发光单元的测试方法技术

本发明专利技术提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。

Test method of luminous unit

【技术实现步骤摘要】
发光单元的测试方法
本专利技术关于一种发光单元的测试方法，特别是关于一种发光单元的自我检测方法。
技术介绍
随着半导体技术的发展，发光二极管(LED)的尺寸已经可以达到微米等级，且因LED有省电、亮度高、使用寿命长与高对比的特性，市面上有许多厂商开始投入LED技术，并制造各种尺寸的LED显示器。实际上，为了确保LED显示器的质量，这些LED显示器在出货前，都会经过各种测试的程序，以确保LED显示器中的每颗LED可以正常工作。举例来说，传统上在测试LED显示器时，往往会将LED显示器点亮特定颜色或特定图样(pattern)，再利用摄影机或其他外部检测仪器测量是否有亮点、暗点或显示异常。然而，传统测试LED显示器的手段需要额外的仪器，不仅增加成本也十分耗时，当大批的LED显示器需要测试时，会有测试速度不足的问题。因此，业界需要一种不需额外的检测仪器，且能够快速检测LED显示器的方法，以应LED显示器市场的快速发展。
技术实现思路
本专利技术提供一种发光单元的测试方法，应用了发光二极管的元件特性，使用同一个发光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：/n设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；/n设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；/n提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流；/n提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流；以及/n依据所述第一光感应电流、所述第二光感应电流以及所述第三光感应电流...

【技术特征摘要】
1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：
设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；
设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；
提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流；
提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流；以及
依据所述第一光感应电流、所述第二光感应电流以及所述第三光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。


2.如权利要求1所述的发光单元的测试方法，其特征在于，还包含：
取得第四光感应电流，所述第四光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第一发光二极管产生的光线；
取得第五光感应电流，所述第五光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线；以及
取得第六光感应电流，所述第六光感应电流关联于所述第一发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线。


3.如权利要求2所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，在计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度的步骤中，还依据所述第四光感应电流、所述第五光感应电流以及所述第六光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。


4.如权利要求1所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，所述第一发光二极管具有第一发光效率，所述第二发光二极管具有第二发光效率，以及所述第三发光二极管具有第三发光效率。


5.如权利要求4所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王遵义，吴景钧，杨嘉梁，
申请(专利权)人：光远科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71