本发明专利技术为一种闪烁体性能测试装置，该闪烁体性能测试装置包括：稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；能旋转以调节角度的样品架；能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端连接有光检测元件；控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态，并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度，以形成不相同的测试光路。本发明专利技术可完成对于闪烁体样品多种性能的测试，具有集成度高、成本低、功能多样的优点。功能多样的优点。功能多样的优点。
【技术实现步骤摘要】
闪烁体性能测试装置
[0001]本专利技术涉及光学测试领域，尤其涉及一种闪烁体性能测试装置。
技术介绍
[0002]闪烁体是一种在吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的元件，在辐射探测和成像领域发挥着十分重要的作用。目前，对于闪烁体性能的测试方法中多数需要用到放射源，存在设备成本高、电离辐射防护难度大等缺点。
[0003]现阶段，闪烁体性能测试设备多为在铅箱内集成稳态X射线源，在垂直于X射线方向设置收集光路模组，通过收集光路模组收集闪烁体样品的辐射发光，并通过收集光路模组中的集光光路将辐射发光导入荧光光谱仪，完成闪烁体的辐射发光光谱测试。但现有闪烁体性能测试设备功能单一：
[0004]一、无法完成辐射位置X射线辐射剂量测试；
[0005]二、无法同时实现闪烁体样品透射和反射发光测试；
[0006]三、无法进行闪烁体样品的温度特性测试；
[0007]四、无法进行闪烁体样品X摄像成像质量对比实验；
[0008]五、无法完成闪烁体样品相对光输出(光子数/MeV)实验；
[0009]六、无法完成闪烁体样品X射线放射剂量率的检出限，X射线放射剂量率与辐射发光强度的线性响应实验；
[0010]七、无法完成闪烁体样品衰减时间实验；
[0011]八、无法完成闪烁体样品余辉等特性测试；
[0012]九、无法完成闪烁体样品的微区分测试。
[0013]由此，本专利技术人凭借多年从事相关行业的经验与实践，提出一种闪烁体性能测试装置，以克服现有技术的缺陷。
技术实现思路
[0014]本专利技术的目的在于提供一种闪烁体性能测试装置，可完成对于闪烁体样品多种性能的测试，具有集成度高、成本低、功能多样的优点。
[0015]本专利技术的目的可采用下列方案来实现：
[0016]本专利技术提供了一种闪烁体性能测试装置，包括：
[0017]稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；
[0018]能旋转以调节角度的样品架；
[0019]能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端连接有光检测元件；
[0020]控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态，并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度，以形成不相同的测试光路。
[0021]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述稳态射线源包括高压发生器和第一射线光
管，所述高压发生器与所述第一射线光管之间连接有输电线，所述第一射线光管的出射端朝向所述样品架。
[0022]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述脉冲射线源包括脉冲激光器、第一反射镜和第二射线光管，所述脉冲激光器的出射端朝向所述第一反射镜，调节所述第一反射镜的角度，以使所述第一反射镜反射的光线射入至所述第二射线光管的入射端，所述第二射线光管的出射端朝向所述样品架。
[0023]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述透镜组至少包括用于对光线进行汇聚的第一透镜和第二透镜，所述第一透镜的入射端朝向所述样品架，所述第一透镜的出射端朝向所述第二透镜的入射端，所述第二透镜的出射端与所述集光光路相连。
[0024]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置包括轨道，所述移动台能滑动地设置于所述轨道上，所述移动台能沿所述轨道至少在第一位置与第二位置之间移动。
[0025]在本专利技术的一较佳实施方式中，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第一角度，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的透射发光性能的第一测试光路。
[0026]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置还包括第二反射镜；
[0027]调节所述移动台至所述第二位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第二角度，所述第二反射镜能接收所述闪烁体样品反射的光线并将所述反射的光线反射至所述透镜组的入射端，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述第二反射镜、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的反射发光性能的第二测试光路。
[0028]在本专利技术的一较佳实施方式中，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第三角度，以在所述脉冲射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的辐射衰减时间性能的第三测试光路。
[0029]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置还包括辐射剂量仪，所述辐射剂量仪设置于所述移动台上；
[0030]调节所述移动台至所述第二位置时，所述稳态射线源的出射端朝向所述辐射剂量仪的入射端，以在所述稳态射线源与所述辐射剂量仪之间形成用于对所述稳态射线源的辐射剂量进行检测的第四测试光路。
[0031]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置还包括成像相机和第三反射镜，所述第三反射镜能转动地设置于所述移动台上；
[0032]调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有像质计和闪烁体样品，并转动所述样品架至第一角度，所述第三反射镜能接收所述像质计和所述闪烁体样品透射的光线并将所述透射的光线反射至所述成像相机，以在所述稳态射线源、所述像质计、所述闪烁体样品、部分所述透镜组、所述第三反射镜和所述成像相机之间形成用于对所述闪烁体样品进行辐射成像的第五测试光路。
[0033]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置还包括温控台，所述温
控台替换所述样品架能转动地设置于所述样品架所在位置，所述温控台内设置有闪烁体样品，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的温度特性的第六测试光路。
[0034]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪烁体性能测试装置还包括屏蔽件和成像相机，所述屏蔽件上设置有准直器，所述准直器能移动地设置于所述稳态射线源的出射端，替换不同形状和/或大小的准直器，所述样品架上设置有闪烁体样品，并在所述闪烁体样品上投射不同的光斑，以在所述稳态射线源、所述准直器、所述闪烁体样品和成像相机之间形成对所述闪烁体样品进行微区分测量的第七测试光路。
[0035]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述屏蔽件包括电机、传动结构、第一连杆、安装件、滑动板和准直器，所述电机的输出轴通过所述传动结构与所述第一连杆的一端相连，所述传动结构将所述电机的转动转换为所述第一连杆的直线运动，所述第一连杆的另一端与所述滑动板相连，所述准直器设置于所述滑动板上；
[0036]所述安装件设置于所述稳态射线源的出射端，所述安装件上开设有透光孔，调节所述滑动板的位置，以使所述滑动板对所述透光孔进行封堵或使所述透光孔导通或使所述准直器对准所述透光孔。
[0037]在本专利技术的一较佳实施方式中，所述闪本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种闪烁体性能测试装置，其特征在于，包括：稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；能旋转以调节角度的样品架；能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端连接有光检测元件；控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态，并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度，以形成不相同的测试光路。2.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述稳态射线源包括高压发生器和第一射线光管，所述高压发生器与所述第一射线光管之间连接有输电线，所述第一射线光管的出射端朝向所述样品架。3.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述脉冲射线源包括脉冲激光器、第一反射镜和第二射线光管，所述脉冲激光器的出射端朝向所述第一反射镜，调节所述第一反射镜的角度，以使所述第一反射镜反射的光线射入至所述第二射线光管的入射端，所述第二射线光管的出射端朝向所述样品架。4.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述透镜组至少包括用于对光线进行汇聚的第一透镜和第二透镜，所述第一透镜的入射端朝向所述样品架，所述第一透镜的出射端朝向所述第二透镜的入射端，所述第二透镜的出射端与所述集光光路相连。5.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述闪烁体性能测试装置包括轨道，所述移动台能滑动地设置于所述轨道上，所述移动台能沿所述轨道至少在第一位置与第二位置之间移动。6.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第一角度，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的透射发光性能的第一测试光路。7.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述闪烁体性能测试装置还包括第二反射镜；调节所述移动台至所述第二位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第二角度，所述第二反射镜能接收所述闪烁体样品反射的光线并将所述反射的光线反射至所述透镜组的入射端，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述第二反射镜、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的反射发光性能的第二测试光路。8.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第三角度，以在所述脉冲射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的辐射衰减时间性能的第三测试光路...
【专利技术属性】
技术研发人员：王冰，闫高齐，石广立，赵怡然，
申请(专利权)人：北京卓立汉光仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：
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