【技术实现步骤摘要】
一种基于磁光检测的有效电光系数测量装置及方法
本专利技术属于自动化测量领域,涉及一种基于磁光检测的有效电光系数测量装置及方法。
技术介绍
有效电光系数的测量工作先后经历了手动直接光强测量法、手动半波电压测量法、最小光强点测量法和倍频测量法(FDM)等阶段。但是,不论是最终采用自动化手段辅助的最小光强工作点测量,其位相延迟精度的测量必须依靠高精度的电控旋转平台与AD转换,还是倍频测量法,其还必须用到锁相放大器,且每一次数据采集都需要使用旋转平台采集角度数据,受制于高精度旋转位移平台精度与速度的不可兼得,以及运放与直流偏压调整过程耗时的原因,即使使用了计算机辅助的自动化测量,整个测量过程依然很耗费时间,与此同时相位延迟测量的精度严重地受制于电动旋转平台的角度分辨精度,因此之前所有的有效电光系数测量的方法其误差与测量速度研究方面并无较大的改进。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点,提供了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法,该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数,测量范围较大,稳定性较高。为达到上述目的,本专利技术所述的基于磁光检测的有效电光系数测量装置包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器,线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中;具体的,线偏振激光器发出的线偏光经第一四分之一 ...
【技术保护点】
1.一种基于磁光检测的有效电光系数测量装置,其特征在于,包括计算机、旋转平台、线偏振激光器(1)、第一四分之一波片(2)、起偏器(3)、第二四分之一波片(5)、磁光调制器(6)以及安装在旋转平台上的检偏器(7)和光电探测器(8),线偏振激光器(1)发出的线偏光依次经第一四分之一波片(2)、起偏器(3)、待测量样品(4)、第二四分之一波片(5)、磁光调制器(6)及检偏器(7)入射到光电探测器(8)中;/n具体地,线偏振激光器(1)发出的线偏光经第一四分之一波片(2)转换为圆偏振光,再经起偏器(3)变成沿与待测量样品(4)光轴呈45°的方向偏振的线偏光,然后照射到待测量样品(4)上,待测量样品(4)的出射光为沿待测量样品(4)主轴45°方向上的椭圆偏振光,待测量样品(4)的出射光经快轴沿待测量样品(4)主轴45°方向的第二四分之一波片(5)后转变为线偏光,随后通过磁光调制器(6)在所述线偏光的基础上叠加预设角度的偏振摆动,最后经检偏器(7)入射到光电探测器(8)中,其中,待测量样品(4)在沿光轴方向粘贴有电极,该电极通过引出导线连接有高压直流电源,磁光调制器(6)外接有AC交流电流源,光电 ...
【技术特征摘要】
1.一种基于磁光检测的有效电光系数测量装置,其特征在于,包括计算机、旋转平台、线偏振激光器(1)、第一四分之一波片(2)、起偏器(3)、第二四分之一波片(5)、磁光调制器(6)以及安装在旋转平台上的检偏器(7)和光电探测器(8),线偏振激光器(1)发出的线偏光依次经第一四分之一波片(2)、起偏器(3)、待测量样品(4)、第二四分之一波片(5)、磁光调制器(6)及检偏器(7)入射到光电探测器(8)中;
具体地,线偏振激光器(1)发出的线偏光经第一四分之一波片(2)转换为圆偏振光,再经起偏器(3)变成沿与待测量样品(4)光轴呈45°的方向偏振的线偏光,然后照射到待测量样品(4)上,待测量样品(4)的出射光为沿待测量样品(4)主轴45°方向上的椭圆偏振光,待测量样品(4)的出射光经快轴沿待测量样品(4)主轴45°方向的第二四分之一波片(5)后转变为线偏光,随后通过磁光调制器(6)在所述线偏光的基础上叠加预设角度的偏振摆动,最后经检偏器(7)入射到光电探测器(8)中,其中,待测量样品(4)在沿光轴方向粘贴有电极,该电极通过引出导线连接有高压直流电源,磁光调制器(6)外接有AC交流电流源,光电探测器(8)的输出端连接有AD转换模块,高压直流电源、旋转平台及AD转换模块与计算机连接。
2.根据权利要求1所述的基于磁光检测的有效电光系数测量装置,其特征在于,线偏振激光器(1)为能够任意线偏振输出的激光器。
3.一种基于磁光检测的有效电光系数测量方法,其特征在于,基于权利要求1所述的基于磁光检测的有效电光系数测量装置,包括以下步骤:
设经第一四分之一波片(2)后的圆偏光的...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵卫岗,邱复生,魏晓勇,徐卓,陈虹,庄永勇,
申请(专利权)人:西安交通大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。