芯片开短路测试装置制造方法及图纸

本公开提供了一种芯片开短路测试装置。所述装置包括：开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；控制模块(2)，连接至开关切换模块(1)，控制开关切换模块(1)依次接通N个待测引脚；恒流源模块(3)，连接至开关切换模块(1)，为开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。利用开关切换模块依次接通芯片的待测引脚以进行开短路测试，提高了测试灵活性，并且能够自动实现所有引脚的开短路测试，降低人工操作成本。

【技术实现步骤摘要】
芯片开短路测试装置
本公开涉及芯片测试
，具体地，设计一种芯片开短路测试装置。
技术介绍
在芯片测试领域，开短路测试是必要的测试项目。开短路测试用来检测芯片的各个引脚与其它引脚、电源或地之间是否发生短路或开路。通常芯片的每个引脚，通过上拉二极管连接至电源VDD，通过下拉二极管连接至地VSS，通过测试上拉二极管和下拉二极管来实现芯片引脚的开短路测试。相关技术中，测试没备只能在测试完一个引脚后，人工移动芯片以测试其它引脚，测试流程繁琐。因此，如何自动实现芯片所有引脚的开短路测试，是目前研究人员关心的问题。
技术实现思路
本公开鉴于上述问题，提供了一种芯片开短路测试装置，利用开关切换模块依次接通芯片的待测引脚以进行开短路测试，提高了测试灵活性，并且能够自动实现所有引脚的开短路测试，降低人工操作成本。本公开提供了一种芯片开短路测试装置，所述装置包括：开关切换模块1，连接至芯片的N个待测引脚，N为大于1的整数；控制模块2，连接至所述开关切换模块1，控制所述开关切换模块1依次接通所述N个待测引脚；恒流源模块3，连接至所述开关切换模块1，为所述开关切换模块1接通的待测引脚提供测试电流。可选地，所述开关切换模块1包括第一切换模块11和第二切换模块12，所述控制模块2控制所述第一切换模块11依次接通所述N个待测引脚连接的上拉二极管，所述控制模块2控制所述第二切换模块12依次接通所述N个待测引脚连接的下拉二极管。可选地，所述第一切换模块11设置有第一参考电路11A，所述第一参考电路11A为所述上拉二极管的开短路测试提供参考电压；和/或，所述第二切换模块12设置有第二参考电路12A，所述第二参考电路12A为所述下拉二极管的开短路测试提供参考电压。可选地，所述第一切换模块11的三个引脚分别断开、接地、连接二极管D1的阳极，所述二极管D1的阴极接地，以形成所述第一参考电路11A；所述第二切换模块12的三个引脚分别断开、接地、连接二极管D2的阴极，所述二极管D2的阳极接地，以形成所述第二参考电路12A。可选地，所述开关切换模块1设置有第三参考电路13，所述第三参考电路13为所述N个待测引脚连接的上拉二极管和下拉二极管的开短路测试提供参考电压。可选地，所述开关切换模块1的四个引脚分别断开、接地、连接二极管D3的阴极、连接二极管D4的阳极，所述二极管D3的阳极以及所述二极管D4的阴极接地。可选地，所述控制模块2还用于根据所述开关切换模块1所接通的待测引脚的电压和所述参考电压生成所述芯片的开短路测试结果。可选地，所述装置还包括：模数转换模块4，连接至所述开关切换模块1与控制模块2，以将所述开关切换模块1所接通的待测引脚电压的模拟量转换为数字量，并发送至所述控制模块2。可选地，所述装置还包括：显示模块5，连接至所述控制模块2，以显示所述开短路测试结果。可选地，所述控制模块2连接所述恒流源模块3，以控制所述恒流源模块3输出的测试电流的大小和方向。附图说明图1示意性示出了根据本公开实施例提供的芯片开短路测试装置的结构框图；图2示意性示出了根据本公开实施例提供的芯片开短路测试装置中开关切换模块的结构框图；图3示意性示出了根据本公开另一实施例提供的芯片开短路测试装置中开关切换模块的结构框图。附图标记说明：1-开关切换模块；11-第一切换模块；11A-第一参考电路；12-第二切换模块；12A-第二参考电路；13-第三参考电路；2-控制模块；3-恒流源模块；4-模数转换模块；5-显示模块；6-芯片。具体实施方式为使本公开的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本公开进一步详细说明。图1示意性示出了根据本公开实施例提供的芯片开短路测试装置的结构框图。参阅图1，同时结合图2-图3，对本实施例中的芯片开短路测试装置进行详细说明。参阅图1，芯片开短路测试装置包括开关切换模块1、控制模块2、恒流源模块3、模数转换模块4以及显示模块5。开关切换模块1连接至芯片6的N个待测引脚，N为大于1的整数。参阅图2及图3，芯片6的N个待测引脚分别为引脚B1、B2、……、BN，开关切换模块1的引脚A1、A2、……、AN分别连接至芯片6的引脚B1、B2、……、BN。引脚A1、A2、……、AN与引脚B1、B2、……、BN之间一一对应。控制模块2连接至开关切换模块1，控制开关切换模块1依次接通芯片6的N个待测引脚。参阅图2及图3，开关切换模块1设置有m个选择引脚C1、C2、……、Cm，以实现2m选一的数据选择器的功能，2m≥N。控制模块2通过改变选择引脚C1、C2、……、Cm的电平来选择接通引脚A1、A2、……、AN中的一个引脚An，1≤n≤N，从而使得该被接通的引脚An连接的待测引脚Bn处于接通状态。恒流源模块3的输出端连接至开关切换模块1，为开关切换模块1接通的待测引脚Bn提供测试电流。恒流源模块3还连接至控制模块2，控制模块2控制恒流源模块3输出的测试电流的大小和方向，即控制流入芯片6的待测引脚Bn中的测试电流的大小和方向。具体地，参阅图2及图3，当测试待测引脚Bn中的上拉二极管(即待测引脚Bn与电源VDD之间的二极管)时，控制模块2控制恒流源模块3输出的测试电流为正向电流；当测试待测引脚Bn中的下拉二极管(即待测引脚Bn与地VSS之间的二极管)时，控制模块2控制恒流源模块3输出的测试电流为反向电流；控制模块2还控制恒流源模块3输出的测试电流的大小，以改变对上拉二极管和下拉二极管的驱动能力。可以理解的是，芯片开短路测试时，芯片并未上电，电源VDD为0V。模数转换模块4连接至开关切换模块1与控制模块2，以将开关切换模块1所接通的待测引脚Bn的电压的模拟量转换为数字量，并将转换后的数字量发送至控制模块2。控制模块2根据开关切换模块1所接通的待测引脚Bn的电压生成芯片6的开短路测试结果，开短路测试结果包含芯片6中每一待测引脚的测试结果。以测量芯片6的待测引脚Bn上拉二极管为例，若待测引脚Bn的电压在正常范围内，说明上拉二极管处于正常状态，若待测引脚Bn的电压趋于0V，说明上拉二极管短路，若待测引脚Bn的电压大于一预设值，说明上拉二极管开路。预设值例如为3V。显示模块5连接至控制模块2，用于显示控制模块2生成的开短路测试结果。显示模块5例如显示“待测引脚B1正常”、“待测引脚B2上拉二极管开路”等。本公开一实施例中，开关切换模块1设置有第三参考电路13，如图2所示，第三参考电路13为N个待测引脚连接的上拉二极管和下拉二极管的开短路测试提供参考电压，此时，开关切换模块1仅由一个2m选一的数据选择器组成。具体的，参阅图2，开关切换模块1的引脚S1连接二极管D3的阴极，引脚S2连接二极管D4的阳极，引脚S3接地，引脚S4断开，二极管D3的阳极接地，二极管D4的阴极接地。由此，通过模数转换模块4测量引脚S1、S2、S3、S4的电压作为芯片开短路测试的参考电压，引本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片开短路测试装置，其特征在于，所述装置包括：/n开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；/n控制模块(2)，连接至所述开关切换模块(1)，控制所述开关切换模块(1)依次接通所述N个待测引脚；/n恒流源模块(3)，连接至所述开关切换模块(1)，为所述开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片开短路测试装置，其特征在于，所述装置包括：
开关切换模块(1)，连接至芯片(6)的N个待测引脚，N为大于1的整数；
控制模块(2)，连接至所述开关切换模块(1)，控制所述开关切换模块(1)依次接通所述N个待测引脚；
恒流源模块(3)，连接至所述开关切换模块(1)，为所述开关切换模块(1)接通的待测引脚提供测试电流。


2.根据权利要求1所述的芯片开短路测试装置，其特征在于，所述开关切换模块(1)包括第一切换模块(11)和第二切换模块(12)，所述控制模块(2)控制所述第一切换模块(11)依次接通所述N个待测引脚连接的上拉二极管，所述控制模块(2)控制所述第二切换模块(12)依次接通所述N个待测引脚连接的下拉二极管。


3.根据权利要求2所述的芯片开短路测试装置，其特征在于，所述第一切换模块(11)设置有第一参考电路(11A)，所述第一参考电路(11A)为所述上拉二极管的开短路测试提供参考电压；和/或，所述第二切换模块(12)设置有第二参考电路(12A)，所述第二参考电路(12A)为所述下拉二极管的开短路测试提供参考电压。


4.根据权利要求3所述的芯片开短路测试装置，其特征在于，所述第一切换模块(11)的三个引脚分别断开、接地、连接二极管D1的阳极，所述二极管D1的阴极接地，以形成所述第一参考电路(11A)；所述第二切换模块(12)的三个引脚分别断开、接地、连接二极管D2的阴极，所述二极管D2的阳极接地...

【专利技术属性】
技术研发人员：周武林，
申请(专利权)人：江西联智集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36