一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及产品质量检测技术领域，公开一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，该产品表面质量检测方法，包括：获取第一图像，其中，第一图像为包含产品的待检测表面在内的图像；根据第一图像得到掩模图像；利用掩膜图像排除掉第一图像中产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；对第二图像进行去噪，得到第三图像；使第二图像和第三图像相减得到第四图像；计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断产品的待检测表面质量是否合格。以上过程中，无需人工利用肉眼对产品进行检测，效率提高。

【技术实现步骤摘要】
一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统
本专利技术涉及产品质量检测
，特别涉及一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统。
技术介绍
在生产制造过程中，常需要对一些产品表面质量进行检测，以判断是否合格。例如，用来制造电机定子铁心的矽钢片对于电机的可靠性具有关键性影响，其表面通常具有划痕等缺陷，为此，需要进行严格的检测，以判断矽钢片质量是否合格。在现有技术中通常通过人的肉眼对上述缺陷进行识别，效率十分低下。
技术实现思路
本专利技术公开了一种产品表面质量检测方法、装置及产品分拣系统，用于提升对产品表面质量进行检测的效率。为达到上述目的，本专利技术提供以下技术方案：一种产品表面质量检测方法，包括：获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；根据所述第一图像得到掩模图像；利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种产品表面质量检测方法，其特征在于，包括：/n获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；/n根据所述第一图像得到掩模图像；/n利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；/n对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；/n使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；/n计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种产品表面质量检测方法，其特征在于，包括：
获取第一图像，其中，所述第一图像为包含所述产品的待检测表面在内的图像；
根据所述第一图像得到掩模图像；
利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像；
对所述第二图像进行去噪，得到第三图像；
使所述第二图像和所述第三图像相减得到第四图像；
计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，以判断所述产品的待检测表面质量是否合格。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述计算所得图像中的缺陷区域的数量和/或面积之前，还包括：
对所述第四图像进行二值化操作，得到第五图像。


3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一图像得到掩模图像，具体包括：
将所述产品的待检测表面对应区域的像素值全部置为1，将所述产品的待检测表面对应区域以外的区域的像素值全部置为0。


4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述利用所述掩膜图像排除掉所述第一图像中所述产品的待检测表面对应区域以外的区域，获得第二图像，具体包括：
使所述第一图像和所述掩膜图像相乘，得到所述第二图像。


5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：
对所述所得图像进行连通域计算，以得到所述所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积。


6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述计算所得图像中的缺陷对应区域的数量和/或面积，具体包括：
根据所述所得图像中缺陷对应区域的轮廓得到所述缺陷对应区域的数量和/或面积。


7.一种产品表面质量检测设备，其特征在于，包括：
图像处理单元，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟伟，徐胤，娄云鸽，吕伟，
申请(专利权)人：上海电气集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31