分离式显微系统及其调校方法技术方案

一种分离式显微系统及其调校方法，该分离式显微系统用以观测一设置于一待测平面的待测物，并使待测物成像于一成像装置，包含一倍镜、一调校组件与一物镜。倍镜，具有一倍镜光轴，且受操作地使倍镜光轴垂直于待测平面。调校组件，可组装地连结于倍镜邻近于待测平面的一侧。物镜，具有一物镜光轴，且可组装地连结于调校组件邻近于待测平面的一侧，且通过调校组件而受操作地使倍镜光轴、物镜光轴与该成像装置的一成像中心轴共轴。

【技术实现步骤摘要】
分离式显微系统及其调校方法
本专利技术有关于一种显微系统，尤其是指一种分离式显微系统。
技术介绍
世界上存在着许多人类无法裸眼看见的生物、结构，而显微系统是用以供人类使用来观测上述生物、结构的装置。请参阅图1，图1是显示现有技术中的显微系统的示意图。如图所示，一种显微系统PA1用以观测一待测平面PAE上的一待测物(图未绘示)，并包含一倍镜PA11与一物镜PA12。倍镜PA11，具有一倍镜长度PAL1与一倍镜倍率。物镜PA12，具有一物镜长度PAL2与一物镜倍率，并连结于倍镜PA11，且位于倍镜PA11与待测平面PAE之间。当一使用者要观测待测物时，调整显微系统PA1的角度，以使物镜PA12对准待测物，由此让待测物位于观测的视野内。然而，在调整显微系统PA1角度的过程中，由于显微系统PA1具有体积与大重量的特性(尤其是倍镜PA11造成的影响，因为倍镜长度PAL1大于物镜长度PAL2)，再加上显微系统PA1的高倍率特性(尤其是物镜PA12造成的影响，因为物镜倍率大于倍镜倍率)，使得显微系统PA1不易被调整外，只要些微误差待测物即消失于观测的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分离式显微系统，用以观测一设置于一待测平面的待测物，并使该待测物成像于一成像装置，其特征在于，该分离式显微系统包含：/n一倍镜，具有一倍镜光轴，且受操作地使该倍镜光轴垂直于该待测平面；/n一调校组件，可组装地连结于该倍镜邻近于该待测平面的一侧，以及/n一物镜，具有一物镜光轴，可组装地连结于该调校组件邻近于该待测平面的一侧，且受操作地通过该调校组件调整，使该倍镜光轴、该物镜光轴与该成像装置共轴且垂直于该待测平面，进而使该待测物成像于该成像装置的一成像中心位置。/n

【技术特征摘要】
1.一种分离式显微系统，用以观测一设置于一待测平面的待测物，并使该待测物成像于一成像装置，其特征在于，该分离式显微系统包含：
一倍镜，具有一倍镜光轴，且受操作地使该倍镜光轴垂直于该待测平面；
一调校组件，可组装地连结于该倍镜邻近于该待测平面的一侧，以及
一物镜，具有一物镜光轴，可组装地连结于该调校组件邻近于该待测平面的一侧，且受操作地通过该调校组件调整，使该倍镜光轴、该物镜光轴与该成像装置共轴且垂直于该待测平面，进而使该待测物成像于该成像装置的一成像中心位置。


2.如权利要求1所述的分离式显微系统，其特征在于，该倍镜的一倍镜长度大于该物镜的一物镜长度。


3.如权利要求1所述的分离式显微系统，其特征在于，该倍镜的一倍镜倍率小于该物镜的一物镜倍率。


4.如权利要求1所述的分离式显微系统，其特征在于，该倍镜、该调校组件与该物镜利用至少一锁固元件依序连结。


5.如权利要求1所述的分离式显微系统，其特征在于，该调校组件是一动态调整座。


6.如权利要求5所述的分离式显微系统，其特征在于，该调校组件，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘世耀，王友延，欧聪宪，黄国玮，
申请(专利权)人：致茂电子苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32