本实用新型专利技术公开了一种光纤测试快速绕圈装置，包含大绕线盘、小绕线盘、底座支架、调节块和调节机构，大绕线盘转动设置在底座支架上，小绕线盘固定在底座支架上，小绕线盘位于大绕线盘一侧并且与大绕线盘之间存在间距，调节块沿大绕线盘的径向滑动设置在大绕线盘上并且由调节机构调节滑动位置。本实用新型专利技术充分考虑了测试规范中的技术要求，既能消除外力影响，又能确保松弛状态下的环半径不小于140mm，按照其设计的工作方式可快速用于中间部位光纤的收集，可大大提高测试效率，确保测试数据的重复性，可很好的指导生产工艺的改进。
【技术实现步骤摘要】
一种光纤测试快速绕圈装置
本技术涉及一种光纤绕圈装置，特别是一种光纤测试快速绕圈装置，属于光纤测试装置领域。
技术介绍
光纤参数测试主要通过高精度光学仪器完成，限于光纤本身特性，其测试数据的稳定性又常常与测试样品的状态息息相关，光纤的状态包括光纤的弯曲和受力情况等等。“GBT15972.44-2017光纤试验规范第44部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序截止波长”中规定使用22m未成缆光纤测量截止波长的方法作为测定光缆截止波长的基准测试方法。该方法中规定在22m试样光纤两端部各绕一个半径为40mm的环，试样中间部位绕成半径不小于140mm的松弛环。其中可以采用一端绕两个环来代替两端各绕一个环的替代试样布置方法。在实际操作过程中，22m光纤取样和收集操作相对困难，主要是较难做到标准的“140mm的松弛环”，往往得到重复性和再现性相对较差的测量结果，增加了生产工艺改进的不确定性。很多光纤厂家在测试截止波长参数时缺少专业装置进行测量，对于绕环大小和松弛状态合规性的检查主要通过主观判断，缺少标准衡量且测试效率较低。截止波长参数测量结果与光纤测试时的状态极其相关，在光纤受力或者绕环半径大小不足140mm时，测量结果往往会偏小。由于缺少标准的绕环装置，无法规则的收集“中间部位”约20m长的光纤，无法保证绕环大小和松弛状态，测试效率低且测量精度得不到保障。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种光纤测试快速绕圈装置，解决光纤测试的标准化盘绕问题。为解决上述技术问题，本技术所采用的技术方案是：一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：包含大绕线盘、小绕线盘、底座支架、调节块和调节机构，大绕线盘转动设置在底座支架上，小绕线盘固定在底座支架上，小绕线盘位于大绕线盘一侧并且与大绕线盘之间存在间距，调节块沿大绕线盘的径向滑动设置在大绕线盘上并且由调节机构调节滑动位置。进一步地，所述底座支架包含圆盘底座和凸出支架，圆盘底座为与大绕线盘直径匹配的圆形底座，凸出支架沿圆盘底座的径向设置并且凸出支架的一端固定在圆盘底座的边沿，大绕线盘的圆形位置通过一根转轴转动设置在圆盘底座的圆心上，小绕线盘固定在凸出支架的另一端。进一步地，所述转轴与圆盘底座之间通过轴承转动连接，转轴上端与大绕线盘固定连接。进一步地，所述大绕线盘上侧设置有一个操作手柄，操作手柄沿竖直方向设置并且操作手柄的下端固定在大绕线盘上侧面靠近边沿位置，操作手柄的上端为球状的握持部。进一步地，所述大绕线盘边沿一处开有一个与调节块形状匹配的凹口，调节块设置在凹口内并且能够沿着大绕线盘的径向在凹口内滑动，调节块的外侧面为与大绕线盘外侧面完全匹配的弧形槽状结构，当调节块滑动到大绕线盘最内侧位置时，调节块外侧与大绕线盘外侧完全吻合构成一个完整的绕线盘。进一步地，所述调节机构包含调节块支架、大绕线盘支架和调节螺栓，调节块支架竖直设置并且调节块支架下端固定在调节块上，大绕线盘支架竖直设置并且大绕线盘支架下端固定在大绕线盘上，调节块支架与大绕线盘支架相互平行，调节块支架上端开有与调节螺栓匹配的圆孔，大绕线盘支架上端开有与调节螺栓匹配的螺纹孔，调节螺栓依次穿过大绕线盘支架的螺纹孔和调节块支架的圆孔，调节螺栓与大绕线盘支架螺纹连接，调节螺栓与调节块支架转动连接。进一步地，所述调节螺栓包含光滑段、螺纹段和手柄，光滑段一端与螺纹段一端固定连接，手柄固定在螺纹段另一端，光滑段为表面光滑的圆柱体，螺纹段的外侧设置有与调节块支架螺纹孔内螺纹匹配的外螺纹。本技术与现有技术相比，具有以下优点和效果：本技术的光纤测试快速绕圈装置，充分考虑了测试规范中的技术要求，既能消除外力影响，又能确保松弛状态下的环半径不小于140mm，按照其设计的工作方式可快速用于中间部位光纤的收集，可大大提高测试效率，确保测试数据的重复性，可很好的指导生产工艺的改进。附图说明图1是本技术的一种光纤测试快速绕圈装置的示意图。图2是本技术的一种光纤测试快速绕圈装置的剖视图。具体实施方式下面通过实施例对本技术作进一步的详细说明，以下实施例是对本技术的解释而本技术并不局限于以下实施例。如图1和图2所示，本技术的一种光纤测试快速绕圈装置，包含大绕线盘1、小绕线盘2、底座支架3、调节块4和调节机构5，大绕线盘1转动设置在底座支架3上，小绕线盘2固定在底座支架3上，小绕线盘2位于大绕线盘1一侧并且与大绕线盘1之间存在间距，调节块4沿大绕线盘1的径向滑动设置在大绕线盘1上并且由调节机构5调节滑动位置。底座支架3包含圆盘底座6和凸出支架7，圆盘底座6为与大绕线盘直径匹配的圆形底座，凸出支架7沿圆盘底座6的径向设置并且凸出支架7的一端固定在圆盘底座6的边沿，大绕线盘1的圆形位置通过一根转轴8转动设置在圆盘底座6的圆心上，小绕线盘2固定在凸出支架7的另一端。转轴8与圆盘底座6之间通过轴承转动连接，转轴8上端与大绕线盘1固定连接。大绕线盘1上侧设置有一个操作手柄9，操作手柄9沿竖直方向设置并且操作手柄9的下端固定在大绕线盘1上侧面靠近边沿位置，操作手柄9的上端为球状的握持部。通过这样的结构，通过握持住操作手柄9从而转动大绕线盘1从而实现光纤的转绕操作。大绕线盘1边沿一处开有一个与调节块4形状匹配的凹口，调节块4设置在凹口内并且能够沿着大绕线盘1的径向在凹口内滑动，调节块4的外侧面为与大绕线盘1外侧面完全匹配的弧形槽状结构，当调节块4滑动到大绕线盘1最内侧位置时，调节块4外侧与大绕线盘1外侧完全吻合构成一个完整的绕线盘。调节机构5包含调节块支架10、大绕线盘支架11和调节螺栓12，调节块支架10竖直设置并且调节块支架10下端固定在调节块4上，大绕线盘支架11竖直设置并且大绕线盘支架11下端固定在大绕线盘1上，调节块支架10与大绕线盘支架11相互平行，调节块支架10上端开有与调节螺栓12匹配的圆孔，大绕线盘支架11上端开有与调节螺栓12匹配的螺纹孔，调节螺栓12依次穿过大绕线盘支架11的螺纹孔和调节块支架10的圆孔，调节螺栓12与大绕线盘支架11螺纹连接，调节螺栓12与调节块支架10转动连接。调节螺栓12包含光滑段、螺纹段和手柄，光滑段一端与螺纹段一端固定连接，手柄固定在螺纹段另一端，光滑段为表面光滑的圆柱体，螺纹段的外侧设置有与调节块支架10螺纹孔内螺纹匹配的外螺纹。本技术的一种光纤测试快速绕圈装置在使用的时候，将底座支架3放置在光学仪器测试平台合适位置；操作调节螺栓12将调节块4外移凸出；将22m试样光纤的一端预留约1m，使用标签纸固定在大绕线盘1上，大绕线盘的半径为140mm；顺时针旋转操作手柄9，开始收集光纤，旋转22圈，将约20m光纤绕在大绕线盘1上；将右侧余纤在小绕线盘2上绕2圈并用标签纸固定好；再操作调节螺栓12将调节块4内移收紧，紧贴在大绕线盘1上的光纤将会自动放松，处于松弛状态；按照上述操作步骤，试样光纤状态满足“GBT15972本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：包含大绕线盘、小绕线盘、底座支架、调节块和调节机构，大绕线盘转动设置在底座支架上，小绕线盘固定在底座支架上，小绕线盘位于大绕线盘一侧并且与大绕线盘之间存在间距，调节块沿大绕线盘的径向滑动设置在大绕线盘上并且由调节机构调节滑动位置。/n
【技术特征摘要】
1.一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：包含大绕线盘、小绕线盘、底座支架、调节块和调节机构，大绕线盘转动设置在底座支架上，小绕线盘固定在底座支架上，小绕线盘位于大绕线盘一侧并且与大绕线盘之间存在间距，调节块沿大绕线盘的径向滑动设置在大绕线盘上并且由调节机构调节滑动位置。
2.按照权利要求1所述的一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：所述底座支架包含圆盘底座和凸出支架，圆盘底座为与大绕线盘直径匹配的圆形底座，凸出支架沿圆盘底座的径向设置并且凸出支架的一端固定在圆盘底座的边沿，大绕线盘的圆形位置通过一根转轴转动设置在圆盘底座的圆心上，小绕线盘固定在凸出支架的另一端。
3.按照权利要求2所述的一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：所述转轴与圆盘底座之间通过轴承转动连接，转轴上端与大绕线盘固定连接。
4.按照权利要求1所述的一种光纤测试快速绕圈装置，其特征在于：所述大绕线盘上侧设置有一个操作手柄，操作手柄沿竖直方向设置并且操作手柄的下端固定在大绕线盘上侧面靠近边沿位置，操作手柄的上端为球状的握持部。
5.按照权利要求1所述的一种光纤测...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴磊，薛鹏鹏，鲍蒙蒙，成康康，王玉树，
申请(专利权)人：中天科技光纤有限公司，江东科技有限公司，江苏中天科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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