一种五轴三维测量机制造技术

技术编号:24704366 阅读:85 留言:0更新日期:2020-06-30 23:31
本发明专利技术公开了一种五轴三维测量机,涉及测量加工技术领域,为解决现有技术中的传统接触式测量法采集点数量较少,同时以工件的固定精度低,导致检测时间过长的问题。所述工作机箱的上方设置有工作台板,且工作台板与工作机箱固定连接,所述工作台板的一侧设置有控制显示器,且控制显示器与工作台板通过支架连接,所述工作台板的上方设置有垂直平移杆,所述垂直平移杆的底部设置有电控滑轨,且电控滑轨与垂直平移杆组合连接,所述垂直平移杆的上方设置有X轴,且X轴与垂直平移杆滑动连接,所述X轴的一侧设置有Z轴,且X轴与Z轴滑动连接,所述Z轴的另一侧设置有B轴,且B轴与Z轴转动连接,所述B轴的外侧设置有激光位移传感器。

【技术实现步骤摘要】
一种五轴三维测量机
本专利技术涉及测量加工
,具体为一种五轴三维测量机。
技术介绍
坐标测量机是最有代表性的坐标测量仪器。坐标测量机中,以测量仪器的平台为参考平面建立机械坐标系,采集被测工件表面上的被测点的坐标值,并投射到空间坐标系中,构建工件的空间模型,坐标的概念源于解析几何。解析几何的基本思想是构建坐标系,将点与实数联系起来,进而可以将平面上的曲线用代数方程表示,而五轴三维测量机由5坐标高精度运动平台、高精度2D激光位移传感器、5轴运动控制系统、三维形貌建模等软硬件模块组成。各轴重复定位精度小于0.005mm,建模时间<1min。与传统接触式测量法相比,极大地提高了采集点数量以及缩短了工件检测时间,提高测量精度和效率。但是,现有的传统接触式测量法采集点数量较少,同时以工件的固定精度低,导致检测时间过长;因此,不满足现有的需求,对此我们提出了一种五轴三维测量机。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种五轴三维测量机,以解决上述
技术介绍
中提出的传统接触式测量法采集点数量较少,同时以工件的固定精度低,导致检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种五轴三维测量机,包括工作机箱(12),其特征在于:所述工作机箱(12)的上方设置有工作台板(9),且工作台板(9)与工作机箱(12)固定连接,所述工作台板(9)的一侧设置有控制显示器(1),且控制显示器(1)与工作台板(9)通过支架连接,所述工作台板(9)的上方设置有垂直平移杆(10),所述垂直平移杆(10)的底部设置有电控滑轨(11),且电控滑轨(11)与垂直平移杆(10)滑动连接,所述垂直平移杆(10)的上方设置有X轴(8),且X轴(8)与垂直平移杆(10)组合连接,所述X轴(8)的一侧设置有Z轴(7),且X轴(8)与Z轴(7)滑动连接,所述Z轴(7)的另一侧设置有B轴(6),且B...

【技术特征摘要】
1.一种五轴三维测量机,包括工作机箱(12),其特征在于:所述工作机箱(12)的上方设置有工作台板(9),且工作台板(9)与工作机箱(12)固定连接,所述工作台板(9)的一侧设置有控制显示器(1),且控制显示器(1)与工作台板(9)通过支架连接,所述工作台板(9)的上方设置有垂直平移杆(10),所述垂直平移杆(10)的底部设置有电控滑轨(11),且电控滑轨(11)与垂直平移杆(10)滑动连接,所述垂直平移杆(10)的上方设置有X轴(8),且X轴(8)与垂直平移杆(10)组合连接,所述X轴(8)的一侧设置有Z轴(7),且X轴(8)与Z轴(7)滑动连接,所述Z轴(7)的另一侧设置有B轴(6),且B轴(6)与Z轴(7)转动连接,所述B轴(6)的外侧设置有激光位移传感器(3),且激光位移传感器(3)与B轴(6)通过支架连接,所述激光位移传感器(3)的下方设置有EROWA卡盘(5),所述EROWA卡盘(5)的表面设置有EROWA夹具(13),且EROWA夹具(13)与EROWA卡盘(5)组合连接,所述EROWA卡盘(5)的底部设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员:王银昌王君武姚刚
申请(专利权)人:贵州安吉华元科技发展有限公司
类型:发明
国别省市:贵州;52

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