屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。所述方法包括：获取待检测屏幕的图像；对所获得的待检测屏幕的图像进行伽柏滤波，得到多个伽柏滤波图像；对所述多个伽柏滤波图像进行图像融合，得到融合图像；基于不同的灰度阈值对所述融合图像进行分割，根据分割后的所述融合图像进行缺陷检测，获得所述待检测屏幕中有缺陷的子像素；其中，所述灰度阈值的取值范围为所述融合图像的灰度值范围。本发明专利技术提出一种更加准确的屏幕检测方法，能够解决现有技术屏幕检测时缺陷判定结果不准确的问题。

Screen detection method, device, electronic equipment and computer readable storage medium

【技术实现步骤摘要】
屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
随着半导体工艺流程的日益复杂，液晶屏幕生产工艺对屏幕最终呈现的显示效果具有很大的影响，屏幕上的子像素缺陷会严重影响画面的视觉呈现。因此，在显示屏在制备完成后会对显示屏进行是否存在缺陷的检测，并且定位有缺陷的子像素的位置，以便于后续对上述有缺陷的子像素进行人工检查及分析等操作。现有技术的屏幕检测方法中，分割阈值范围的选取可能受到环境光强等因素影响，导致基于该分割阈值范围对待检测屏幕的图像进行缺陷判定时其判定结果不准确。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种屏幕的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，以解决现有技术屏幕检测时缺陷判定结果不准确的问题。基于上述目的，本专利技术实施例的第一个方面提供了一种屏幕的检测方法，包括：获取待检测屏幕的图像；对所获得的待检测屏幕的图像进行伽柏滤波，得到多个伽柏滤波图像；对所述多个伽柏滤波图像进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏幕的检测方法，其特征在于，包括：/n获取待检测屏幕的图像；/n对所获得的待检测屏幕的图像进行伽柏滤波，得到多个伽柏滤波图像；/n对所述多个伽柏滤波图像进行图像融合，得到融合图像；/n基于不同的灰度阈值对所述融合图像进行分割，根据分割后的所述融合图像进行缺陷检测，获得所述待检测屏幕中有缺陷的子像素；其中，所述灰度阈值的取值范围为所述融合图像的灰度值范围。/n

【技术特征摘要】
1.一种屏幕的检测方法，其特征在于，包括：
获取待检测屏幕的图像；
对所获得的待检测屏幕的图像进行伽柏滤波，得到多个伽柏滤波图像；
对所述多个伽柏滤波图像进行图像融合，得到融合图像；
基于不同的灰度阈值对所述融合图像进行分割，根据分割后的所述融合图像进行缺陷检测，获得所述待检测屏幕中有缺陷的子像素；其中，所述灰度阈值的取值范围为所述融合图像的灰度值范围。


2.根据权利要求1所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述对所获得的待检测屏幕的图像进行伽柏滤波，得到多个伽柏滤波图像包括：
对所获得的待检测屏幕的图像分别进行第一方向以及第二方向的伽柏滤波，得到第一伽柏滤波图像以及第二伽柏滤波图像，所述第一方向与所述第二方向垂直；其中，获得所述第一伽柏滤波图像的伽柏滤波器的波长为待检测屏幕的图像在第一方向上的子像素间隔，获得所述第二伽柏滤波图像的伽柏滤波器的波长为待检测屏幕的图像在第二方向上的子像素间隔。


3.根据权利要求1所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述对所述多个伽柏滤波图像进行图像融合，得到融合图像包括：
采用平方融合法对所述两个伽柏滤波图像进行图像融合，所述平方融合法的公式为，



其中，I表示所述融合图像中的灰度值，I1表示所述第一伽柏滤波图像的灰度值，I2表示所述第二伽柏滤波图像的灰度值。


4.根据权利要求1所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述基于灰度阈值对所述融合图像进行分割，根据分割后的所述融合图像进行缺陷检测，获得所述待检测屏幕中有缺陷的子像素包括：
基于每个灰度阈值对所述融合图像进行阈值分割，获得与所述灰度阈值一一对应的多个二值图像，基于所述多个二值图像获得缺陷区域；
获取所述缺陷区域的外包围多边形，对所述外包围多边形进行聚类计算，获得缺陷像素点；
对所述缺陷像素点进行缺陷判定，获得所述缺陷像素点的类别。


5.根据权利要求4所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述基于每个灰度阈值对所述融合图像进行阈值分割，获得与所述灰度阈值一一对应的多个二值图像，基于所述多个二值图像获得缺陷区域包括：
获取所述融合图像的最小灰度值以及最大灰度值；
在所述最小灰度值和最大灰度值之间按照预设的步长依次选取灰度阈值Mi，基于灰度阈值Mi对所述融合图像进行阈值分割得到二值图像Pi，其中i＝1,2,3,…m；
计算所述二值图像Pi中的连通区域的面积Aij，其中j＝1,2,3,…n；
对于灰度阈值Mi，判断每一个连通区域A(i+1)j的面积变化率dA(i+1)j与预设的面积变化阈值之间的关系，其中dA(i+1)j＝A(i+1)j-Aij，若所述面积变化率dA(i+1)j小于所述面积变化阈值，则所述连通区域为缺陷区域。


6.根据权利要求5所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述基于灰度阈值Mi对所述融合图像进行阈值分割得到二值图像Pi包括：
对于所述融合图像中的每一个像素点，判断其灰度值是否大于灰度阈值Mi，若是，将该像素点的灰度值设置为第一灰度值，否则设置为第二灰度值。


7.根据权利要求4所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述对所述缺陷像素点进行缺陷判定，获得所述缺陷像素点的类别包括：
获取所述外包围多边形的中心像素点的中心点灰度值以及各个边角像素点的边角点灰度值，并计算边角点灰度值的平均灰度值；
判断所述平均灰度值与所述中心点灰度值的关系，若所述平均灰度值小于所述中心点灰度值，则所述缺陷像素点为亮缺陷；若所述平均灰度值大于所述中心点灰度值，则所述缺陷像素点为暗缺陷。


8.根据权利要求1所述的屏幕的检测方法，其特征在于，所述对所述融合图像进行检测之前还包括：
以所述融合...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘小磊，楚明磊，陈丽莉，张浩，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11