Mura校正系统技术方案

Mura校正系统，其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura像素执行校正。Mura校正系统可以检测单个Mura像素并实现对所检测的一个Mura像素的校正，并且可以实现对Mura块的某一区域的Mura像素的基于块的校正。

【技术实现步骤摘要】
Mura校正系统
各种实施方式总体涉及Mura校正系统，并且更具体地，涉及一种对通过拍摄显示面板获得的检测图像中的Mura像素进行校正的Mura校正系统。
技术介绍
近来，LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。由于制造过程中的误差等，可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。需要对Mura缺陷进行检测和校正，以允许显示面板具有改善的图像质量。
技术实现思路
各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于亮度值在检测图像中检测块中的单个Mura像素，并且生成待应用到二次Mura像素校正方程式的Mura像素校正数据以对Mura像素的亮度值进行校正，其中检测图像是通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得的。此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于从显示在显示面板上的测试图像检测到的检测图像中的亮度值来检测Mura块，将Mura块划分成Mura像素的Mura子块和正常像素的正常子块，在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Mura校正系统，包括：/nMura校正装置，配置成接收检测图像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据，其中所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应；/n所述Mura校正装置包括：/nMura块检测器，配置成基于所述显示面板的平均像素亮度值在各自包括多个像素的块之中检测具有所述Mura像素的Mura块，并且提供所述Mura块的位置值；/nMura像素检测器，配置成接收所述Mura块的位置值，基于预设的参考值检测所述Mura块中的Mura像素，并提供所述Mura像素的位置值；以及/n第一系数生成器，所述第一系数生成器配置成接收所述Mura像素的位置值，生成Mura像素校...

【技术特征摘要】
20181226 KR 10-2018-01696291.一种Mura校正系统，包括：
Mura校正装置，配置成接收检测图像，并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据，其中所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应；
所述Mura校正装置包括：
Mura块检测器，配置成基于所述显示面板的平均像素亮度值在各自包括多个像素的块之中检测具有所述Mura像素的Mura块，并且提供所述Mura块的位置值；
Mura像素检测器，配置成接收所述Mura块的位置值，基于预设的参考值检测所述Mura块中的Mura像素，并提供所述Mura像素的位置值；以及
第一系数生成器，所述第一系数生成器配置成接收所述Mura像素的位置值，生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，并且生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据，其中所述Mura像素校正方程式为用于将所述Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式。


2.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura块检测器将相对于所述显示面板的平均亮度值偏离标准偏差的块检测为所述Mura块。


3.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura像素检测器将所述Mura块中的像素之中的对于所述Mura块的相应平均像素亮度值偏离标准偏差的像素检测为所述Mura像素。


4.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述第一系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura像素校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。


5.根据权利要求1所述的Mura校正系统，还包括：
第二系数生成器，配置成接收所述Mura块的位置值，
其中，所述第二系数生成器：
生成Mura校正方程式的系数的系数值，所述Mura校正方程式是用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式；
将所述Mura校正方程式的系数中的最高阶系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮度表示范围以使得用于所述Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值；以及
生成包括所述Mura块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。


6.根据权利要求5所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器生成由Mura校正值aX2+bX+c和Mura测量值X之和表示的Mura校正方程式的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。


7.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述第二系数生成器：
将所述系数a设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将所述系数b和所述系数c设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述系数a实际所需的系数值的值。


8.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置首先生成用于所述Mura块的Mura校正数据，并且在生成所述Mura校正数据之后，生成用于所述Mura块的Mura像素的Mura像素校正数据。


9.一种Mura校正系统，包括：
...

【专利技术属性】
技术研发人员：金起泽，朴俊泳，张斗华，刘承完，金斗渊，
申请(专利权)人：硅工厂股份有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR