一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面制造技术

本发明专利技术涉及超材料领域，提供了一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面，所述介质超表面包括：下层金属层、中间层衬底层、上层介质光栅以及上层共形化合物；所述下层金属层和所述中间层衬底层为自下而上复合形成；所述上层介质光栅呈周期性均匀分布在所述中间层衬底层上；所述上层共形化合物在通过预设角度的光源扫描时均匀涂覆在所述中间层衬底层和所述上层介质光栅表面。本发明专利技术实施例提供的基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面，在利用此介质表面进行痕量检测时，不但可以增加光和物质间的相互作用，还可以有效提高对物质的感知性能，提高了检测的精准度。

A dielectric hypersurface based on angle scanning enhanced infrared absorption

【技术实现步骤摘要】
一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面
本专利技术属于超材料领域，尤其涉及一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面。
技术介绍
在现实生活中，一些化合物从形态到结构上高度相似，肉眼难以区分，例如六方氮化硼(h-BN)、立方氮化硼(c-BN)，但是它们的作用和价值却相差甚远，因此，精准区分形态形似的化合物很有必要。同时还有一些无色透明的液体，诸如全氟聚醚，仅凭外观特征很难准确判断其成分，而进行成分分析又十分繁琐，因此，亟需一种简单方便的手段来进行分子检测。中红外光谱的光谱范围是2.5μm-25μm，由于分子的结构振动模式在中红外的光谱范围内具有不同的吸收指纹谱，因此中红外光谱可作为一种检测和识别各种分子类型的强大工具。近来对红外指纹检测的研究表明，根据朗伯比尔定律可以获得光的吸收特征，但在块状样品的检测过程中，振动信号会随着样品厚度的增加呈指数下降。尤其是在检测痕量物质时，由于样品厚度通常比中红外波长更小，在这种情况下光和物质间的相互作用非常微弱并且感知性能极低，不利于准确识别。
技术实现思路
<br>本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面，其特征在于，所述介质超表面包括：/n下层金属层、中间层衬底层、上层介质光栅以及上层共形化合物；/n所述下层金属层和所述中间层衬底层为自下而上复合形成；/n所述上层介质光栅呈周期性均匀分布在所述中间层衬底层上；/n所述上层共形化合物在通过预设角度的光源扫描时均匀涂覆在所述中间层衬底层和所述上层介质光栅表面。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于角度扫描增强红外光谱吸收的介质超表面，其特征在于，所述介质超表面包括：
下层金属层、中间层衬底层、上层介质光栅以及上层共形化合物；
所述下层金属层和所述中间层衬底层为自下而上复合形成；
所述上层介质光栅呈周期性均匀分布在所述中间层衬底层上；
所述上层共形化合物在通过预设角度的光源扫描时均匀涂覆在所述中间层衬底层和所述上层介质光栅表面。


2.如权利要求1所述的介质超表面，其特征在于，所述预设角度的角度范围为10°-65°。


3.如权利要求1所述的介质超表面，其特征在于，所述下层金属层、所述中间层衬底层、所述上层介质光栅构成超表面单元结构；其中，
所述下层金属层为金(Au)，所述中间层衬底层为氟化钙(CaF2)，所述上层介质光栅为硫化锌(ZnS)。


4.如权利要求1所述的介质超表面，其特征在于，在中红外光波段范围内，所述氟化钙(CaF2)的折射率范围为1.3-1.4，所述硫化锌(ZnS)的折射率范围为2.12-2.35。


5.如权利要求3所述的介质超表面，其特征在于，所述超表面单元结构由以下参数定...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱锦锋，谢奕浓，李法君，刘雪莹，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：福建;35