一种存储性能测试低延迟的方法和设备技术

本发明专利技术提供了一种存储性能测试低延迟的方法和设备，该方法包括以下步骤：将IO测试的路径设置为存储性能测试的路径；将IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将IO测试项目比例设定为预设比例；响应于接收到IO测试的指令，在路径下根据IO测试项目执行IO测试并监控IO信息；响应于IO信息达到稳定状态，启动存储性能测试。通过使用本发明专利技术的方案，能够在不影响测试的IOPS的情况下来通过后台启动IO测试解决测试延迟过高导致的测试失败问题，提高存储测试性能。

A low latency method and device for storage performance testing

【技术实现步骤摘要】
一种存储性能测试低延迟的方法和设备
本领域涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种存储性能测试低延迟的方法和设备。
技术介绍
存储性能测试是针对存储子系统在执行关键业务应用时的性能表现。这些应用主要以随机IO操作为特点，包括查询和更新操作。这一类应用的例子包括OLTP、数据库操作和邮件服务器运作等。由于中高端存储系统往往在用户的系统环境中担当关键业务应用的数据基础平台。在存储性能测试中，测试能够成功通过的一个关键指标是测试延迟，我们使用的测试工具是首先设置一个IOPS(每秒进行读写(I/O)操作的次数)值，即存储系统每秒读写数据的次数来反应存储系统的性能，并运行这个IOPS值，在运行过程中所有的测试过程延迟必须小于30ms，测试才算成功，测试最终成绩就是预先设置的IOPS值。在测试中如果存储越高端性能越好，测试的最终IOPS值就越高，在测试中设置的IOPS值就越高，当IOPS值很高时，会导致在测试过程中由于IOPS从零突然在短时间内(测试工具要求1分钟内IOPS增加到最大值)增加到其最大值，会造成IO读写突然增大，使系统延迟过高。从本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储性能测试低延迟的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n将IO测试的路径设置为所述存储性能测试的路径；/n将所述IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将所述IO测试项目比例设定为预设比例；/n响应于接收到IO测试的指令，在所述路径下根据所述IO测试项目执行所述IO测试并监控IO信息；/n响应于所述IO信息达到稳定状态，启动所述存储性能测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储性能测试低延迟的方法，其特征在于，包括以下步骤：
将IO测试的路径设置为所述存储性能测试的路径；
将所述IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将所述IO测试项目比例设定为预设比例；
响应于接收到IO测试的指令，在所述路径下根据所述IO测试项目执行所述IO测试并监控IO信息；
响应于所述IO信息达到稳定状态，启动所述存储性能测试。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设阈值为20000。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述IO测试项目包括随机读和随机写。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述预设比例为所述随机读与所述随机写的比例为7比3。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，响应于所述IO信息达到稳定状态包括：
响应于所述IO测试中IOPS从0增加到所述预设阈值，判断所述IO信息达到稳定状态。


6.一种存储性能测试低延迟的设备，其特征在于，所述设备包...

【专利技术属性】
技术研发人员：李艳，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32