【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于一种岩矿光谱识别方法，具体涉及。
技术介绍
高光谱测量仪器的光谱分辨率高于百分之一波长达到纳米(nm)数量级，其光谱通道数多达数十甚至数百，它的这种独特性已经被成功地应用在植被生态环境、地质、土壤、大气和海洋等多个学科中，特别是在地质学领域中(地表物质分类、识别等方面)的应用更为广泛。在地质勘查时，高光谱测量对岩石出露程度较大的区域优势更为明显，效果更为关出。岩矿光谱特征产生的主要原因就是组成岩矿的内部离子与基团的晶体场效应与基团的振动。由于不同种矿物的晶体结构也是各不相同的，因此由晶格振动而产生的各种矿物光谱特性也是不一样的，从而可以利用此特征对矿物进鉴定。但是由于岩石光谱本质上是矿物的混合光谱，其光谱特征受成分、结构、构造和表面状态等因素的影响。鉴于野外地物环境条件的复杂、仪器噪声的影响以及岩石和周围土壤中有机质产生的各种效应等问题的存在，岩矿光谱曲线噪声比较大。岩矿光谱通常都应该包含一系列的特征吸收谱带，不同种类的岩矿光谱的这些特征谱带都应该是不相同的。这些特征吸收谱带在不同的矿物中具有较稳定的波长位置和波形，能够显示离子类矿物、单矿...
【技术保护点】
一种岩矿光谱特征吸收峰位置识别方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：步骤(1)光谱曲线的去噪预处理；步骤(2)岩矿表面反射率归一化；步骤(3)第二类特征点的选取；步骤(4)计算光谱曲线特征；步骤(5)光谱曲线吸收峰位置信息提取。
【技术特征摘要】
1.一种岩矿光谱特征吸收峰位置识别方法，其特征在于，该方法包括如下步骤: 步骤(1)光谱曲线的去噪预处理； 步骤(2)岩矿表面反射率归一化； 步骤(3)第二类特征点的选取； 步骤(4)计算光谱曲线特征； 步骤(5)光谱曲线吸收峰位置信息提取。2.根据权利要求1所述的一种岩矿光谱特征吸收峰位置识别方法，其特征在于:所述的步骤(1)具体包括以下步骤: 光谱曲线的离散的波段点，在前一个点的位置做切线，计算该切线的斜率K(1-l)=P (i)-p (?-2)/λ (?)-λ (1-2)； 根据斜率可以得到经过该点的切线方程Hi) =K(1-l)*X⑴+b; 如果该交点的值小于反射率，即 :r(i)〈P (i)，则取该点为真实曲线所经过点r(i)，即:P’ (i) =r(i)。反之，如果该交点的值大于反射率，即:r(i)>P (i)，则取反射率P (i)为无噪声曲线所经过的点。3.根据权利要求2所述的一种岩矿光谱特征吸收峰位置识别方法，其特征在于:所述的步骤(2)中的岩矿表面反射率归一化...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘洪成，叶发旺，张川，
申请(专利权)人：核工业北京地质研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11
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