一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及产品质量检测技术领域，公开一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，该产品表面质量检测方法，包括：获取第一图像，其中，第一图像为包含产品的待检测表面在内的图像；根据第一图像得到掩模图像；利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；对第二图像进行去噪，得到第三图像；使第二图像和第三图像相减得到第四图像；计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断产品的待检测表面质量是否合格。以上过程中，无需人工利用肉眼对产品进行检测，效率提高。

【技术实现步骤摘要】
一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统
本专利技术涉及产品质量检测
，特别涉及一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统。
技术介绍
在生产制造过程中，常需要对一些产品表面质量进行检测，以判断是否合格。例如，用来制造电机定子铁心的矽钢片对于电机的可靠性具有关键性影响，其表面通常具有划痕等缺陷，为此，需要进行严格的检测，以判断矽钢片质量是否合格。在现有技术中通常通过人的肉眼对上述缺陷进行识别，效率十分低下。
技术实现思路
本专利技术公开了一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，用于提升对产品表面质量进行检测的效率。为达到上述目的，本专利技术提供以下技术方案：一种产品表面质量检测方法，包括：获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；根据所述第一图像得到掩模图像；利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。可选地，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，还包括：对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。可选地，所述根据所述第一图像得到掩模图像，具体包括：将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。可选地，所述利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像，具体包括：使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。可选地，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。可选地，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：根据所述所得图像中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。在上述产品表面质量检测方法中，通过对包含产品的待检测表面在内的第一图像进行处理得到掩膜图像，利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，得到第二图像，再对第二图像进行去噪得到第三图像，第三图像中划痕等缺陷会缩小甚至消失，再使第二图像与第三图像相减，这样就得到仅显示缺陷影像的所得图像，此时可以计算所得图像中缺陷的数量和/或面积，来判断产品表面质量是否合格。从而，免去人工使用肉眼判断产品表面是否合格的麻烦，提升检测效率。一种产品表面质量检测设备，包括：图像处理单元，用于根据图像获取单元获取的第一图像得到掩模图像，利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，以获得第二图像，对所述第二图像进行去噪，得到第三图像，使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像，计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。可选地，所述图像处理单元还用于，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，对第四图像进行二值化操作，得到第五图像。可选地，所述图像处理单元具体用于：将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。可选地，所述图像处理单元具体用于：使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。可选地，所述图像处理单元具体用于：对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。可选地，所述图像处理单元具体用于：根据所述所得中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。所述的产品表面质量检测设备与上述的产品表面质量检测方法相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。一种产品分拣系统，包括：图像获取单元，用于获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；上述任一项技术方案所述的产品表面质量检测设备；分拣单元，用于对所述产品表面质量检测设备识别出的合格产品和/或不合格产品分拣。所述的产品分拣系统与上述的产品表面质量检测装置相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。附图说明图1为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法的流程图；图2为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第一图像的示意图；图3为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第六图像的示意图；图4为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的掩膜图像的示意图；图5为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第二图像的示意图；图6为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第三图像的示意图；图7为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第四图像的示意图；图8为本申请实施例提供的产品表面质量检测方法中的第五图像的示意图；图9为本申请实施例提供的产品分拣系统的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参考图1，本申请实施例提供的产品表面质量检测方法，包括：S100：获取第一图像(参考图2)，其中，第一图像为包含产品的待检测表面在内的图像；S200：根据第一图像得到掩模图像(参考图4)；S300：利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像(参考图5)；S400：对第二图像进行去噪，得到第三图像(参考图6)；S500：使第二图像和第三图像相减得到第四图像(参考图7)；S600：计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断产品的待检测表面质量是否合格。在上述产品表面质量检测方法中，通过对包含产品的待检测表面在内的第一图像进行处理得到掩膜图像，利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，得到第二图像，再对第二图像进行去噪得到第三图像，第三图像中划痕等缺陷会缩小甚至消失，再使第二图像与第三图像相减，这样就得到仅显示缺陷影像的所得图像(如第四图像)，此时可以计算所得图像中缺陷的数量和/或面积，来判断产品表面质量是否合格。从而，免去人工使用肉眼判断产品表面是否合格的麻烦，提升检测效率。其中，步骤S600之前，还包括：步骤S510对第四图像进行二值化操作，以得到第五图像(参考图8)。由于在步骤S400对第二图像进行去噪时，得到的第三图像中的缺陷可能不完全消失，因此本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产品表面质量检测方法，其特征在于，包括：/n获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；/n根据所述第一图像得到掩模图像；/n利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；/n对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；/n使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；/n计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种产品表面质量检测方法，其特征在于，包括：
获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；
根据所述第一图像得到掩模图像；
利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；
对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；
使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；
计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，还包括：
对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像得到掩模图像，具体包括：
将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。


4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像，具体包括：
使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。


5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：
对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。


6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：
根据所述所得图像中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。


7.一种产品表面质量检测设备，其特征在于，包括：
图像处理单元，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟伟，徐胤，娄云鸽，吕伟，
申请(专利权)人：上海电气集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31