【技术实现步骤摘要】
铜箔和PCB制备用基板
本技术实施例涉及印制电路板(Printedcircuitboard,PCB板)制备
,特别是涉及一种铜箔和PCB制备用基板。
技术介绍
随着5G通讯技术的发展,要求高速PCB信号插损控制在越来越低的范围内。其中影响高速PCB插损性能的关键因素包括高速线路的表面粗糙度及导体的电导率,而高速线路的表面粗糙度主要由铜箔加工粗糙度及PCB线路加工粗糙度两方面组成。现有铜箔加工,包括对生箔表面进行瘤化处理和钝化处理,其中瘤化处理会使生箔的表面生长许多铜瘤,增大比表面积,提高结合力,但缺点是对高速信号传输带来较多插损。而钝化处理会使铜箔表面引入镍、锌、铬等微量元素,这些微量元素会恶化高速信号,使插损加大。另外,现有PCB加工中,多层板为了提升压合的结合力,需要对内层线路图形进行表面粗化处理(黑化或者棕化工艺),这种工艺会导致高速线路表面粗糙度加大,插损进一步恶化。为了降低插损,业界不断在优化瘤化工艺、钝化工艺和粗化工艺,但效果有限,并不能从根本上阻止插损的增大。为匹配5G通讯技术需求,有必要 ...
【技术保护点】
1.一种铜箔,用于制备印制电路板,其特征在于,包括生箔层和形成在所述生箔层一侧或两侧的硅烷偶联剂层,所述生箔层的表面粗糙度Rz为0.1μm-1.5μm。/n
【技术特征摘要】
1.一种铜箔,用于制备印制电路板,其特征在于,包括生箔层和形成在所述生箔层一侧或两侧的硅烷偶联剂层,所述生箔层的表面粗糙度Rz为0.1μm-1.5μm。
2.如权利要求1所述的铜箔,其特征在于,所述硅烷偶联剂层的厚度为。
3.如权利要求1或2所述的铜箔,其特征在于,所述生箔层与所述硅烷偶联剂层之间还包括银层,所述银层为化学沉积银层或电镀银层。
4.如权利要求3所述的铜箔,其特征在于,所述银层的厚度为0.1μm-10μm。
5.如权利要求1或2所述的铜箔,其特征在于,所述生箔层与所述硅烷偶联剂层之间还包括锡层,所述锡层为化学沉积锡层或电镀锡层。
6.如权利要求5所述的铜箔,其特征在于,所述锡层的厚度为0.1μm-3μm。
7.一种PCB制备用基板,其特征在于,包括芯板和形成在所述芯板一侧或两侧的铜层,以及形成在所述芯板和所述铜层之间的硅烷偶联剂层。
8.如权利要求7所述的PCB制备用基板,其特征在于,所述硅烷偶联剂层的厚度为。
9.如权利要求7所述的PCB制备用基板,其特征在于,所述铜层包括依次形成在所述硅烷偶联剂层上的化学沉积铜层和电镀铜层。
10.如权利要求7所述的PCB制备用基板,其特征在于,所述铜层为铜箔层。
11.如权利要求7所述的PCB制备用基板,其特征在于,所述铜层的厚度为3μm-210μm。
12.一种PCB制备用基板,其特征在于,包括芯板,形成在所述芯板上的铜线路图形,以及...
【专利技术属性】
技术研发人员:夏朝晖,高峰,田清山,李志海,
申请(专利权)人:华为技术有限公司,
类型:新型
国别省市:广东;44
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