Mura校正系统技术方案

一种Mura校正系统，其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura进行检测和校正。Mura校正系统通过基于亮度值检查通过拍摄显示在显示面板上的测试图像而获得的检测图像来检测Mura块，生成Mura校正方程式的系数的系数值，并生成包括Mura块的位置值和Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。

【技术实现步骤摘要】
Mura校正系统
多种实施方式总体上涉及Mura校正系统，并且更具体地，涉及在通过拍摄显示面板而获得的检测图像中检测Mura并校正Mura缺陷的Mura校正系统。
技术介绍
近来，LCD面板和OLED面板已被广泛用作显示面板。由于制造过程中的误差等，可能在显示面板中出现亮度不均匀(Mura)。Mura表示显示图像在像素或某个区域处具有斑点形式的不均匀亮度。出现Mura的缺陷称为Mura缺陷。需要对Mura缺陷进行检测和校正，以允许显示面板具有改善的图像质量。
技术实现思路
各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其基于检测图像中的亮度值来检测Mura块，并生成待应用于二次Mura校正方程式的Mura校正数据以对Mura块的亮度值进行校正，其中，所述检测图像通过检测显示在显示面板上的测试图像而获得。此外，各种实施方式涉及这样一种Mura校正系统：其生成Mura块的位置值和二次Mura校正方程式的系数的系数值作为Mura校正数据，以对Mura块的亮度值进行校正；并且通过将能够改变Mura块的亮度表示范围本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.Mura校正系统，包括：/n测试图像供应单元，配置成将灰度级的测试图像提供给显示面板；/n图像检测单元，配置成提供检测图像，所述检测图像是通过拍摄显示在所述显示面板上的所述测试图像而获得的；以及/nMura校正装置，配置成：/n基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个所述检测图像以检测具有Mura的Mura块，/n生成Mura校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值，其中，所述Mura校正方程式是二次方程式，/n将所述Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮...

【技术特征摘要】
20181226 KR 10-2018-01696261.Mura校正系统，包括：
测试图像供应单元，配置成将灰度级的测试图像提供给显示面板；
图像检测单元，配置成提供检测图像，所述检测图像是通过拍摄显示在所述显示面板上的所述测试图像而获得的；以及
Mura校正装置，配置成：
基于亮度值以包括多个像素的块单元的形式检查每个所述检测图像以检测具有Mura的Mura块，
生成Mura校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura块的每个灰度级的测量值校正成所述显示面板的平均像素亮度值，其中，所述Mura校正方程式是二次方程式，
将所述Mura校正方程式的系数之中的第一系数设置成包括适应性范围比特，所述适应性范围比特能够改变所述Mura块的亮度表示范围以使得针对所述Mura块的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值，以及
生成包括所述Mura块的位置值和所述Mura校正方程式的系数的系数值的Mura校正数据。


2.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，在由所述Mura校正值aX2+bX+c与所述Mura测量值X之和表示的所述Mura校正方程式中，所述Mura校正装置生成所述Mura校正值的系数的系数值，X是灰度级的灰度值，并且a、b和c是系数。


3.根据权利要求2所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura校正值的最高阶的系数a设置为所述第一系数。


4.根据权利要求3所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置：
将所述第一系数设置成包括所述适应性范围比特和基础范围比特，并且将其余系数设置成包括基础范围比特，
利用在存储器映射的被分配用于表示系数的全部比特之中的、除了表示所述系数a的比特之外的其余比特，来设置所述系数b和所述系数c，以及
将所述适应性范围比特的值设置成在所述Mura块的变化的亮度表示范围中最接近于所述第一系数实际所需的系数值的值。


5.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置通过改变所述适应性范围比特的值来改变包括在所述Mura块的亮度表示范围中的分辨率和亮度值范围。


6.根据权利要求1所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置：
在基于所述亮度值进行检查时，检测与所述Mura块中的其他像素相比具有至少预定水平的亮度差的Mura像素，
生成Mura像素校正方程式的系数的系数值，用于将所述Mura像素的每个灰度级的测量值校正成所述平均像素亮度值，其中，所述Mura像素校正方程式是二次方程式，以及
进一步生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据。


7.根据权利要求6所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura像素校正方程式的系数之中的最高阶的第二系数设置成包括能够改变所述Mura像素的亮度表示范围以使得所述Mura像素的Mura测量值与Mura校正值之和近似于所述平均像素亮度值的适应性范围比特。


8.根据权利要求7所述的Mura校正系统，其中，所述Mura校正装置将所述Mura校正方程式和所述Mura像素校正方程式的系数设置成具有相同的格式。


9.Mura校正系统，包括：
Mura校正装置，配置成接收检测图像，并...

【专利技术属性】
技术研发人员：金起泽，朴俊泳，张斗华，刘承完，金斗渊，
申请(专利权)人：硅工厂股份有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR