第一接口抵接时，所述第二接口和所述第一接口电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测装置，其特征在于，包括：
导电载具，所述导电载具用于支撑待测试的芯片和向所述芯片供电；
第一导电部件，所述第一导电部件包括第一接口，所述第一接口和所述导电载具电连接；
第二导电部件，所述第二导电部件包括第二接口，所述第二接口位于所述第一接口的下方，所述第二导电部件用于向所述第二接口提供获取的电能；
升降机构，所述第二导电部件和所述升降机构固定连接，所述升降机构用于控制所述第二导电部件沿垂直方向移动，以控制所述第二接口和所述第一接口抵接和分离；
当所述第二接口和所述第一接口抵接时，所述第二接口和所述第一接口电连接。


2.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，
所述第一导电部件为印制电路板PCB转接板，所述第一接口为触片结构的部件。


3.根据权利要求2所述的芯片检测装置，其特征在于，
所述第二导电部件为包括探针的PCB部件，所述第二接口为所述探针的端面。


4.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于，
所述升降机构包括支撑座、滑动部件、丝杆和电机；
所述滑动部件设有通孔，所述丝杆和所述滑动部件的通孔螺纹连接，所述丝杆和所述电机的输出轴固定连接，所述第二导电部件和所述滑动部件固定连接，所述滑动部件和所述支撑座沿垂直方向滑动连接。


5.根据权利要求4所述的芯片检测装置，其特征在于，
所述支撑座设有引导轨道，所述引导轨道沿垂直方向延伸；
所述滑动部件设有滑槽，所述滑槽沿垂直方向延伸；
所述滑槽和所述引导轨道滑动连接。


6.根据权利要求5所述的芯片检测装置，其特征在于，
所述引导轨道包括间隔设置的第一引导轨道和第二引导轨道；
所述滑动部件在相背的两侧面分别设有一所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙庆，
申请(专利权)人：东莞市凯迪微清洗技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44