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本发明提供了一种存储性能测试低延迟的方法和设备，该方法包括以下步骤：将IO测试的路径设置为存储性能测试的路径；将IO测试的IOPS大小设定为预设阈值，将IO测试项目比例设定为预设比例；响应于接收到IO测试的指令，在路径下根据IO测试项目执行...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。

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