发光单元的测试方法技术

本发明专利技术提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。

Test method of luminous unit

【技术实现步骤摘要】
发光单元的测试方法
本专利技术关于一种发光单元的测试方法，特别是关于一种发光单元的自我检测方法。
技术介绍
随着半导体技术的发展，发光二极管(LED)的尺寸已经可以达到微米等级，且因LED有省电、亮度高、使用寿命长与高对比的特性，市面上有许多厂商开始投入LED技术，并制造各种尺寸的LED显示器。实际上，为了确保LED显示器的质量，这些LED显示器在出货前，都会经过各种测试的程序，以确保LED显示器中的每颗LED可以正常工作。举例来说，传统上在测试LED显示器时，往往会将LED显示器点亮特定颜色或特定图样(pattern)，再利用摄影机或其他外部检测仪器测量是否有亮点、暗点或显示异常。然而，传统测试LED显示器的手段需要额外的仪器，不仅增加成本也十分耗时，当大批的LED显示器需要测试时，会有测试速度不足的问题。因此，业界需要一种不需额外的检测仪器，且能够快速检测LED显示器的方法，以应LED显示器市场的快速发展。
技术实现思路
本专利技术提供一种发光单元的测试方法，应用了发光二极管的元件特性，使用同一个发光单元内的发光二极管，实现发光单元的自我检测。本专利技术提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，所述发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，所述测试方法包含以下步骤。设定第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管的光线。设定第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管的光线以及关联于第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。以及，依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度。在一个实施例中，还包含以下步骤。取得第四光感应电流，第四光感应电流关联于第三发光二极管，以及关联于第一发光二极管产生的光线。取得第五光感应电流，第五光感应电流关联于第三发光二极管，以及关联于第二发光二极管产生的光线。以及，取得第六光感应电流，第六光感应电流关联于第一发光二极管，以及关联于第二发光二极管产生的光线。此外，在计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度的步骤中，还依据第四光感应电流、第五光感应电流以及第六光感应电流，计算第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管的衰减程度。本专利技术提供另一种发光单元的测试方法，同样应用了发光二极管的元件特性，使用同一个发光单元内的发光二极管，实现发光单元的自我检测。本专利技术提出一种发光单元的测试方法，用于测试发光单元中的至少一个红色发光二极管、绿色发光二极管以及蓝色发光二极管，所述测试方法包含以下步骤。驱动绿色发光二极管与蓝色发光二极管，以产生第一绿光与第一蓝光。提供红色发光二极管，红色发光二极管依据第一绿光产生第一光感应电流，且依据第一蓝光产生第二光感应电流。提供绿色发光二极管，绿色发光二极管依据第一蓝光产生第三光感应电流。以及，记录第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流。在一个实施例中，还包含以下步骤。在一段时间间隔后，再次驱动绿色发光二极管与蓝色发光二极管，以产生第二绿光与第二蓝光。提供红色发光二极管，红色发光二极管依据第二绿光产生第四光感应电流，且依据第二蓝光产生第五光感应电流。提供绿色发光二极管，绿色发光二极管依据第二蓝光产生第六光感应电流。以及，记录第四光感应电流、第五光感应电流与第六光感应电流。另外，还依据第一光感应电流、第二光感应电流、第三光感应电流、第四光感应电流、第五光感应电流与第六光感应电流，计算发光单元的衰减程度。【专利技术的作用与效果】综上所述，本专利技术提供了发光单元的测试方法，通过测量发光二极管的光感应电流，判断其他发光二极管的衰减程度，从而实现了使用同一个发光单元内的发光二极管进行自我检测。【附图说明】图1绘示依据本专利技术一实施例的发光单元的测试装置的功能方块图。图2绘示依据本专利技术一实施例的发光单元的测试方法的步骤流程图。图3绘示依据本专利技术另一实施例的发光单元的测试方法的步骤流程图。【具体实施方式】下文将进一步揭露本专利技术的特征、目的及功能。然而，以下所述者，仅为本专利技术的实施例，当不能以之限制本专利技术的范围，即但凡依本专利技术申请专利范围所作的均等变化及修饰，仍将不失为本专利技术的要意所在，亦不脱离本专利技术的精神和范围，故应将视为本专利技术的进一步实施样态。请一并参阅图1与图2，图1绘示依据本专利技术一实施例的发光单元的测试装置的功能方块图，图2绘示依据本专利技术一实施例的发光单元的测试方法的步骤流程图。如图所示，本专利技术所述的测试方法用来检测发光单元1，发光单元1中至少可以具有发光二极管10(第一发光二极管)、发光二极管12(第二发光二极管)以及发光二极管14(第三发光二极管)。发光单元1可以位于一个发光单元的阵列中，所述发光单元的阵列可以是LED显示器面板的一部分，当然发光单元1也可以单独设置，本实施例在此不加以限制。另外，图1绘示的发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14仅示范了发光单元1内部一种可能的排列方式，于所属
具有普通技术人员，当然可以选用其他排列顺序或者图样的发光单元1，例如发光二极管10可以排列在发光二极管12以及发光二极管14中间。当然，本实施例并不以发光单元1具有3个发光二极管为限，实际上常见的LED显示器面板中，发光单元1也可以具有4个以上的发光二极管。在一个例子中，发光单元1的周缘在制程上可以有遮光结构(blackmatrix)，从而发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14不易接收到来自其他发光单元的光线。然而，本实施例并不以此为限，纵使发光单元1接收到来自其他发光单元的光线，通常流明数不高，并不一定会妨碍其自我检测的效果。另外，发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14可以设置于同一个平面，可以避免凸出来的发光二极管遮蔽光线，而影响其他发光二极管产生光感应电流。当然，发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14设置于不同平面，例如发光二极管10、发光二极管12设置于同一个平面，而发光二极管14设置的位置略低也无不可。于一个例子中，发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14可以分别是绿色发光二极管、蓝色发光二极管以及红色发光二极管，从而发光单元1可以藉由调整这些发光二极管的驱动电流，发出可见光频率范围内的光线。实际上，驱动电路20可以是LED显示器中用来驱动发光单元1的电路，从而驱动电路20可以分别电性连接发光二极管10、发光二极管12以及发光二极管14。图1中绘示的侦测电路22分别电性连接到发光二极管14与发光二极管10，本实施例不以此为限，侦测电路22也可以电性连接到发光二极管12。本专利技术所述的测试方法可以利用驱动电路20来驱动发光单元1，并且可以利用侦测电路22来记录发光单元1产生的光感应电流，于一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：/n设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；/n设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；/n提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流；/n提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流；以及/n依据所述第一光感应电流、所述第二光感应电流以及所述第三光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。/n

【技术特征摘要】
1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：
设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；
设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；
提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流；
提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流；以及
依据所述第一光感应电流、所述第二光感应电流以及所述第三光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。


2.如权利要求1所述的发光单元的测试方法，其特征在于，还包含：
取得第四光感应电流，所述第四光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第一发光二极管产生的光线；
取得第五光感应电流，所述第五光感应电流关联于所述第三发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线；以及
取得第六光感应电流，所述第六光感应电流关联于所述第一发光二极管，以及关联于所述第二发光二极管产生的光线。


3.如权利要求2所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，在计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度的步骤中，还依据所述第四光感应电流、所述第五光感应电流以及所述第六光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。


4.如权利要求1所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，所述第一发光二极管具有第一发光效率，所述第二发光二极管具有第二发光效率，以及所述第三发光二极管具有第三发光效率。


5.如权利要求4所述的发光单元的测试方法，其特征在于：
其中，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王遵义，吴景钧，杨嘉梁，
申请(专利权)人：光远科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71