影像传感器及其制造方法技术

技术编号:24891920 阅读:28 留言:0更新日期:2020-07-14 18:18
本发明专利技术公开一种影像传感器,其包括基底、感光元件、半导体层、第一栅极与遮光层。感光元件设置在基底中。半导体层设置在感光元件的一侧的基底上。第一栅极设置在感光元件与半导体层之间的基底上。第一栅极与基底彼此绝缘。遮光层覆盖半导体层。基底具有第一导电型,且半导体层具有第二导电型。

【技术实现步骤摘要】
影像传感器及其制造方法
本专利技术涉及一种半导体元件及其制造方法,且特别是涉及一种影像传感器及其制造方法。
技术介绍
目前有些种类的影像传感器(如,全域快门影像传感器(globalshutterimagesensor))具有位于基底中且用以存储信号的存储节点(storagenode)。然而,杂散光(straylight)会对存储在存储节点中的信号造成干扰。因此,如何有效地防止杂散光干扰为目前持续研究发展的目标。
技术实现思路
本专利技术提供一种影像传感器及其制造方法,其可有效地防止杂散光干扰。本专利技术提出一种影像传感器,包括基底、感光元件、半导体层、第一栅极与遮光层。感光元件设置在基底中。半导体层设置在感光元件的一侧的基底上。第一栅极设置在感光元件与半导体层之间的基底上。第一栅极与基底彼此绝缘。遮光层覆盖半导体层。基底具有第一导电型,且半导体层具有第二导电型。依照本专利技术的一实施例所述,在上述影像传感器中,半导体层的材料例如是外延硅。依照本专利技术的一实施例所述,在上述影像传感器中,第一栅极可覆盖本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种影像传感器,其特征在于,包括:/n基底;/n感光元件,设置在所述基底中;/n半导体层,设置在所述感光元件的一侧的所述基底上;/n第一栅极,设置在所述感光元件与所述半导体层之间的所述基底上,其中所述第一栅极与所述基底彼此绝缘;以及/n遮光层,覆盖所述半导体层,其中/n所述基底具有第一导电型,且所述半导体层具有第二导电型。/n

【技术特征摘要】
20190107 TW 1081005081.一种影像传感器,其特征在于,包括:
基底;
感光元件,设置在所述基底中;
半导体层,设置在所述感光元件的一侧的所述基底上;
第一栅极,设置在所述感光元件与所述半导体层之间的所述基底上,其中所述第一栅极与所述基底彼此绝缘;以及
遮光层,覆盖所述半导体层,其中
所述基底具有第一导电型,且所述半导体层具有第二导电型。


2.如权利要求1所述的影像传感器,其中所述半导体层的材料包括外延硅。


3.如权利要求1所述的影像传感器,其中所述第一栅极覆盖至少部分所述半导体层,且所述第一栅极与所述半导体层彼此绝缘。


4.如权利要求3所述的影像传感器,其中所述第一栅极位于所述遮光层与所述半导体层之间,且所述遮光层同时覆盖所述第一栅极与所述半导体层。


5.如权利要求1所述的影像传感器,还包括:
介电层,设置在所述第一栅极与所述基底之间。


6.如权利要求1所述的影像传感器,其中所述遮光层延伸到至少部分所述第一栅极上。


7.如权利要求1所述的影像传感器,其中所述遮光层与所述半导体层彼此隔离。


8.如权利要求1所述的影像传感器,还包括:
第一阱区与第二阱区,位于所述半导体层的两侧的所述基底中,且具有所述第二导电型。


9.如权利要求8所述的影像传感器,还包括:
掺杂区,位于所述第一阱区与所述第二阱区之间的所述基底中,且具有所述第一导电型。


10.如权利要求1所述的影像传感器,还包括:
第二栅极,设置在所述半导体层的远离所述感光元件的一侧的所述基底上,其中所述第二栅极与所述基底彼此绝缘;以及
浮...

【专利技术属性】
技术研发人员:李世平林以秾庄志豪叶益诚黄国芳黄文澔蔡博安
申请(专利权)人:力晶科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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