一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法技术

本发明专利技术公开一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，属于CMOS集成电路技术领域。通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；对一次可编程存储器芯片进行动态老炼，诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效；进行全片读取校验，剔除发生错误的芯片。本发明专利技术提供的方法可以有效剔除有工艺缺陷或参数不达标的芯片，具有很高的应用价值。

【技术实现步骤摘要】
一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法
本专利技术涉及CMOS集成电路
，特别涉及一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法。
技术介绍
在一次可编程存储器的设计中，器件由于存在一次可编程特性，而往往难以测试。因此设计者一般会设计内置测试电路，以对芯片的可编程性、功能、性能进行测试，希望在筛选阶段的早期剔除有缺陷或参数不达标的芯片。但由于一次可编程器件在航空航天领域的重要性，属于国外对中国严格禁运和技术封锁的器件，国内很少有生产厂家研制以此类器件，也无有效筛选手段。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种对一次可编程存储器芯片进行有效筛选的方法，以实现对一次可编程存储器芯片进行有效测试和筛选。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，包括：通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；...

【技术保护点】
1.一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，包括：/n通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；/n对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；/n通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；/n再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；/n对一次可编程存储器芯片进行动态老炼，诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效；/n进行全片读取校验，剔除发生错误的芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，包括：
通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；
对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；
通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；
再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；
对一次可编程存储器芯片进行动态老炼，诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效；
进行全片读取校验，剔除发生错误的芯片。


2.如权利要求1所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，所述一次可编程存储器芯片包括：
用户存储区，用于用户存储信息；所述用于存储区包括字线、位线、存储单元和电源线、地线；
测试阵列，用于通过编程、读出操作进行测试；所述测试阵列包括冗余行和冗余列；其中，所述冗余行包括两行存储单元及冗余行区域内的字线、位线和电源线、地线；所述冗余列包括两列存储单元及冗余列区域内的字线、位线和电源线、地线；
编程及读出电路，隔着所述用户存储区与所述冗余行相对；
字线驱动，隔着所述用户存储区与所述冗余列相对。


3.如权利要求2所述的对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，其特征在于，通过编程器对一次可编程存储器...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙杰杰，于跃，赵桂林，杨霄垒，曹靓，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32