【技术实现步骤摘要】
切换控制电路、片上系统芯片、芯片测试系统及方法
本专利技术实施例涉及芯片可测试性设计
,尤其涉及一种切换控制电路、片上系统芯片、芯片测试系统及方法。
技术介绍
片上系统(SoC,System-on-a-Chip),指的是将终端产品的主要功能集成在单个芯片或者芯片组中集成电路。随着集成电路设计的小型化和复杂化,在大规模片上系统芯片中,单芯片多核设计及IP核大量复用等技术的发展,导致单个芯片内集成了多个测试访问端口控制器,为了减少片上系统芯片的引脚需求,现有的片上系统芯片采用多个测试访问端口控制器共享一个测试访问端口的芯片结构,在对片上系统芯片进行测试时,需要对共享测试访问端口的控制权进行切换,实现由IEEE149.1标准协议确定的芯片测试的工作时序。在对片上系统芯片进行测试时,一般通过与共享测试访问端口相连的切换引脚,实现对共享测试访问端口的控制权的切换,或者,利用自切换电路实现对共享测试访问端口的控制权的切换,其存在以下问题:其一,片上系统芯片测试一般包括两个阶段,即裸片测试和封装后测试。由于现有的切换 ...
【技术保护点】
1.一种切换控制电路,其特征在于,用于对片上系统芯片中共享测试访问端口的控制权进行切换,所述切换控制电路包括:第一指令寄存器、第二指令寄存器、切换引脚、第一多路复用单元和复位控制单元,/n所述第一多路复用单元的控制端与所述第一指令寄存器的切换源选择指令输出端相连,所述第一多路复用单元的第一输入端与所述第一指令寄存器的切换指令输出端相连,所述第一多路复用单元的第二输入端与所述切换引脚相连,所述第一多路复用单元的输出端与所述共享测试访问端口的选择控制端相连,其中,所述切换引脚用于发出第一测试访问端口切换指令,所述第一指令寄存器的切换指令输出端用于发出第二测试访问端口切换指令;/ ...
【技术特征摘要】
1.一种切换控制电路,其特征在于,用于对片上系统芯片中共享测试访问端口的控制权进行切换,所述切换控制电路包括:第一指令寄存器、第二指令寄存器、切换引脚、第一多路复用单元和复位控制单元,
所述第一多路复用单元的控制端与所述第一指令寄存器的切换源选择指令输出端相连,所述第一多路复用单元的第一输入端与所述第一指令寄存器的切换指令输出端相连,所述第一多路复用单元的第二输入端与所述切换引脚相连,所述第一多路复用单元的输出端与所述共享测试访问端口的选择控制端相连,其中,所述切换引脚用于发出第一测试访问端口切换指令,所述第一指令寄存器的切换指令输出端用于发出第二测试访问端口切换指令;
所述复位控制单元的输入端与所述第二指令寄存器的切换指令输出端相连,所述复位控制单元的输出端分别与所述第一指令寄存器的复位控制端和所述第二指令寄存器的复位控制端相连,所述第二指令寄存器的切换指令输出端用于发出第三测试访问端口切换指令。
2.根据权利要求1所述的切换控制电路,其特征在于,所述第一指令寄存器被配置用于,在所述切换引脚发出第一测试访问端口切换指令时,所述第一指令寄存器的切换源选择指令输出端输出低电平信号;在所述切换引脚接地或者处于闲置状态时,所述第一指令寄存器的切换源选择指令输出端输出高电平信号。
3.根据权利要求2所述的切换控制电路,其特征在于,所述第一多路复用单元用于在所述第一多路复用单元的控制端接收到低电平信号时,根据所述切换引脚发出的所述第一测试访问端口切换指令对所述共享测试访问端口的控制权进行切换;所述第一多路复用单元还用于在所述第一多路复用单元的控制端接收到高电平信号时,根据所述第一指令寄存器发出的所述第二测试访问端口切换指令和所述第二指令寄存器发出的所述第三测试访问端口切换指令对所述共享测试访问端口的控制权进行切换。
4.根据权利要求1-3任一项所述的切换控制电路,其特征在于,所述第一指令寄存器设置于主测试访问端口控制器,所述主测试访问端口控制器与所述共享测试访问端口耦接;所述第二指令寄存器设置于从测试访问端口控制器,所述从测试访问端口控制器与所述共享测试访问端口耦接。
5.根据权利要求1-3任一项所述的切换控制电路,其特征在于,所述复位控制单元包括第二多路复用单元和延时寄存器,
所述第二多路复用单元的控...
【专利技术属性】
技术研发人员:钱海涛,路利刚,
申请(专利权)人:上海燧原科技有限公司,
类型:发明
国别省市:上海;31
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