本发明专利技术涉及一种用于相对于物体(5)上位置固定的特征(8)定位测量点(15、18)的方法,所述物体(5)沿移位路径移动。构成有第一和第二光学检测区(10、11),通过所述光学检测区确定所述特征(8)的当前实际位置。所述两个光学检测区(10、11)设置在彼此重叠的位置中,从而构成重叠部段(13)。所述测量点(15、18)分别设置成与所述特征(8)隔开预先确定的固定的距离(16、19)。如果所述特征(8)处于第一光学检测区(10)之内,则在已定位的第一测量点(15)处进行测量。如果所述特征(8)处于重叠部段(13)之内,则使第一测量点(15)失效并激活第二测量点(18),并且执行测量。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于在运动的物体上定位测量点的方法
本专利技术涉及一种相对于物体上位置固定的特征对测量装置和其测量点或测量窗进行定位的方法。
技术介绍
申请人的专利申请AT516707A4记载了一种用于将管件与插接连接器连接的方法,在所述方法中,在第一周面部段和第二周面部段之间夹紧所述管件。此时,通过压制工具使插接连接器的第一周面部段变形。为了进行核查,在压制过程期间检测施加在压制工具上的挤压力,并由压制工具的移动路程以及挤压力计算单位位移的压力升高。将所计算出的压力升高与单位位移的至少必要的压力升高比较。在低于单位位移的至少必要的压力升高时,将插接连接器认定为有缺陷的并且可以将其拣出。
技术实现思路
本专利技术的目的是,提供一种方法,通过所述方法,使用者能够,在确定特征的附近区域中具有多个干扰性轮廓的移动目标或移动物体上可以实现可靠地检测所述目标或物体,并且能够在与所述特征隔开间距设置的测量点或测量窗处执行定位地校准的、可靠的且符合规定的测量过程。所述目的通过根据各权利要求的方法来实现。根据本专利技术的方法用于相对于物体上位置固定的特征对第一测量装置的至少一个第一测量点或第一测量窗进行定位。所述物体连同设置在或构成在所述物体上的特征这里不是位置固定的,而是沿移位路径移动。在这个方法中至少执行以下步骤:-构成至少一个第一光学检测区,通过所述至少一个第一光学检测区检测所述至少一个第一光学检测区内部的、固定在所述物体上的所述特征的当前实际位置,-相对于固定在所述物体上的特征的当前确定的实际位置隔开预先确定的固定的第一距离地定位设置所述至少一个第一测量点或所述至少一个第一测量窗,-通过所述第一测量装置在此前定位的至少一个第一测量点或此前定位的所述至少一个第一测量窗处在所述物体上执行至少一个测量过程,并且这里-构成至少一个第二光学检测区,-沿所述物体的移动方向将所述至少一个第二光学检测区设置在所述至少一个第一光学检测区的下游,-所述至少一个第一光学检测区和所述至少一个第二光学检测区设置成相互重叠的并且这里在所述至少一个第一光学检测区和所述至少一个第二光学检测区之间构成重叠部段,-提供具有至少一个第二测量点或具有至少一个第二测量窗的第二测量装置,并且所述至少一个第二测量点或所述至少一个第二测量窗相对于固定在所述物体上的所述特征设置成隔开在预先确定的固定的第二距离,-在检测位于所述至少一个第一光学检测区和所述至少一个第二光学检测区之间的重叠部段的内部的、固定在所述物体上的所述特征的实际位置时,利用第一测量装置的至少一个第一测量点或第一测量装置的至少一个第一测量窗使第一测量装置失效,并且此外-通过所述第二测量装置在此前定位的所述至少一个第二测量点或此前定位的所述至少一个第二测量窗处在所述物体上执行至少一个另外的测量过程。在这种处理方式中有利的是,这样,能在更小的光学检测区中、即在重叠部段中通过从带有其测量点的一个测量装置切换到带有另一个不同的测量点的另一个测量装置以高精度执行测量。通过检测区或检测部段的叠加和重叠,以便确定物体上所选出的并且预先确定的特征的当前位置,可以隐没与所述特征相邻设置的可能的干扰性轮廓。由此,也可以选择物体上小的或显著性较弱的特征作为为了定位测量窗而要检测的基准点。此外,由此也可以实时地同时跟踪相应特征的位置。此外,由此也可以通过持续地检测特征而随时进行可信度核查。此外这样的处理方式是有利的,其中,在检测过程开始时,相对于固定在所述物体上的特征,将所述预先确定的固定的第一距离以及所述预先确定的固定的第二距离选择成彼此相同的。由此,当检测重叠部段内部的所述特征时可以快速地在第一和第二测量窗之间执行切换过程。另一个有利的处理方式的特征在于,在沿所述移位路径的移位运动期间,所述至少一个第一测量点或所述至少一个第一测量窗始终与固定在所述物体上的所述特征隔开所述预先确定的固定的第一距离地跟随运动。这样,通过这种持续的跟随运动,检测第一测量点或第一测量窗的相应的测量目标并且可以执行持续的测量过程。有利地还有这样的方法方案,其中,在沿所述移位路径的移位运动期间,所述至少一个第二测量点或所述至少一个第二测量窗始终与固定在所述物体上的所述特征隔开所述预先确定的固定的第二距离地跟随运动。但由此,在所述特征的在重叠部段内部以及在后面的第二光学检测区中的移位运动期间,在所述至少一个第二测量点处执行持续的测量序列。另一个处理方式的特征在于,由所述第一测量装置构成多个第一测量点或多个第一测量窗,并且这些第一测量点或第一测量窗设置成彼此隔开间距。由此,在所述物体上可以在多个优选不同的位置处通过多重设置第一测量点或第一测量窗口执行多个测量过程。此外,这样的处理方式是有利的,其中,由第二测量装置构成多个第二测量点或多个第二测量窗,并且这些第二测量点或第一测量窗设置成彼此隔开间距。这样,在所述物体上的特征位于第二光学检测区中时,也可以在多个第二测量点或第二测量窗处优选同时执行多次测量。优选第二测量点在相应的物体上位于与第一测量点或第一测量区相同的地点或各相同的地点处。另一个有利的处理方式的特征在于,在所述物体的所述特征位于所述第一光学检测区之内和所述重叠部段之外时,由所述第一测量装置执行多个测量过程。由此,由于所述多个测量过程可以实现对所述物体持续的监控和核查。这样的方法方案也是有利的,其中,在所述物体的所述特征位于所述重叠部段之内或所述第二光学检测区之内时,由所述第二测量装置执行多个测量过程。由此,在所述物体上的所述特征处于第二光学检测区中时也可以执行对所述物体的继续跟踪。另一个处理方式的特征在于,直线地执行沿移位路径的移位运动。这样,通过选择直线地实施的移位路径也可以执行测量点或测量窗的简单的、协调的跟随运动。此外,这样的处理方式也是有利的,其中,所述物体由插接组件构成,所述插接组件包括管件,特别是用于液态或气态的介质的管件,还包括要与所述管件连接或已与所述管件连接的插接连接器。由此,特别是对于插接组件,在压制过程期间,可以正确地执行压制过程以及检查和监控各构件之间是否存在正确的布置。附图说明为了更好地理解本专利技术,参考附图来详细说明本专利技术。其中分别用明显简化的示意图:图1部分剖开地示出带有设置在其中的构造成插接组件的物体的车辆;图2用透视图以及四分之一剖视图示出构造成插接组件的物体;图3用轴向剖视图示出在所述特征处于在第一检测区内部的第一位置中时根据图1和2的构造成插接组件的物体;图4用轴向剖视图示出在所述特征处于在第一检测区和第二检测区之间的重叠部段内部的第二位置中时根据图3的物体;图5用轴向剖视图示出在所述特征处于在第二检测区内部的第三位置中时根据图3和4的物体。具体实施方式首先应确定,在不同地说明的实施形式中,相同的部件具有相同附图标记或相同构件名称,包含在整个说明书中的公开内容能够合理地转用到具有相同附图标记或本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.用于相对于物体(5)上位置固定的特征(8)定位第一测量装置(14)的至少一个第一测量点(15)或第一测量窗的方法,这里,所述物体(5)连同所述物体上的位置固定的所述特征(8)沿移位路径运动,执行以下步骤:/n-构成至少一个第一光学检测区(10),通过所述至少一个第一光学检测区(10)检测在所述至少一个第一光学检测区(10)内部的、固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的当前实际位置,/n-相对于固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的当前确定的实际位置隔开预先确定的固定的第一距离(16)地定位设置所述至少一个第一测量点(15)或所述至少一个第一测量窗,/n-通过所述第一测量装置(14)在此前定位的至少一个第一测量点(15)或此前定位的所述至少一个第一测量窗处在所述物体(5)上执行至少一个测量过程,/n其特征在于,/n-构成至少一个第二光学检测区(11),/n-沿所述物体(5)的移动方向将所述至少一个第二光学检测区(11)设置在所述至少一个第一光学检测区(10)的下游,/n-所述至少一个第一光学检测区(10)和所述至少一个第二光学检测区(11)设置成相互重叠,并且这里在所述至少一个第一光学检测区和所述至少一个第二光学检测区之间构成重叠部段(13),/n-提供具有至少一个第二测量点(18)或具有至少一个第二测量窗的第二测量装置(17),并且所述至少一个第二测量点(18)或所述至少一个第二测量窗相对于固定在所述物体(5)上的所述特征(8)隔开预先确定的固定的第二距离(19)地设置,/n-在检测在所述至少一个第一光学检测区(10)和所述至少一个第二光学检测区(11)之间的重叠部段(13)内部的、固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的实际位置时,使第一测量装置(14)连同其至少一个第一测量点(15)或其至少一个第一测量窗失效,以及/n-通过所述第二测量装置(17)在此前定位的所述至少一个第二测量点(18)或此前定位的所述至少一个第二测量窗处在所述物体(5)上执行至少一个另外的测量过程。/n...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20171130 AT A50991/20171.用于相对于物体(5)上位置固定的特征(8)定位第一测量装置(14)的至少一个第一测量点(15)或第一测量窗的方法,这里,所述物体(5)连同所述物体上的位置固定的所述特征(8)沿移位路径运动,执行以下步骤:
-构成至少一个第一光学检测区(10),通过所述至少一个第一光学检测区(10)检测在所述至少一个第一光学检测区(10)内部的、固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的当前实际位置,
-相对于固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的当前确定的实际位置隔开预先确定的固定的第一距离(16)地定位设置所述至少一个第一测量点(15)或所述至少一个第一测量窗,
-通过所述第一测量装置(14)在此前定位的至少一个第一测量点(15)或此前定位的所述至少一个第一测量窗处在所述物体(5)上执行至少一个测量过程,
其特征在于,
-构成至少一个第二光学检测区(11),
-沿所述物体(5)的移动方向将所述至少一个第二光学检测区(11)设置在所述至少一个第一光学检测区(10)的下游,
-所述至少一个第一光学检测区(10)和所述至少一个第二光学检测区(11)设置成相互重叠,并且这里在所述至少一个第一光学检测区和所述至少一个第二光学检测区之间构成重叠部段(13),
-提供具有至少一个第二测量点(18)或具有至少一个第二测量窗的第二测量装置(17),并且所述至少一个第二测量点(18)或所述至少一个第二测量窗相对于固定在所述物体(5)上的所述特征(8)隔开预先确定的固定的第二距离(19)地设置,
-在检测在所述至少一个第一光学检测区(10)和所述至少一个第二光学检测区(11)之间的重叠部段(13)内部的、固定在所述物体(5)上的所述特征(8)的实际位置时,使第一测量装置(14)连同其至少一个第一测量点(15)或其至少一个第一测量窗失效,以及
-通过所述第二测量装置(17)在此前定位的所述至少一个第二测量点(18)或此前定位的所述至少一个第二测量窗处在所述物体(5)上执行至少一个另外的测量过程。
【专利技术属性】
技术研发人员:C·穆斯布鲁格,T·格拉齐亚德伊,
申请(专利权)人:亨恩有限及两合股份公司,
类型:发明
国别省市:奥地利;AT
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