一种激光雷达转台及其测量装置和测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种激光雷达转台及其测量装置和测量方法，本发明专利技术采用两阶段测量方法，第一阶段控制旋转平台匀速旋转，测量得到与被测物体之间无法重合的第一稠密点云；第二阶段预设的将旋转平台旋转至某角度，当编码器反馈已到达该角度时，对激光雷达本体扫描点进行采集，完成该角度采集后再控制旋转平台旋转至下一角度，重复多次完成若干角度的采集过程，测量得到与被测物体重合的第一稀疏点云；最后将第一稠密点云和第一稀疏点云进行融合，得到无时间误差的第二稠密点云。本发明专利技术可以解决现有激光雷达转台对外部环境的测量效率低的问题。第一阶段保持转台快速匀速转动测量，第二阶段进行多个关键角度静止测量，最终进行配准，从而提高测量效率。

A laser radar turntable and its measuring device and measuring method

【技术实现步骤摘要】
一种激光雷达转台及其测量装置和测量方法
本专利技术涉及激光雷达测量装置和技术，特别是涉及一种激光雷达转台及其测量装置和测量方法。
技术介绍
激光测量技术是近年来迅速发展，快速应用的测量测绘技术。该技术的典型产品(激光雷达)广泛使用在如航空测绘、自动驾驶等工业领域。相比传统测量测绘技术，激光雷达具有数据量大，使用方便，生产效率高等特点；相比图像摄影测量技术，其具有分辨率高，精度高等特点，所以具有较强的不可替代性。受制于激光雷达设备的生产调校工艺(主要依赖人工完成)，高线数激光雷达的成本高、价格昂贵，一定程度上限制了其应用；低线数激光雷达虽然价格便宜，但其测量视场角窄，测量范围受限，适用场景少。所以现有技术中提供了一种低线数激光雷达与旋转平台相结合的方法，大大扩展了低线数激光雷达的测量范围。现有技术中已经提供对激光雷达本体相对转台之间位姿关系的标定方法，转台当前转角可以通过读取编码器获得。所以当转台位于某已知角度时，可以将激光雷达测量的三维点变换到转台基座坐标系中。为保证转台基座坐标系下测量点的准确性，关键需要保证转台精确角本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种激光雷达转台，其特征在于，包括基座、旋转平台和连接件，其中，基座固定安装在其他载体上，旋转平台可旋转的安装在基座上，连接件固定安装在旋转平台上，且连接件用于安装雷达本体；旋转平台能够绕第二旋转轴相对基座转动，且连接件能够携雷达本体一起随旋转平台转动，雷达本体能够绕第一旋转轴相对于连接件转动；第一旋转轴和第二旋转轴彼此分离。/n

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达转台，其特征在于，包括基座、旋转平台和连接件，其中，基座固定安装在其他载体上，旋转平台可旋转的安装在基座上，连接件固定安装在旋转平台上，且连接件用于安装雷达本体；旋转平台能够绕第二旋转轴相对基座转动，且连接件能够携雷达本体一起随旋转平台转动，雷达本体能够绕第一旋转轴相对于连接件转动；第一旋转轴和第二旋转轴彼此分离。


2.根据权利要求1所述的一种激光雷达转台，其特征在于，还包括第一驱动装置和第二驱动装置，其中第一驱动装置用于驱动旋转平台绕第二旋转轴相对于基座转动，第二驱动装置用于驱动雷达本体绕第一旋转轴相对于连接件转动。


3.根据权利要求1所述的一种激光雷达转台，其特征在于，雷达本体为旋转式激光雷达。


4.一种用于权利要求1-2任一项所述激光雷达转台的测量装置，其特征在于，包括控制器、第一驱动模块、第二驱动模块和检测装置，其中，第一驱动模块用于根据事先设定的旋转速度控制旋转平台绕第二旋转轴转动，第二驱动模块用于控制雷达本体绕第一旋转轴转动的速度，检测装置用于检测旋转平台绕第二旋转轴转动的角度，并通过旋转变换得到第二坐标系到第三坐标系的第二位姿变换，通过标定计算得到第一坐标系到第二坐标系的第一位姿变换；控制器对雷达本体扫描点进行采集处理，并用于控制第一驱动模块、第二驱动模块和检测装置。


5.根据权利要求4所述的一种用于激光雷达转台的测量装置，其特征在于，检测装置为编码器。


6.一种用于权利要求1-3任一项所述激光雷达转台的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
(1)设定坐标系
定义激光雷达本体上的第一坐标系，旋转平台上的第二坐标系，基座上的第三坐标系，且第一坐标系、第二坐标系和第三坐标系相互独立；
(2)第一阶段测量：控制旋转平台匀速旋转，测量得到与被测物体之间无法重合的第一稠密点云；
(3)第二阶段测量：预设的将旋转平台旋转至某角度，当编码器反馈已到达该角度时，对激...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐善军，任书楠，郭俊龙，浑连明，孙霄伟，张铜，
申请(专利权)人：北京国电富通科技发展有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11