传感器托架制造技术

在具备传感器罩并支承外界检测传感器的传感器托架中，使得传感器罩周围的维护作业容易，并且抑制产生向检测部侧的反射波。传感器罩(21)具备形成与检测空间(K1)面对的平坦状的底面(26a)的底面形成部(26)。从与底面(26a)的面宽度方向(X1)及面前后方向(Y1)正交的高度方向(Z1)观察，固定体(30)与分割体(40)之间的分割部(P1)将底面(26a)在面宽度方向(X1)上划分为包含光轴(CL3)的第一范围(H1)和避开光轴(CL3)的第二范围(H2)。第一范围(H1)配置成在高度方向(Z1)上与第二范围(H2)同一高度或比第二范围(H2)接近光轴(CL3)。

【技术实现步骤摘要】
传感器托架
本专利技术涉及传感器托架。
技术介绍
以往，在运输设备中，存在具备作为外界检测传感器的相机和将该相机支承于运输设备主体的托架的运输设备(例如，参照德国专利申请公开第102014224860号说明书)。托架形成有相机的镜头罩。镜头罩的底面部分呈根据镜头的视场角而越远离镜头则越增大左右宽度的末端扩宽的形态。镜头罩的底面部分能够相对于剩余的部分装卸，在维护时等能够进入镜头罩内。
技术实现思路
专利技术要解决的课题然而，近年的相机视角广，因此，要想使得像上述底面部分那样根据视场角而扩宽的部件能够装卸，装卸的部件会大型化，有可能难以进行传感器罩周围的维护作业。另外，根据装卸结构，也考虑在镜头罩内的表面产生凹凸的情况，若该凹凸具有朝向镜头侧的面，则会在镜头侧产生光等的漫反射，所以，在设置装卸结构时需要留意。于是，本专利技术的目的在于，在具备传感器罩并支承外界检测传感器的传感器托架中，使得传感器罩周围的维护作业容易，并且抑制产生向检测部侧的反射波。用于解决课题的方案本专利技术的一方案提供一种传感本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种传感器托架，其特征在于，/n所述传感器托架具备包围检测空间的传感器罩，所述检测空间从检测电磁波的外界检测传感器的检测部侧向检测方向延伸，且所述检测部的检测中心轴通过所述检测空间，/n所述传感器罩具备形成与所述检测空间面对的平坦状的表面的表面形成部，/n所述表面形成部具备包含所述表面的一部分的固定体和包含所述表面的其他部分且构成为相对于所述固定体能够分离的分割体，/n在将所述表面的俯视下与所述检测方向正交的方向设为面宽度方向，将所述表面的俯视下与所述面宽度方向正交的方向设为面前后方向，将与所述面宽度方向及所述面前后方向正交的方向设为高度方向时，/n从所述高度方向观察，所述固定体与所述分割...

【技术特征摘要】
20181218 JP 2018-2366231.一种传感器托架，其特征在于，
所述传感器托架具备包围检测空间的传感器罩，所述检测空间从检测电磁波的外界检测传感器的检测部侧向检测方向延伸，且所述检测部的检测中心轴通过所述检测空间，
所述传感器罩具备形成与所述检测空间面对的平坦状的表面的表面形成部，
所述表面形成部具备包含所述表面的一部分的固定体和包含所述表面的其他部分且构成为相对于所述固定体能够分离的分割体，
在将所述表面的俯视下与所述检测方向正交的方向设为面宽度方向，将所述表面的俯视下与所述面宽度方向正交的方向设为面前后方向，将与所述面宽度方向及所述面前后方向正交的方向设为高度方向时，
从所述高度方向观察，所述固定体与所述分割体之间的分割部将所述表面在所述面宽度方向上划分为包含所述检测中心轴的第一范围和避开所述检测中心轴的第二范围，
所述第一范围配置成在所述高度方向上与所述第二范围同一高度或比所述第二范围接近所述检测中心轴。


2.根据权利要求1所述的传感器托架，其中，
所述表面具备减少到达所述检测部的反射波的反射波减少结构。


3.根据权利要求1或2所述的传感器托架，其中，
所述表面的所述第一范围在所述表面的所述面宽度方向上位于比所述分割部靠内侧处，且由所述分割体构成。


4.根据权利要求1～3中任一项所述的传感器托架，其中，
所述固定体具备嵌合所述分割体而封闭的固定侧开口部，
所述分割体的外周部具备相对于所述固定侧开口部的内周部从所述表面形成部的与所述表面相反一侧的面即背面侧重叠的重叠部。


5.根据权利要求1～4中任一...

【专利技术属性】
技术研发人员：嵩井启太，大本高裕，斋藤康幸，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP