【技术实现步骤摘要】
一种SiCMOSFET有源驱动电路
本专利技术涉及一种SiCMOSFET有源驱动电路,属于电力电子
技术介绍
与Si(硅)相比,SiC(碳化硅)半导体的优点在于拥有更高的穿透电场,更大的导热率,更快的电子饱和速度和更低的固有载流子浓度,因此碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiCMOSFET)正广泛应用于高功率密度和高开关频率场合。理想情况下,SiCMOSFET可以更快地开关,并且可以在很大程度上降低总开关损耗,但是,在实际应用中,电路布局中存在的寄生电感和负载的寄生电容严重影响了SiCMOSFET的该优势,由于在寄生电感,设备和负载寄生电容之间形成了不同的LC网络,因此设备电压和电流会出现过冲和振荡,这种过冲和振荡会导致器件产生不希望的应力,并增加整体开关损耗,为了推广SiCMOSFET的应用,需要解决该问题。目前针对该问题,主要的解决方法有几种。一方面,可以通过增加驱动电阻阻值来缓解SiCMOSFET开关过程中出现的电流、电压过冲和振荡现象,但是增加驱动电阻阻值会延长SiCMOSFET的开关时间,同时 ...
【技术保护点】
1. 一种SiC MOSFET有源驱动电路,其特征在于,包括:驱动电路,电压采样电路,脉冲产生电路和电压注入电路;/n所述电压采样电路,用于采集SiC MOSFET开关过程中栅源极两端电压信号,并传输给脉冲产生电路;/n所述脉冲产生电路,用于根据接收到的电压信号产生脉冲信号,并传输给电压注入电路;/n所述电压注入电路,用于根据所述脉冲信号向驱动电路注入电压;/n所述驱动电路,用于产生SiC MOSFET开关所需的驱动电压。/n
【技术特征摘要】
1.一种SiCMOSFET有源驱动电路,其特征在于,包括:驱动电路,电压采样电路,脉冲产生电路和电压注入电路;
所述电压采样电路,用于采集SiCMOSFET开关过程中栅源极两端电压信号,并传输给脉冲产生电路;
所述脉冲产生电路,用于根据接收到的电压信号产生脉冲信号,并传输给电压注入电路;
所述电压注入电路,用于根据所述脉冲信号向驱动电路注入电压;
所述驱动电路,用于产生SiCMOSFET开关所需的驱动电压。
2.根据权利要求1所述的SiCMOSFET有源驱动电路,其特征在于,
所述电压采样电路包括开通电压采样电路和关断电压采样电路;其中,所述开通电压采样电路,用于采集SiCMOSFET开通过程中栅源极两端电压信号;所述关断电压采样电路,用于采集SiCMOSFET关断过程中栅源极两端电压信号;
所述脉冲产生电路包括开通脉冲产生电路和关断脉冲产生电路;其中,所述开通脉冲产生电路,用于接收开通电压采样电路采集的电压信号,并输出开通脉冲信号;所述关断脉冲产生电路,用于接收关断电压采样电路采集的电压信号,并输出关断脉冲信号;
所述电压注入电路包括开通电压注入电路和关断电压注入电路;其中,所述开通电压注入电路,用于接收开通脉冲产生电路输出的开通脉冲信号,并输出注入电压;所述关断电压注入电路,用于接收关断脉冲产生电路输出的关断脉冲信号,并输出注入电压。
3.根据权利要求2所述的SiCMOSFET有源驱动电路,其特征在于,所述驱动电路包括第一开关管Q1,第二开关管Q2,第一电阻R1,第二电阻R2,第三电阻R3,第四电阻R4,第一二极管D1,第二二极管D2,第一节点、第二节点、第三节点、第四节点,其中,所述第一开关管Q1集电极与Vcc供电电压相连,所述第一开关管Q1基极与所述第二开关管Q2基极相连,所述第一开关管Q1发射极与所述第一节点相连,所述第二开关管Q2发射极与所述第一节点相连,所述第二开关管Q2集电极与Vee供电电压相连,所述第一电阻R1一端与所述第一节点相连,所述第一电阻R1另一端与所述第二节点相连,所述第二电阻R2一端与所述第一节点相连,所述第二电阻R2另一端与所述第一二极管D1阳极相连,所述第一二极管D1阴极与所述第四节点相连,所述第三电阻R3一端与所述第一节点相连,所述第三电阻R3另一端与所述第三节点相连,所述第四电阻R4一端与所述第三节点相连,所述第四电阻R4另一端与所述第二二极管D2阴极相连,所述第二二极管D2阳极与所述第四节点相连,所述第四节点与SiCMOSFET栅极相连,其中Vcc是SiCMOSFET开通电压,Vee是SiCMOSFET关断电压。
4.根据权利要求3所述的SiCMOSFET有源驱动电路,其特征在于,所述开通电压采样电路包括第五电阻R5,第六电阻R6、第一电容C1和第五节点,其中,所述第五电阻R5一端与所述第四节点相连,所述第五电阻R5另一端与所述第五节点相连,所述第六电阻R6一端与所述第五节点相连,所述第六电阻R...
【专利技术属性】
技术研发人员:李先允,卢乙,倪喜军,王书征,何鸿天,
申请(专利权)人:南京工程学院,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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