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本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，...
该专利属于光远科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过光远科技股份有限公司授权不得商用。

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