透镜组、透镜组支架及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种透镜组、透镜组支架及装置，所述透镜组支架包括支架本体，所述支架本体包括底壁和相对于所述底壁弯折的侧壁，所述底壁和侧壁形成用于容置透镜组的容置空间；所述支架本体的侧壁进一步形成有与所述透镜组上的每个径向调节结构对应的至少一个调节孔，所述透镜组中的透镜在调节结构的作用下沿所述支架本体的径向移动；所述支架本体的底壁进一步形成有多组用于驱动所述透镜组沿所述支架本体的轴向移动的定位结构，本发明专利技术可以对安装的透镜组进行位置调整，降低成本和透镜调整的复杂度。

【技术实现步骤摘要】
透镜组、透镜组支架及装置
本专利技术涉及透镜组设置
，尤其涉及一种透镜组、透镜组支架及装置。
技术介绍
在荧光光谱仪系统中，光源形成的激发光经过激发透镜组调整光路后照射至样品池的样品上，经过样品反射至信号收集透镜组，经过信号收集透镜组调整光路后被信号处理模块接收，信号处理模块对接收的光信号分析以完成对样品的测试，如图1所示。但是，对于部分样品测试，当更换样品架或者测试需求改变时，需要改变荧光光谱仪系统中的激发光路(即更换激发光路的激发透镜组)，使光路调整后的激发光配合科研工作者测试的需求。现有的激发透镜组包括透镜组和用于固定透镜组位置的透镜组支架，更换新的透镜组后需要对透镜组的位置进行重新定位。图2和图3示出了现有技术中可设置在同一个透镜组支架上的两个透镜组，虽然可以实现透镜组的更换，但是，两个透镜组仅可固定在透镜组支架上而无法对透镜组中的透镜进行进一步的调节，无法保证两个透镜组均调整到设计位置，虽然可以通过精密的加工和装配使得两个透镜组的光路尽可能同轴，但是这样不但造成成本的大量增加，而且最终也很难达设计位置。专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种透镜组支架，其特征在于，包括支架本体，所述支架本体包括底壁和相对于所述底壁弯折的侧壁，所述底壁和侧壁形成用于容置透镜组的容置空间；/n所述支架本体的侧壁进一步形成有与所述透镜组上的每个径向调节结构对应的至少一个调节孔，所述透镜组中的透镜在调节结构的作用下沿所述支架本体的径向移动；/n所述支架本体的底壁进一步形成有多组用于驱动所述透镜组沿所述支架本体的轴向移动的定位结构。/n

【技术特征摘要】
1.一种透镜组支架，其特征在于，包括支架本体，所述支架本体包括底壁和相对于所述底壁弯折的侧壁，所述底壁和侧壁形成用于容置透镜组的容置空间；
所述支架本体的侧壁进一步形成有与所述透镜组上的每个径向调节结构对应的至少一个调节孔，所述透镜组中的透镜在调节结构的作用下沿所述支架本体的径向移动；
所述支架本体的底壁进一步形成有多组用于驱动所述透镜组沿所述支架本体的轴向移动的定位结构。


2.根据权利要求1所述的透镜组支架，其特征在于，所述调节孔为沿所述支架本体轴向设置的条形。


3.根据权利要求1所述的透镜组支架，其特征在于，所述支架本体进一步包括与所述侧壁连接的边缘部；
所述边缘部形成有与透镜组上定位轴匹配的定位孔。


4.根据权利要求1所述的透镜组支架，其特征在于，所述支架本体进一步包括位于支架本体侧壁内表面的导向杆，所述导向杆用于与透镜组侧面的导向槽匹配。


5.根据权利要求1所述的透镜组支架，其特征在于，所述支架本体的底壁形成有贯穿底壁的通孔，所述定位结构包括至少一对设于所述支架本体底壁背离所述容置空间一侧的定位螺钉和用于固定所述定位螺钉位置的定位螺母；
所述定位螺钉穿过所述通孔以驱动透镜组移动。


6.根据权利要求1所述的透镜组支架，其特征在于，所述支架本体上设有第一调节孔和第二调节孔两个调节孔；
所述第一调节孔和所述第二调节孔与支架本体的轴线形成的表面间的夹角为直角。


7.一种透镜组，其特征在于，包括环形的透镜框架和设置在透镜框架中的透镜；
所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐俊龙，石广立，陈海霞，
申请(专利权)人：北京卓立汉光仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11