【技术实现步骤摘要】
一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置
本专利技术属于航天器成像系统领域，涉及一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置。
技术介绍
当受到外界振源的激励时，系统可能产生受迫振动，对于精密制造业，航空，航天和武器装备等领域，振动超过一定程度可能会导致设备无法正常工作，因此需要进行振动试验，检测系统的振动响应。对于某些系统最为关注不同区域之间的相对振动，如航天器上的成像系统，最为关注光源经各级反射镜到成像焦平面的成像路径受振动的影响，目前应用的振动检测方法为光测法，通过布置模拟光源，搭建测试光路，在焦平面处布置激光位置敏感传感器，传感器所测光斑的像位移代表了整个成像系统的振动响应。这种测量手段只能得到整个成像光路的振动信息，而无法分析光路各部分的影响情况。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提出一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，既可以分析整个成像光路的振动，又可以分析各级反射镜的振动，成像系统具有较高的可设计性，所得图像的振动信息更加丰富。
【技术保护点】
1.一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：包括待测模型(1)、第二反射镜(2)、高平行度同轴光源(3)、第三反射镜(4)、第一反射镜(5)和高解析度相机(6)；其中，待测模型(1)为中空长方体结构；高平行度同轴光源(3)水平设置在待测模型(1)的侧壁处；待测模型(1)的侧壁对应高平行度同轴光源(3)的位置设置有通孔；实现高平行度同轴光源(3)发射的测试光通过通孔照射入待测模型(1)内；第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)设置在待测模型(1)内部；且第一反射镜(5)设置在与高平行度同轴光源(3)相对的待测模型(1)侧壁上，位置与测试光对应...
【技术特征摘要】
1.一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：包括待测模型(1)、第二反射镜(2)、高平行度同轴光源(3)、第三反射镜(4)、第一反射镜(5)和高解析度相机(6)；其中，待测模型(1)为中空长方体结构；高平行度同轴光源(3)水平设置在待测模型(1)的侧壁处；待测模型(1)的侧壁对应高平行度同轴光源(3)的位置设置有通孔；实现高平行度同轴光源(3)发射的测试光通过通孔照射入待测模型(1)内；第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)设置在待测模型(1)内部；且第一反射镜(5)设置在与高平行度同轴光源(3)相对的待测模型(1)侧壁上，位置与测试光对应；第二反射镜(2)设置在与第一反射镜(5)相对的待测模型(1)侧壁上；第三反射镜(4)设置在待测模型(1)的底板上；高解析度相机(6)竖直设置在待测模型(1)的顶部；且待测模型(1)顶部对应高解析度相机(6)位置设置有通孔；实现测试光依次经第一反射镜(5)反射、第二反射镜(2)反射、第三反射镜(4)反射后，到达高解析度相机(6)，高解析度相机(6)实现解析成像。
2.根据权利要求1所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述高平行度同轴光源(3)的距地高度为100-200mm；第一反射镜(5)的安装高度与高平行度同轴光源(3)高度对应，第一反射镜(5)与待测模型(1)竖直侧壁的夹角为α；第二反射镜(2)的安装高度为400-800mm，第二反射镜(2)与待测模型(1)竖直侧壁的夹角为β；第三反射镜(4)水平距第二反射镜(2)300-600mm；第三反射镜(4)与待测模型(1)水平底板的夹角为γ；3个夹角的关系满足：β+γ-α＝45°；且β＞2α。
3.根据权利要求2所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)为相同尺寸的圆形结构；且第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)的镜面上均贴有光吸收膜(7)；其中，光吸收膜(7)为弓形形状；光吸收膜(7)的半径与反射镜的半径对应；光吸收膜(7)的弧长为反射镜弧长的1/3。
4.根据权利要求3所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：设定第二反射镜(2)、第三反射...
【专利技术属性】
技术研发人员：王光远，高行素，檀傈锰，吴永胜，王晓姝，王泽宇，
申请(专利权)人：北京空间飞行器总体设计部，
类型：发明
国别省市：北京;11
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