用于基板的对位方法及系统技术方案

一种用于基板的对位方法及系统，该对位方法包括：分别在第一基板(10)和第二基板(20)上形成一组电极对，该组电极对包括设置在第一基板(10)上的对位电极及设置在第二基板(20)上的电极阵列；向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板(10)和/或第二基板(20)，以使第一基板(10)和第二基板(20)处于对准位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于基板的对位方法及系统
本专利技术涉及设备显示领域，尤其涉及一种用于基板的对位方法及系统。
技术介绍
现有技术常用的平板间贴合常见的对位方式有两种：一种为人工通过软件进行手动补偿方式，另一种为CCD对位自动计算补偿值方式。在这两种对位方式中，CCD对位精度比人工对位精度高，一般CCD全自动对位设备对位精度为±0.15mm，人工对位半自动设备对位精度为±0.3mm。如果需要实现更高精度的对位要求，通过人工对位/CCD对位难以满足要求。比如我们需要实现0.1mm，甚至50um高精度的对位，通过人工对位的方式明显已经满足不了要求；如果采用CCD对位，对制作标记点和特征点的精度也会有更高的要求（比如盖板与触摸屏贴合，一般选用盖板油墨的VA直角顶点作为特征点）。因此，现有方式都无法达到精准对位的要求。技术问题本专利技术要解决的技术问题在于，现有方式人工对位和CCD对位都无法达到精准对位的要求。技术解决方案本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种用于基板的对位方法，包括：r>分别在第一基板和本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于基板的对位方法，其特征在于，包括以下步骤：/n分别在第一基板和第二基板上形成一组电极对，该组电极对包括设置在所述第一基板上的对位电极及设置在所述第二基板上的电极阵列；/n向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板和/或第二基板，以使第一基板和第二基板处于对准位置，标准参数为第一基板的对位电极与第二基板的电极阵列中的目标电极对准时的耦合参数。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】一种用于基板的对位方法，其特征在于，包括以下步骤：
分别在第一基板和第二基板上形成一组电极对，该组电极对包括设置在所述第一基板上的对位电极及设置在所述第二基板上的电极阵列；
向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板和/或第二基板，以使第一基板和第二基板处于对准位置，标准参数为第一基板的对位电极与第二基板的电极阵列中的目标电极对准时的耦合参数。


根据权利要求1所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述耦合参数为电容值、电感值或电磁值。


根据权利要求1所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述耦合参数包括耦合位置及耦合值。


根据权利要求1所述的用于基板的对位方法，其特征在于，向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板和/或第二基板，包括：
S21.向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据本步骤所检测的耦合参数及所述目标电极在第二基板上的位置计算区域补偿值，以对所述第一基板和所述第二基板间的相对位置进行一次补偿。


根据权利要求4所述的用于基板的对位方法，其特征在于，向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板和/或第二基板，还包括：
S22.在一次补偿后，向该组电极对输出驱动信号，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据本步骤所检测的耦合参数及所述标准参数计算精确补偿值，以对所述第一基板和所述第二基板间的相对位置进行二次补偿。


根据权利要求4所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述步骤S21包括以下步骤：
S2111.向该组电极对中的对位电极与电极阵列中的各个电极输出驱动信号，并检测该组电极对中对位电极分别与电极阵列中各个电极之间的第一耦合参数；
S2112.将所述对位电极分别与所述电极阵列中各个电极之间的第一耦合参数进行比较，并将最大的第一耦合参数所对应的电极确定为参考电极；
S2113.根据所述参考电极和所述目标电极分别在所述第二基板上的位置，计算第一区域补偿值；
S2114.根据所述第一区域补偿值移动所述第一基板和/或所述第二基板，以进行一次补偿。


根据权利要求4所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述电极阵列为M*N电极阵列，且M=m*p，N=n*q，其中，m、n、p、q分别为大于1的整数，而且，
所述对位方法还包括：
将所述M*N电极阵列分成m*n个电极块。


根据权利要求7所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述步骤S21包括以下步骤：
S2121.向该组电极对中的对位电极与各个电极块输出驱动信号，并检测该组电极对中对位电极分别与各个电极块之间的第二耦合参数；
S2122.将所述对位电极分别与各个电极块之间的第二耦合参数进行比较，并将最大的第二耦合参数所对应的电极块确定为参考电极块；
S2123.根据所述参考电极块和所述目标电极所在的电极块分别在所述第二基板上的位置，计算第二区域补偿值；
S2124.根据所述第二区域补偿值移动所述第一基板和/或所述第二基板，以进行一次补偿。


根据权利要求5所述的用于基板的对位方法，其特征在于，所述步骤S22包括以下步骤：
S221.在一次补偿后，向该组电极对中的对位电极与电极阵列中的目标电极及周围电极输出驱动信号，并检测该组电极对中对位电极分别与目标电极及周围电极之间的第三耦合参数；
S222.根据所述第三耦合参数及所述标准参数，计算精确补偿值；
S223.根据所述精确补偿值移动所述第一基板和/或所述第二基板，以进行二次补偿。


根据权利要求9所述的用于基板的对位方法，其特征在于，周围电极数量为多个且环绕目标电极设置。


根据权利要求9所述的用于基板的对位方法，其特征在于，第三耦合参数与对位电极相对目标电极的X轴偏移量、Y轴偏移量、Z轴偏移量及角度偏移量的其中至少一个关联。


根据权利要求10所述的用于基板的对位方法，其特征在于，当对位电极与其中一周围电极的第三耦合参数超出预设阈值时，控制对位电极沿着该其中一周围电极朝向目标电极的方向移动。


根据权利要求1所述的用于基板的对位方法，其特征在于，第一基板与第二基板上还分别形成有另一组电极对，另一组电极对的朝向不同于该组电极对的朝向。


根据权利要求1所述的用于基板的对位方法，其特征在于，检测该组电极对之间的耦合参数，并根据所检测的耦合参数及标准参数移动第一基板和/或第二基板，包括：
检测对位电极与电极阵列中各个电极的耦合参数，确定对位电极与目标电极的耦合参数与标准参数的差异；
通过相对移动第一基板和/或第二基板，使对位电极与目标电极的耦合参数逼近标准参数。


根据权利要求14所述的用于基板的对位方法，其特征在于，当对位电极与目标电极的耦合参数小于对位电极与某一电极的耦合参数时，控制对位电极沿该某一电极朝目标电极的方向移动。


根据权利要求14所述的用于基板的对位方法，其特征在于，当对位电极与目标电极的耦合参数大于与其他电极的耦合参数并小于标准参数时，确定对位电极与目标电极的周围电极的耦合参数，当对位电极与某一周围电极的耦合参数超出预设阈值时，控制对位电极沿该某一周围电极朝目标电极的方向移动。


一种用于基板的对位系统，其特征在于，包括：
耦合参...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡康军，
申请(专利权)人：深圳市柔宇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44